10.9.5 低功耗測(cè)試∈《集成電路產(chǎn)業(yè)全書》
Power-aware Testing
審稿人：北京大學(xué) 馮建華
審稿人：北京大學(xué) 張興 蔡一茂
https://www.pku.edu.cn
10.9先進(jìn)表征技術(shù)與測(cè)試技術(shù)
第10章 集成電路基礎(chǔ)研究與前沿技術(shù)發(fā)展
《集成電路產(chǎn)業(yè)全書》下冊(cè)
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集成電路
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設(shè)計(jì)的，其功能是固定的，不可更改。它被廣泛應(yīng)用于領(lǐng)域特定的電子系統(tǒng)中，如移動(dòng)通信、家電、汽車電子和醫(yī)療設(shè)備等。專用集成電路由于針對(duì)特定應(yīng)用進(jìn)行高度定制，因此可以提供高度集成的解決方案，可以最大程度地優(yōu)化性能和功耗。 專用
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的性能、更低的功耗和更好的集成度。本文將從定義、設(shè)計(jì)流程、主要應(yīng)用領(lǐng)域以及發(fā)展趨勢(shì)等方面對(duì)專用集成電路進(jìn)行詳細(xì)闡述。 一、定義 專用集成電路是根據(jù)特定的應(yīng)用需求進(jìn)行設(shè)計(jì)和制造的一種
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