在《[射頻開關(guān)(RF Switch)基礎(chǔ)]》討論了高頻信號(hào)中信號(hào)衰減的發(fā)生方式和原因。它還討論了造成這種性能下降的兩個(gè)主要原因:線路中的功率耗散和傳輸線路中的反射引起的功率損耗。然而,迄今為止所有的討論和解釋都是從單個(gè)模塊的角度進(jìn)行的。在典型的射頻系統(tǒng)中,開關(guān)網(wǎng)絡(luò)由多個(gè)模塊和電纜組成。這些網(wǎng)絡(luò)可以用具有不同拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的模塊以多種布置方式構(gòu)建。要了解如何為您的 RF 系統(tǒng)設(shè)計(jì)最佳布置,了解不同的 RF 開關(guān)拓?fù)浞浅V匾?/p>
在討論可用拓?fù)浼捌鋵?duì)系統(tǒng)插入損耗和電壓駐波比 (VSWR) 規(guī)格的影響之前,讓我們回顧一下前一章中的關(guān)鍵概念。插入損耗是線路中發(fā)生的總功率損耗的累積量度。它是離開傳輸線的信號(hào)功率與進(jìn)入傳輸線的信號(hào)功率的對(duì)數(shù)比。傳輸線對(duì)特定頻率信號(hào)造成的電壓衰減和功率損耗可以使用其插入損耗規(guī)格來(lái)計(jì)算。下圖可在 NI PXI-2548 Quad SPDT Relay 模塊的規(guī)格文檔中找到,顯示其插入損耗性能。
使用該圖中的數(shù)據(jù),我們可以推導(dǎo)出開關(guān)在 2 GHz 1 Vp-p 1 W 正弦波上造成的功率損耗和電壓衰減為:
電力流失:
電壓衰減:
因此,上述信號(hào)通過(guò) NI PXI-2548 時(shí)的功率損耗為 0.09 W,電壓衰減為 0.046V。
電壓駐波比或 VSWR 是另一種規(guī)格,通常在 RF 開關(guān)的數(shù)據(jù)表或規(guī)格文件中列出。VSWR 是測(cè)量由于阻抗不匹配而在開關(guān)模塊中發(fā)生的信號(hào)反射。
由于 VSWR 和插入損耗累積提供有關(guān)傳輸線對(duì)信號(hào)造成的凈衰減的信息,因此在為您的應(yīng)用選擇合適的產(chǎn)品時(shí),它們都是需要考慮的重要規(guī)格。然而,了解射頻開關(guān)的 VSWR 和插入損耗有時(shí)是不夠的。RF 系統(tǒng)通常需要復(fù)雜的交換網(wǎng)絡(luò)來(lái)將信號(hào)從一個(gè)點(diǎn)路由到另一個(gè)點(diǎn)。
這些網(wǎng)絡(luò)通常不僅包括許多拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)可能不同的射頻開關(guān),而且還包括長(zhǎng)度不同的連接器和電纜。因此,為了最大限度地減少 RF 應(yīng)用中的信號(hào)衰減,設(shè)計(jì)高效的開關(guān)系統(tǒng)非常重要。這樣做需要深入了解射頻開關(guān)拓?fù)湟约叭绾螌⑺鼈兘M合起來(lái)構(gòu)建開關(guān)網(wǎng)絡(luò)。
--- 射頻開關(guān)拓?fù)?/strong>
存在的兩種主要射頻開關(guān)拓?fù)漕愋褪嵌嗦窂?fù)用器和通用繼電器??梢詫⑦@兩種射頻開關(guān)組合在一起,構(gòu)建大型復(fù)雜的開關(guān)網(wǎng)絡(luò)。
通用射頻繼電器模塊通常由 C 型 (SPDT) 繼電器組成,通常用于在 2 個(gè)地方之間路由信號(hào)。例如,如果需要使用射頻分析儀分析信號(hào),然后通過(guò)天線將其廣播到多個(gè)位置,則可以使用單個(gè) SPDT 中繼將其路由到兩個(gè)位置。
多路復(fù)用器是按順序?qū)⒍鄠€(gè)輸入路由到單個(gè)輸出或反之亦然的設(shè)備。多路復(fù)用器非常適合增加復(fù)雜且昂貴的儀器(例如射頻分析儀和發(fā)生器)的通道數(shù)。多路復(fù)用器有用的一個(gè)例子是在生產(chǎn)車間測(cè)試大量生產(chǎn)的 RF 設(shè)備(如手機(jī))的功能。假設(shè)這些設(shè)備以 100 個(gè)為一組進(jìn)行測(cè)試。在這種情況下,將射頻分析儀專用于測(cè)試每部手機(jī)的成本過(guò)高,因?yàn)檫@將需要 100 臺(tái)射頻儀器,其成本可能從幾每個(gè)幾千到幾十萬(wàn)。
進(jìn)行此測(cè)試的另一種方法是手動(dòng)將所有 100 個(gè)設(shè)備一次一個(gè)地路由到單個(gè) RF 儀器。雖然這條路線比擁有多個(gè)射頻儀器更實(shí)惠,但它會(huì)顯著增加測(cè)試時(shí)間。為該特定制造商設(shè)置的最佳測(cè)試設(shè)置是構(gòu)建一個(gè)自動(dòng)射頻測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)使用 100x1 多路復(fù)用器自動(dòng)將 100 部手機(jī)路由到射頻分析儀,射頻分析儀進(jìn)行測(cè)量并使用軟件以適當(dāng)?shù)姆绞酱鎯?chǔ)它。
通常,多路復(fù)用器可以使用多個(gè) SPDT 繼電器構(gòu)建。出于這個(gè)原因,多路復(fù)用器的插入損耗通常高于其 SPDT 對(duì)應(yīng)的插入損耗,因?yàn)槎嗦窂?fù)用器的插入損耗是包含在其中的單個(gè) SPDT 繼電器的插入損耗以及其插入損耗的總和。在這些 SPDT 繼電器之間路由信號(hào)的 PCB 走線。
可以看出,在上圖中,一個(gè)信號(hào)在PXI-2548通用射頻開關(guān)模塊中必須經(jīng)過(guò)的SPDT繼電器數(shù)量為1個(gè)。因此,該模塊的插入損耗幾乎等于 SPDT 繼電器本身的插入損耗。但是,對(duì)于 PXI-2547,信號(hào)必須通過(guò) 3 個(gè) SPDT 以及將這些 SPDT 連接在一起的 PCB 走線。因此,PXI-2547 的插入損耗將是每個(gè)單刀雙擲繼電器插入損耗的三倍以上。
當(dāng)今市場(chǎng)上有多種現(xiàn)成的 RF 通用和多路復(fù)用器開關(guān)模塊。這些現(xiàn)成的解決方案要么使用通常稱為“罐”的同軸開關(guān)構(gòu)建,要么使用印刷電路板 (PCB) 繼電器。同軸開關(guān)或“罐”在其機(jī)械外殼中包含整個(gè)射頻傳輸線。
另一方面,使用 C 型 (SPDT) PCB 繼電器構(gòu)建的模塊使用 PCB 走線連接焊接到 PCB 的各個(gè)繼電器。盡管使用 PCB 繼電器構(gòu)建的 RF 開關(guān)模塊成本較低,但它們通常比同軸開關(guān)具有更高的插入損耗和 VSWR 規(guī)格,因?yàn)樗鼈兪褂枚鄠€(gè)組件(即多個(gè) SPDT 繼電器、PCB 走線、焊料等)將輸入路由到單個(gè)輸出。
----如何選擇正確的拓?fù)?/strong>
如上所述,信號(hào)路徑越間接,傳輸線中的插入損耗就越大。這個(gè)概念不僅適用于每個(gè)單獨(dú)的開關(guān)模塊,也適用于開關(guān)系統(tǒng)??紤]一個(gè)示例,其中通過(guò)級(jí)聯(lián) 2 個(gè) PXI-2557 75Ω 2.5 GHz 8x1 多路復(fù)用器構(gòu)建了 16x1 多路復(fù)用器。該開關(guān)網(wǎng)絡(luò)的插入損耗將是每個(gè) PXI-2557 的插入損耗之和(它又是用于構(gòu)建 PXI-2557 的 SPDT 繼電器和 PCB 走線的插入損耗之和)和用于將它們連接在一起的電纜的插入損耗。圖 5 說(shuō)明了這個(gè)概念。
因此,為了最大限度地減少系統(tǒng)中的插入損耗,開關(guān)網(wǎng)絡(luò)必須促進(jìn)最短的信號(hào)路徑。
示例:設(shè)計(jì) 7x1 多路復(fù)用器
方法 1:級(jí)聯(lián) 2 個(gè) 4x1 多路復(fù)用器
構(gòu)建 4x1 多路復(fù)用器的一種方法是通過(guò)將第一個(gè)多路復(fù)用器的 COM 連接到第二個(gè)多路復(fù)用器的輸入通道來(lái)級(jí)聯(lián)兩個(gè) 4x1 多路復(fù)用器。這種設(shè)計(jì)存在一些重大缺陷,可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量和測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)嚴(yán)重差異。也許這種設(shè)計(jì)的最大缺點(diǎn)是信號(hào)路徑的長(zhǎng)度因通道而異。
例如,來(lái)自被測(cè)設(shè)備 (DU1) 1 的信號(hào)在到達(dá) RF 信號(hào)分析儀之前必須通過(guò) 4 個(gè) SPDT 繼電器。因此,DUT 1 信號(hào)路徑中的損耗將是所有 4 個(gè) SPDT 繼電器和連接兩個(gè)獨(dú)立模塊的電纜中發(fā)生的損耗之和。
另一方面,來(lái)自 DUT 7 的信號(hào)只需通過(guò) 2 個(gè) SPDT 繼電器,因此損失更少。除了通道間的插入損耗變化之外,信號(hào)反射也會(huì)不同。由于來(lái)自 DUT 1 的信號(hào)必須通過(guò)多個(gè)模塊和電纜,因此它也必須通過(guò)多個(gè)連接器傳播。因?yàn)檫B接器和電纜或開關(guān)模塊之間總是存在微小的阻抗差異,所以會(huì)發(fā)生反射。
信號(hào)必須通過(guò)的連接器數(shù)量越多,系統(tǒng)中的反射就越大。因此,上述系統(tǒng)的 DUT 1 上發(fā)生的反射將遠(yuǎn)大于 DUT 7 上的反射。因?yàn)樵趯?shí)際測(cè)試系統(tǒng)中,保持測(cè)試所有 DUT 的性能相同很重要,因此上述系統(tǒng)將不適用。由于來(lái)自 DUT 1 的信號(hào)必須通過(guò)多個(gè)模塊和電纜,因此它也必須通過(guò)多個(gè)連接器傳播。因?yàn)檫B接器和電纜或開關(guān)模塊之間總是存在微小的阻抗差異,所以會(huì)發(fā)生反射。信號(hào)必須通過(guò)的連接器數(shù)量越多,系統(tǒng)中的反射就越大。
因此,上述系統(tǒng)的 DUT 1 上發(fā)生的反射將遠(yuǎn)大于 DUT 7 上的反射。因?yàn)樵趯?shí)際測(cè)試系統(tǒng)中,保持測(cè)試所有 DUT 的性能相同很重要,因此上述系統(tǒng)將不適用。由于來(lái)自 DUT 1 的信號(hào)必須通過(guò)多個(gè)模塊和電纜,因此它也必須通過(guò)多個(gè)連接器傳播。因?yàn)檫B接器和電纜或開關(guān)模塊之間總是存在微小的阻抗差異,所以會(huì)發(fā)生反射。
信號(hào)必須通過(guò)的連接器數(shù)量越多,系統(tǒng)中的反射就越大。因此,上述系統(tǒng)的 DUT 1 上發(fā)生的反射將遠(yuǎn)大于 DUT 7 上的反射。因?yàn)樵趯?shí)際測(cè)試系統(tǒng)中,保持測(cè)試所有 DUT 的性能相同很重要,因此上述系統(tǒng)將不適用。
信號(hào)必須通過(guò)的連接器數(shù)量越多,系統(tǒng)中的反射就越大。因此,上述系統(tǒng)的 DUT 1 上發(fā)生的反射將遠(yuǎn)大于 DUT 7 上的反射。因?yàn)樵趯?shí)際測(cè)試系統(tǒng)中,保持測(cè)試所有 DUT 的性能相同很重要,因此上述系統(tǒng)將不適用。信號(hào)必須通過(guò)的連接器數(shù)量越多,系統(tǒng)中的反射就越大。因此,上述系統(tǒng)的 DUT 1 上發(fā)生的反射將遠(yuǎn)大于 DUT 7 上的反射。因?yàn)樵趯?shí)際測(cè)試系統(tǒng)中,保持測(cè)試所有 DUT 的性能相同很重要,因此上述系統(tǒng)將不適用。
方法 2:使用具有固有 8x1 拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的模塊
這種方法使用一個(gè)固有的 8x1 多路復(fù)用器來(lái)路由來(lái)自所有七個(gè) DUT 的信號(hào)。由于在這種情況下整個(gè)系統(tǒng)都包含在一個(gè)模塊中,因此最大限度地減少了外部電纜和額外連接器的使用。此外,源自 DUT 1 和 DUT 7 的信號(hào)將具有完全相同的路徑長(zhǎng)度。因此,對(duì)于這種設(shè)置,插入損耗和信號(hào)反射將是最小的。盡管始終建議盡可能使用固有拓?fù)?,但通常很難找到現(xiàn)成的大型多路復(fù)用器。
方法三:使用SPDT繼電器搭建7x1多路復(fù)用器
雖然這種構(gòu)建 7x1 多路復(fù)用器的方法不如使用固有的 8x1 多路復(fù)用器有效,就像過(guò)去的例子一樣,但它在設(shè)計(jì)上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于方法 1 中內(nèi)置的系統(tǒng)。這是因?yàn)樗褂昧?Quad SPDT 模塊將來(lái)自兩個(gè) 4x1 多路復(fù)用器的信號(hào)路由到 RF 信號(hào)分析儀。通過(guò)這樣做,交換網(wǎng)絡(luò)允許 7x1 多路復(fù)用器的每個(gè)通道上的路徑長(zhǎng)度相等。因此,雖然信號(hào)反射和插入損耗會(huì)比方法 2 中的系統(tǒng)高,但對(duì)于所有通道來(lái)說(shuō)都是一致的。
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拓?fù)?/span>
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