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ZnGeP2的本征缺陷計(jì)算之PREPARE模塊運(yùn)行流程

鴻之微 ? 來源:鴻之微 ? 2023-05-19 10:29 ? 次閱讀

DASP (Defect and Dopant ab-initio Simulation Package)是一款半導(dǎo)體缺陷和雜質(zhì)性質(zhì)的第一性原理計(jì)算模擬軟件包,該軟件包能針對(duì)輸入的半導(dǎo)體晶體結(jié)構(gòu),基于材料基因組數(shù)據(jù)庫(kù)和第一性原理軟件包,自動(dòng)計(jì)算并輸出半導(dǎo)體的熱力學(xué)穩(wěn)定性,缺陷和雜質(zhì)形成能及離化能級(jí),半導(dǎo)體樣品中缺陷、雜質(zhì)和載流子濃度及費(fèi)米能級(jí),關(guān)鍵缺陷和雜質(zhì)誘導(dǎo)的光致發(fā)光譜、載流子輻射和非輻射俘獲截面及少子壽命。

針對(duì)任一半導(dǎo)體,DASP軟件可以計(jì)算給出如下性質(zhì):熱力學(xué)穩(wěn)定性、元素化學(xué)勢(shì)空間的穩(wěn)定范圍、缺陷(含雜質(zhì),下同)形成能、缺陷轉(zhuǎn)變能級(jí)、各生長(zhǎng)條件下的費(fèi)米能級(jí)、載流子和缺陷濃度、缺陷的光致發(fā)光譜、缺陷對(duì)載流子的俘獲截面、輻射和非輻射復(fù)合速率等。

本期將給大家介紹DASP ZnGeP2的本征缺陷計(jì)算 5.4.1.2-5.4.1.3 的內(nèi)容。

5.4.1.2. 使用DASP產(chǎn)生必要輸入文件

新建目錄ZnGeP2,在。/ZnGeP2/目錄內(nèi)同時(shí)準(zhǔn)備好以上的POSCAR文件與 dasp.in 文件,執(zhí)行 dasp 1 ,即可啟動(dòng)PREPARE模塊,此后無需額外操作。DASP會(huì)輸出 1prepare.out 文件記錄程序的運(yùn)行日志。

5.4.1.3. PREPARE模塊運(yùn)行流程

產(chǎn)生超胞:

首先程序?qū)⒏鶕?jù) min_atom=180 和 max_atom=200 的參數(shù),自動(dòng)尋找最優(yōu)的擴(kuò)胞方案(即盡量使a=b=c且a⊥b⊥c),并給出超胞的 POSCAR 文件。以下為ZnGeP2原胞擴(kuò)成的超胞 POSCAR_nearlycube :

0c2beb74-e6ab-11ed-ab56-dac502259ad0.png

得到的超胞結(jié)構(gòu)如下圖所示:

0c36adfc-e6ab-11ed-ab56-dac502259ad0.png

ZnGeP2的超胞結(jié)構(gòu)。

馬德隆常數(shù)計(jì)算:

隨后程序?qū)⒏鶕?jù)產(chǎn)生的超胞文件,執(zhí)行馬德隆常數(shù)的計(jì)算,用來描述點(diǎn)電荷與均勻背景電荷的庫(kù)倫相互作用。

以上兩步計(jì)算完成,可觀察 1prepare.out 的輸出如下(其中********表示該任務(wù)的計(jì)算id):

0c3ea930-e6ab-11ed-ab56-dac502259ad0.png

HSE交換參數(shù)計(jì)算:

程序?qū)⒏鶕?jù)產(chǎn)生的超胞文件,先做 AEXX=0.25 和 AEXX=0.3 的HSE靜態(tài)計(jì)算,從而根據(jù)斜率確定匹配 Eg_real = 2.06 的 AEXX 值。因此,待計(jì)算完成后,可見ZnGeP2/dec/AEXX/目錄內(nèi)如下:

0c574788-e6ab-11ed-ab56-dac502259ad0.png

這表明當(dāng) AEXX=0.27 (保留兩位小數(shù))時(shí),ZnGeP2超胞的帶隙值為2.06 eV,將參數(shù)寫入 INCAR。同時(shí)從 1prepare.out 可以看到如下日志(其中********表示該任務(wù)的計(jì)算id):

0c5d1622-e6ab-11ed-ab56-dac502259ad0.png

host超胞原子位置的優(yōu)化:

PREPARE模塊最后一步將根據(jù) level=2 (即PBE優(yōu)化)優(yōu)化超胞內(nèi)所有的原子位置。可見ZnGeP2/dec/relax目錄。同時(shí)也可以在 1prepare.out 可以DASP運(yùn)行結(jié)束的標(biāo)志,并告訴我們下一步需要做TSC模塊的計(jì)算(其中********表示該任務(wù)的計(jì)算id)。

0c7175cc-e6ab-11ed-ab56-dac502259ad0.png

編輯:黃飛

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原文標(biāo)題:產(chǎn)品教程丨ZnGeP2的本征缺陷計(jì)算( 準(zhǔn)備計(jì)算PREPARE02)

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