Conductive Atomic Force Microscope(CAFM)
審稿人:北京大學(xué) 張嘉陽
審稿人:北京大學(xué) 王潤聲
https://www.pku.edu.cn
10.9先進(jìn)表征技術(shù)與測試技術(shù)
第10章 集成電路基礎(chǔ)研究與前沿技術(shù)發(fā)展
《集成電路產(chǎn)業(yè)全書》下冊
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
集成電路
+關(guān)注
關(guān)注
5378文章
11330瀏覽量
360492 -
顯微鏡
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
532瀏覽量
22962
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
共聚焦激光顯微鏡對比超分辨顯微鏡
顯微鏡技術(shù)的發(fā)展極大地推動了科學(xué)研究的進(jìn)步,尤其是在細(xì)胞生物學(xué)和納米科學(xué)領(lǐng)域。共聚焦激光顯微鏡(CLSM)和超分辨顯微鏡作為兩種重要的顯微成像技術(shù),它們各自具有獨(dú)特的優(yōu)勢和應(yīng)用場景。
開爾文探針力顯微鏡檢測的是什么信號
開爾文探針力顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡,主要用于表面電荷和電勢的測量。它基于原子
顯微鏡下芯片PAD面發(fā)藍(lán)
在顯微鏡下,觀察到芯片的PAD面發(fā)藍(lán),一般是什么原因?qū)е碌哪兀?做了切片和EDX,并無異常。
發(fā)表于 08-23 14:04
照明顯微鏡激光引擎
Coherent CellX 是一款專為顯微鏡而設(shè)計(jì)的通用型光引擎(現(xiàn)在配有光纖傳輸系統(tǒng))。 顯微鏡很像一種藝術(shù)形式,向生物樣品傳遞適量的能量代表一種脆弱的平衡。能量太少,細(xì)節(jié)可能會被隱藏。能量太多
致真精密儀器自主研發(fā)的原子力顯微鏡系列產(chǎn)品重磅發(fā)布!
5月24 - 26日,在首屆“科學(xué)儀器開發(fā)者大會”上,致真精密儀器自主研發(fā)的原子力顯微鏡系列產(chǎn)品重磅發(fā)布!此次發(fā)布的產(chǎn)品包括
共聚焦、光學(xué)顯微鏡與測量顯微鏡的區(qū)分
共聚焦顯微鏡是一種光學(xué)顯微鏡,也可以被稱為測量顯微鏡。在它用于精確測量樣品的尺寸、形狀、表面粗糙度或其他物理特性時(shí),能夠提供非常精確的三維形貌圖像,這使得它成為測量樣品表面特征的強(qiáng)大工具。共聚
發(fā)表于 05-14 10:43
?3次下載
顯微成像與精密測量:共聚焦、光學(xué)顯微鏡與測量顯微鏡的區(qū)分
共聚焦顯微鏡是一種光學(xué)顯微鏡,也可以被稱為測量顯微鏡。能夠進(jìn)行二維和三維成像,是光學(xué)顯微鏡技術(shù)中較為先進(jìn)的一種;因其高精度的三維成像能力,也常被用作一種高級的測量
共聚焦顯微鏡和激光共聚焦顯微鏡的區(qū)別詳解
兩者在細(xì)節(jié)和特性上存在差異。1、原理上的差別:共聚焦顯微鏡基于共焦原理的顯微鏡技術(shù),是一種使用了透鏡系統(tǒng)將樣品的不同焦深處的光聚焦到同一焦點(diǎn)上。這種聚焦方式能夠減少背景噪音,提高圖像的清晰度和對比度
發(fā)表于 04-16 10:40
?0次下載
原子力顯微鏡AFM測試與案例分享
主要功能及特色: 原子力顯微鏡(atomic force microscope,簡稱AFM)利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細(xì)探針受品原子之間的作用力,從而達(dá)到檢測的目的,具有
教你該如何操作體視顯微鏡
陽一科技體視顯微鏡也稱解刨顯微鏡,是微量物證檢驗(yàn)常用的儀器。主要用于痕跡檢驗(yàn)、文件檢驗(yàn)中的細(xì)小物證,如指紋、工具、文字的顯微觀察和分析檢驗(yàn)。體視顯微鏡主要操作有:調(diào)焦,視度調(diào)節(jié),瞳距調(diào)
顯微鏡的結(jié)構(gòu)和使用方法 顯微鏡分為哪三個(gè)部分
顯微鏡是一種用于放大觀察微小物體的光學(xué)儀器。它通過對物體的光線進(jìn)行放大和調(diào)節(jié),使我們能夠看到肉眼無法觀察到的微小細(xì)節(jié)。顯微鏡廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、工程和材料科學(xué)等領(lǐng)域。為了更好地理解顯微鏡的結(jié)構(gòu)
【應(yīng)用案例】掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM
掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM 掃描近場光學(xué)顯微鏡(scanning near-field optical microscopy, SNOM),能在納米尺度上探測樣品的光學(xué)信息,打破了長久以來經(jīng)典(或遠(yuǎn)
共聚焦顯微鏡應(yīng)用特點(diǎn)
共聚焦顯微鏡具有高分辨率和高靈敏度的特點(diǎn),適用于多種不同樣品的成像和分析,能夠產(chǎn)生結(jié)果和圖像清晰,易于分析。這些特性使共聚焦顯微鏡成為現(xiàn)代科學(xué)研究中的重要工具,同時(shí)為人們解析微觀世界提供了一種強(qiáng)大
發(fā)表于 11-21 09:21
?0次下載
評論