在廚房環(huán)境中,廚電脈沖點(diǎn)火高達(dá)一萬(wàn)五千伏,產(chǎn)生的干擾對(duì)MCU確實(shí)是一項(xiàng)硬核考驗(yàn),廚電設(shè)備的開(kāi)關(guān)、點(diǎn)火等操作會(huì)產(chǎn)生大量的電磁干擾,這些干擾可能會(huì)對(duì)MCU的正常工作造成影響,甚至導(dǎo)致系統(tǒng)故障或安全事故。
干擾測(cè)試必要性
評(píng)估廚電脈沖點(diǎn)火對(duì)其他電子設(shè)備的干擾水平
為設(shè)計(jì)人員提供改進(jìn)MCU設(shè)計(jì)以減少干擾的建議
符合產(chǎn)品安全標(biāo)準(zhǔn)要求
保障用戶的安全和權(quán)益
提高產(chǎn)品的可靠性和安全性
脈沖點(diǎn)火抗干擾測(cè)試
測(cè)試中,我們的產(chǎn)品在高達(dá)一萬(wàn)五千伏點(diǎn)火時(shí)仍能正常工作,沒(méi)有出現(xiàn)任何干擾或故障。這充分證明了我們的產(chǎn)品具有良好的抗干擾性能,能夠在各種惡劣的環(huán)境下正常工作,為客戶提供更加可靠的服務(wù)。
脈沖點(diǎn)火板實(shí)物圖
此次測(cè)試的成功通過(guò),不僅是對(duì)我們產(chǎn)品質(zhì)量的肯定,也是對(duì)我們研發(fā)團(tuán)隊(duì)的認(rèn)可。下一步,我們將進(jìn)一步完善產(chǎn)品的測(cè)試流程,加強(qiáng)對(duì)各種干擾因素的測(cè)試,確保產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。未來(lái),我們將繼續(xù)努力,不斷提高產(chǎn)品的質(zhì)量和性能,為客戶提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)。我們也將積極與客戶溝通,了解他們的需求和反饋,不斷優(yōu)化產(chǎn)品, 提升客戶滿意度。我們相信,通過(guò)不斷的努力和追求,我們的產(chǎn)品將會(huì)在市場(chǎng)上獲得更加廣泛的認(rèn)可和信任。
HK32F0301MxC產(chǎn)品特性
內(nèi)核:ARMCortex-M0
最高時(shí)鐘頻率:48MHz
存儲(chǔ):16 Kbyte Flash,4 Kbyte SRAM
外設(shè):支持2路高速UART、1路高速I2C、1路高速SPI、1個(gè)高級(jí)定時(shí)器、1個(gè)通用定時(shí)器、7路12位ADC
低功耗停機(jī)模式:6.876μA@5V
可靠性:通過(guò)HBM7000V、CDM2000V、LU800mA等級(jí)測(cè)試
工作電壓范圍:2.4V ~ 5.5V
工作溫度范圍:-40°C~ +105°C
編輯:黃飛
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原文標(biāo)題:HK32F0301MxC 15KV脈沖點(diǎn)火抗干擾實(shí)驗(yàn)分析
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