PbS膠體量子點(diǎn)(CQDs)由于具有帶隙寬、可調(diào)諧以及溶液可加工性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),已廣泛應(yīng)用于氣體傳感、太陽能電池、紅外成像、光電探測以及片上光源的集成光子器件中。然而PbS CQDs普遍存在發(fā)射效率低和輻射方向性差的問題,因此科學(xué)家們嘗試?yán)?a target="_blank">半導(dǎo)體等離子體納米晶或全介質(zhì)納米諧振腔來增強(qiáng)PbS CQDs的近紅外熒光發(fā)射,使其成為更高效、更快的量子發(fā)射器。但是普遍存在光場限制能力弱,Q值低的問題。
針對這些問題,近日中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所武愛民研究員團(tuán)隊(duì)與浙江大學(xué)金毅副教授團(tuán)隊(duì)合作在Nanophotonics發(fā)表最新文章,將BIC引入到PbS CQDs發(fā)光應(yīng)用中,提出了一種支持對稱保護(hù)BIC的硅超表面通過激發(fā)相鄰的高Q泄露導(dǎo)波模式來增強(qiáng)室溫下PbS CQDs的自發(fā)輻射的方案,實(shí)現(xiàn)了硅基量子點(diǎn)近紅外片上發(fā)光。
該超表面由亞波長尺寸的硅棒周期性排列而成(圖1a),結(jié)構(gòu)具有各向異性且與偏振相關(guān)。其反射率是入射光角度和波長的函數(shù),當(dāng)TE偏振激發(fā)時(shí),對稱保護(hù)型BIC會(huì)出現(xiàn)在布里淵區(qū)的Γ點(diǎn)處(圖1b),對應(yīng)的電場分布如圖1c所示?;诼鍌惼潝M合方法分別從仿真和實(shí)驗(yàn)反射譜中提取出Q值曲線(圖1d),兩者趨勢一致,且激發(fā)的高Q導(dǎo)波模式可以有效的增強(qiáng)量子點(diǎn)的發(fā)射。由圖1e的實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以看出,制備的超表面使包覆的PbS CQDs的熒光輻射顯著增強(qiáng),并且在波長1408 nm處的發(fā)射峰的Q值高達(dá)251。隨后,研究人員利用實(shí)驗(yàn)簡單演示了該系統(tǒng)的傳感潛力。將稀疏度為4/1000 μm2,直徑為60 nm的Au納米顆粒隨機(jī)分布在涂敷PbS CQDs的超表面頂部,通過與不含Au納米顆粒的樣品相比,PL峰從1408 nm紅移到1410 nm,且強(qiáng)度出現(xiàn)明顯的增強(qiáng)(圖1f)。該研究成果不僅為實(shí)現(xiàn)支持BIC的介電超表面可以有效地增強(qiáng)PbS CQDs的發(fā)射性能提供了設(shè)計(jì)指導(dǎo)與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,并為PbS CQDs在硅基片上光源和集成傳感器等各種實(shí)際應(yīng)用提供了新思路。
圖1:(a)硅超表面的結(jié)構(gòu)示意圖;(b)TE偏振激發(fā)時(shí),反射率是入射角和入射波長的函數(shù)。在Γ處形成了一個(gè)對稱保護(hù)型BIC,對應(yīng)波長為1391 nm;(c)對稱保護(hù)型BIC的Ey電場分布?;揖€表示結(jié)構(gòu)邊界;(d)與BIC相鄰的泄露導(dǎo)波模式在同一能帶上的Q值隨入射角度的變化。虛線為實(shí)驗(yàn)結(jié)果,實(shí)線為仿真結(jié)果。插圖為硅超表面的SEM圖像;(e)在同一塊SOI襯底表面旋涂PbS CQDs,超表面結(jié)構(gòu)區(qū)域(黑色曲線)和無結(jié)構(gòu)區(qū)域(紅色曲線)的實(shí)測PL譜。插圖為頂部涂敷PbS CQDs的超表面的SEM圖像;(f)在超表面結(jié)構(gòu)上引入隨機(jī)Au納米顆粒前(紅色曲線)和后(黑色曲線)的實(shí)測PL譜。插圖為表面隨機(jī)分布Au納米顆粒的頂部涂敷PbS CQDs的超表面的SEM圖像。
研究團(tuán)隊(duì)提出的基于BIC超表面增強(qiáng)PbS CQDs近紅外發(fā)射的新方法,是一種普適、高效、功能廣泛的方法。該方法證明了BIC系統(tǒng)在熒光增強(qiáng)方面的有效性,它是提高PbS膠體量子點(diǎn)在光源和熒光傳感器等各種應(yīng)用中的最好選擇之一。通過提高制造精度或者合并的BIC可以進(jìn)一步提高增強(qiáng)效果,并且可以通過改變幾何尺寸來調(diào)節(jié)工作波長。這種無源超表面結(jié)構(gòu)可以在商用CMOS平臺(tái)上以簡單的工藝制造,因此它可以結(jié)合到硅光子集成中,用于硅基片上光源以及熒光傳感器,在多通道通信,近場傳感和紅外成像等領(lǐng)域都有廣闊的應(yīng)用前景。
責(zé)任編輯:彭菁
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原文標(biāo)題:上海微系統(tǒng)所在硅基膠體量子點(diǎn)片上發(fā)光取得重要進(jìn)展
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