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助力第三代半導體可靠性 | 廣電計量出席2022白石山第三代半導體峰會

廣電計量 ? 2022-08-11 15:57 ? 次閱讀

2022年8月6日,由保定市人民政府、河北省科學技術(shù)協(xié)會、河北省發(fā)展和改革委員會、河北省工業(yè)信息化廳、河北省科學技術(shù)廳、第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟聯(lián)合主辦,保定國家高新區(qū)管委會、保定市科學技術(shù)協(xié)會、保定市發(fā)展和改革委員會、保定市工業(yè)和信息化局、保定市科學技術(shù)局、淶源縣人民政府承辦的2022白石山第三代半導體峰會在河北淶源順利召開。

中國科學院院士、中國科學院副院長、中國科學院大學黨委書記、校長李樹深,中國科學院院士、北京大學教授甘子釗,中國工程院院士、清華大學教授羅毅等院士專家;河北省政府黨組成員、副省長胡啟生領(lǐng)銜的省直部門及央企領(lǐng)導;中國國電集團公司原副總經(jīng)理、黨組成員張成杰, 國家新材料產(chǎn)業(yè)發(fā)展專家咨詢委員會委員、第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟理事長吳玲,北京大學理學部副主任、寬禁帶半導體研究中心主任、CASA副理事長沈波, CASA副理事長兼秘書長、中科院半導體所原副所長楊富華,以及其他來自相關(guān)政府部門、科研院校、企業(yè)的領(lǐng)導與技術(shù)專家通過線上、線下的方式參與了開幕式。

保定市委副書記、市政府市長閆繼紅主持峰會開幕式。廣電計量作為第三代半導體檢測領(lǐng)域的重要參與者,受邀參與此次活動并做主題演講。

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技術(shù)專家與嘉賓發(fā)言

白石山第三代半導體峰會始于2021年,是由保定市人民政府和第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟共同發(fā)起、在保定淶源打造的高端峰會,為政府、專家學者、企業(yè)搭建了共商第三代半導體技術(shù)應(yīng)用、投資以及發(fā)展相關(guān)問題的高層對話平臺。本次會議以“同‘芯’共贏”為主題,瞄準國家重大戰(zhàn)略需求及產(chǎn)業(yè)鏈需求,結(jié)合推進碳中和及發(fā)展新興產(chǎn)業(yè)的要求,探討第三代半導體技術(shù)與應(yīng)用。

廣電計量在第三代半導體領(lǐng)域構(gòu)筑了較為全面的檢測能力,具備豐富的檢測經(jīng)驗。作為第三方檢測機構(gòu)代表,廣電計量元器件篩選與失效分析中心總監(jiān)、第三代半導體技術(shù)副總監(jiān)李汝冠博士向與會嘉賓做《第三代半導體功率器件檢測技術(shù)發(fā)展》報告,詳細闡述了Si基器件標準應(yīng)用于第三代半導體檢測情況以及第三代半導體器件檢測新需求。他指出,第三代半導體優(yōu)勢明顯、應(yīng)用廣泛,是半導體行業(yè)發(fā)展的核心方向,如何應(yīng)用新的方式對第三代半導體進行質(zhì)量及可靠性的評估與準確測量,是未來第三方檢測行業(yè)的重要機遇和挑戰(zhàn)。

基于廣電計量豐富的第三代半導體器件檢測經(jīng)驗,李汝冠提出基于傳統(tǒng)半導體的檢測技術(shù)及檢測標準(如AEC-Q101)進行直接應(yīng)用,以暴露第三代半導體器件的薄弱環(huán)節(jié);并依據(jù)第三代半導體的特殊性,引入針對第三代半導體器件的測試方法,如SiCMOS的柵極氧化層可靠性測試、偏壓溫度不穩(wěn)定性測試、體二極管雙極性退化測試、閾值電壓測試、GaNHEMT的動態(tài)導通電阻測試等方法。同時,針對第三代半導體器件的測試方法,需增加動態(tài)應(yīng)力試驗,以觸發(fā)在遵循標準的靜態(tài)試驗中觀察不到的失效機制,為第三代半導體企業(yè)的可靠性檢測提供了重要的思路建議。

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廣電計量技術(shù)專家做主題報告

北京大學東莞光電研究院院長、北大寬禁帶半導體研究中心原主任張國義,中國科學院半導體所黨委副書記、紀委書記樊志軍,中國科學院半導體研究所副所長張韻,國家第三代半導體技術(shù)創(chuàng)新主任張魯川,國基北方總經(jīng)理、十三所常務(wù)副所長崔玉新,科技部火炬中心高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)發(fā)展處副處長陳彥等專家代表也參與了此次活動。51萬余人次在線觀看了峰會直播。

第三代半導體在新基建七大領(lǐng)域都有其廣泛的應(yīng)用前景。黨中央、國務(wù)院高度重視第三代半導體發(fā)展,將其列入國家重點規(guī)劃和科技專項支持。而檢測是提高半導體器件質(zhì)量與可靠性的重要保障。廣電計量作為國有第三方檢測機構(gòu),在我國第三代半導體發(fā)展過程中,秉承國企擔當,在光電子、電力電子微波射頻等第三代半導體三大應(yīng)用領(lǐng)域構(gòu)筑了較為全面的檢測能力。

公司在第三代半導體檢測領(lǐng)域(SiC、GaN)合作客戶20余家,檢測樣品數(shù)量百批次、數(shù)量數(shù)萬只。其中在光電子檢測領(lǐng)域合作客戶數(shù)十家,涉及型號近百個;在電力電子領(lǐng)域,覆蓋了現(xiàn)行所有可靠性測試標準,單在SiC領(lǐng)域合作客戶十余家,是國內(nèi)SiC檢測知名度廣、技術(shù)能力最全面的第三方檢測機構(gòu)之一;在微波射頻領(lǐng)域,助力完成國內(nèi)第一個車規(guī)標準的微波射頻的測試,并向更高頻率、更高功率領(lǐng)域布局。

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