模擬集成電路包括運(yùn)算放大器、濾波器、電源管理電路、模擬開(kāi)關(guān)、PLL、射頻前端等,其典型參數(shù)包括泄漏電流、基準(zhǔn)電壓、阻抗、增益、靈敏度、紋波抑制、頻率或相位響應(yīng)、諧波、互調(diào)失真、串?dāng)_、信噪比、噪聲系數(shù)等。
與數(shù)字集成電路相比,模擬集成電路中的晶體管較少,其參數(shù)范圃是連續(xù)的,缺之良好的故障模型,不存在可拆分的子電路,測(cè)試儀器儀表的引腳負(fù)載、接口阻抗、噪聲等均會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差,因此模擬集成電路的測(cè)試更加困難。
下圖所示的是基于功能的模擬集成電路測(cè)試方法,該方法不需要故障模型,便于處理。由于模擬集成電路缺三良好的故障模型,且結(jié)構(gòu)模擬故障與功能映射并不理想,因此模擬集成電路結(jié)構(gòu)測(cè)試方法尚未得到廣泛應(yīng)用。
傳統(tǒng)的模擬集成電路測(cè)試方法存在參數(shù)多,測(cè)試時(shí)間長(zhǎng),激勵(lì)與響應(yīng)很難同步,噪聲處理復(fù)雜等問(wèn)題。隨著技術(shù)的進(jìn)步和軟硬件成本的降低,基于數(shù)宇信號(hào)處理器(DSP)的功能測(cè)試方法得以廣泛應(yīng)用。下圖所示的是基于DSP 的模擬集成電路測(cè)試架構(gòu)圖,其校心部件是任意波形發(fā)生器、波形數(shù)字化儀和 DSP。
基于DSP 的測(cè)試方法將模擬信號(hào)數(shù)字化,使得儀器串?dāng)_、噪聲、漂移大大減少;同時(shí),利用多次數(shù)字化采樣,提高了測(cè)試精度,重復(fù)性更好,是一種更佳的測(cè)試方案。但是,如果測(cè)試參數(shù)單一,其測(cè)試成本比傳統(tǒng)的高。
模擬集成電路的 DFT 和內(nèi)建自測(cè)試(BIST)設(shè)計(jì)比較滯后。IEEE 1149.4提出了一種針對(duì)模擬集成電路擴(kuò)充的邊界掃描方法,但目前尚無(wú)業(yè)界認(rèn)可的模擬信號(hào)性能測(cè)試的可行的方案。在模擬信號(hào) BIST 領(lǐng)域,需要投人更多的精力進(jìn)行研究,以降低對(duì)高性能復(fù)雜模擬自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATE)的需求。
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:模拉集成電路測(cè)試,類比積體電路測(cè)試, Analog IC Test
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