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【干貨】電源的可靠性測(cè)試,你知道幾個(gè)?

森木磊石 ? 2022-08-16 09:43 ? 次閱讀

電源的可靠性在很大程度上會(huì)影響到設(shè)備的可靠性,也可以說(shuō)電源的可靠性是一切參數(shù)、性能保證的前提。今天讓我們一起來(lái)了解一下電源的9大可靠性測(cè)試!

反復(fù)短路測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明:

在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路,模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮,反復(fù)多次短路,故障排除后,模塊應(yīng)該能自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行。

測(cè)試方法:

a、空載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從空載到短路,模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊反復(fù)從空載到短路不斷的工作,短路時(shí)間為1s,放開時(shí)間為1s,持續(xù)時(shí)間為2小時(shí)。這以后,短路放開,判斷模塊是否能夠正常工作;

b、滿載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從滿載到短路,模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊從滿載到短路然后保持短路狀態(tài)2小時(shí)。然后短路放開,判斷模塊是否能夠正常工作;

c、短路開機(jī):將模塊的輸出先短路,再上市電,再模塊的輸入電壓范圍內(nèi)上電,模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)正常的限流或回縮,短路故障排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作,重復(fù)上述試驗(yàn)10次后,讓短路放開,判斷模塊是否能夠正常工作。

判定標(biāo)準(zhǔn):

上述試驗(yàn)后,電源模塊開機(jī)能正常工作;開機(jī)殼檢查,電路板及其他部分無(wú)異?,F(xiàn)象(如輸入繼電器在短路的過(guò)程中觸電是否粘住了等),合格;否則不合格。

反復(fù)開關(guān)機(jī)測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明:

電源模塊輸出帶最大負(fù)載情況下,輸入電壓分別為220v,(輸入過(guò)壓點(diǎn)-5v)和(輸入欠壓點(diǎn)+5v)條件下,輸入反復(fù)開關(guān),測(cè)試電源模塊反復(fù)開關(guān)機(jī)的性能。

測(cè)試方法:

a、輸入電壓為220v,電源模塊快帶最大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開5s(或者可以用ac source進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作;

b、輸入電壓為過(guò)壓點(diǎn)-5v,電源模塊帶最大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開5s(或者可以用ac source進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作;

c、輸入電壓為欠壓點(diǎn)-5v,電源模塊帶最大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開5s(或者可以用ac source進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作。

判斷標(biāo)準(zhǔn):

以上試驗(yàn)中,電源模塊工作正常,試驗(yàn)后電源模塊能正常工作,性能無(wú)明顯變化,合格;否則不合格。

輸入低壓點(diǎn)循環(huán)測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明:

一次電源模塊的輸入欠壓點(diǎn)保護(hù)的設(shè)置回差,往往發(fā)生以下情況:輸入電壓較低,接近一次電源模塊欠壓點(diǎn)關(guān)斷,帶載時(shí)欠壓,斷后,由于電源內(nèi)阻原因,負(fù)載卸掉后電壓將上升,可能造成一次電源模塊處于在低壓時(shí)反復(fù)開發(fā)的狀態(tài)。

測(cè)試方法:

電源模塊帶滿載運(yùn)行,輸入電壓從(輸入欠壓點(diǎn)-3v)到(輸入欠壓點(diǎn)+3v)緩慢變化,時(shí)間設(shè)置為5~8分鐘,反復(fù)循環(huán)運(yùn)行,電源模塊應(yīng)能正常穩(wěn)定工作,連續(xù)運(yùn)行最少0.5小時(shí),電源模塊性能無(wú)明顯變化。

判定標(biāo)準(zhǔn):

一次電源模塊正常連續(xù)運(yùn)行,最少0.5小時(shí)后性能無(wú)明顯變化,合格;否則不合格。

輸入瞬態(tài)高壓測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明:

pfc電路采用平均值電路進(jìn)行過(guò)欠壓保護(hù),因此在輸入瞬態(tài)高壓時(shí),pfc電路可能會(huì)很快實(shí)現(xiàn)保護(hù),從而造成損壞,測(cè)試一次電源模塊在瞬態(tài)情況下的穩(wěn)定運(yùn)行能力以評(píng)估可靠性。

測(cè)試方法:

a、額定電壓輸入,用雙蹤示波器測(cè)試輸入電壓波形合過(guò)壓保護(hù)信號(hào),輸入電壓從限功率點(diǎn)加5v跳變?yōu)?00v,從示波器上讀出過(guò)壓保護(hù)前300v的周期數(shù)n,作為以下試驗(yàn)的依據(jù);

b、額定輸入電壓,電源模塊帶滿載運(yùn)行,在輸入上疊加300v的電壓跳變,疊加的周期數(shù)為(n-1),疊加頻率為1次/30s,共運(yùn)行3小時(shí)。

判定標(biāo)準(zhǔn):

一次電源模塊在上述條件下能夠穩(wěn)定運(yùn)行,不出現(xiàn)損壞或其他不正?,F(xiàn)象,合格;否則不合格。

輸入電壓跌落及輸出動(dòng)態(tài)負(fù)載

測(cè)試說(shuō)明:

一次模塊在實(shí)際使用過(guò)程中,當(dāng)輸入電壓跌落時(shí),電源模塊突加負(fù)載的極限情況是可能發(fā)生的,此時(shí)功率器件、磁性元件工作在最大瞬態(tài)電流狀態(tài),試驗(yàn)可以檢驗(yàn)控制時(shí)序、限流保護(hù)等電路及軟件設(shè)計(jì)的合理性。

測(cè)試方法:

a、將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點(diǎn)+5v(持續(xù)時(shí)間為5s)、過(guò)壓點(diǎn)-5v(持續(xù)時(shí)間為5s)之間跳變,輸出調(diào)整在最大負(fù)載(最大額定容量,持續(xù)時(shí)間為500ms)、空載(持續(xù)時(shí)間為500ms)之間跳變,運(yùn)行1小時(shí);

b、將輸入電壓調(diào)整為欠壓點(diǎn)+5v(持續(xù)時(shí)間為5s)、過(guò)壓點(diǎn)-5v(持續(xù)時(shí)間為5s)之間跳變,輸出調(diào)整在最大負(fù)載(最大額定容量,持續(xù)時(shí)間為1s)、空載(持續(xù)時(shí)間為500ms)之間跳變,運(yùn)行1小時(shí)。

判定標(biāo)準(zhǔn):

在上述條件下,應(yīng)能穩(wěn)定運(yùn)行,不出現(xiàn)損壞或其他不正常現(xiàn)象,合格;否則不合格。若出現(xiàn)損壞情況,記錄故障問(wèn)題,以提供分析損壞原因的依據(jù)。

高壓空載,低壓限流態(tài)運(yùn)行實(shí)驗(yàn)

測(cè)試說(shuō)明:

高壓空載運(yùn)行是測(cè)試模塊的損耗情況,尤其是帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊,在空載情況下,軟開關(guān)變?yōu)橛查_關(guān),模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運(yùn)行是測(cè)試模塊在最大輸入電流時(shí),模塊的損耗情況,通常狀態(tài)下,模塊在低壓輸入、滿載輸出時(shí),效率最低,此時(shí)模塊的發(fā)熱最為嚴(yán)重。

測(cè)試方法:

a、將模塊的輸入電壓調(diào)整為輸入過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)-3v,模塊的輸出為最低輸出電壓,空載運(yùn)行,此時(shí),模塊的占空比為最小,連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)損壞;

b、將模塊的輸入電壓調(diào)整為欠壓點(diǎn)+3v,模塊的輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),此時(shí)模塊的占空比為最大,連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞;

c、將模塊的輸入電壓調(diào)整為效率最低點(diǎn)時(shí)的輸入電壓,模塊輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)損壞;

d、將模塊的輸入電壓調(diào)整為過(guò)壓點(diǎn)-3v,模塊的輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),此時(shí)模塊的占空比為最大,連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞;

e、將模塊的輸入電壓調(diào)整為效率最低點(diǎn)時(shí)的輸入電壓,模塊輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)損壞。

注意:上述的測(cè)試,必須在規(guī)格書規(guī)定的最高工作溫度下進(jìn)行。

判定標(biāo)準(zhǔn):

在上述條件下工作,模塊沒(méi)有出現(xiàn)損壞,合格;否則不合格。

電源特殊波形試驗(yàn)

測(cè)試說(shuō)明:

檢驗(yàn)電源模塊在電網(wǎng)波形畸變可能形成的尖鋒、毛刺和諧波情形下穩(wěn)定運(yùn)行能力。以下幾種波形必須輸入進(jìn)行試驗(yàn):

(1)毛刺輸入測(cè)試波形

電網(wǎng)的毛刺是電網(wǎng)中最常見(jiàn)的波形,毛刺的大小和幅值并沒(méi)有限值,一般情況下,通過(guò)振蕩波輸入測(cè)試和振鈴輸入波形,基本上可以模擬電網(wǎng)中的毛刺輸入,但還需做以下毛刺輸入試驗(yàn)。

特點(diǎn):電網(wǎng)尖鋒有過(guò)沖并會(huì)跌落到0v,過(guò)沖和跌落脈寬很窄,一般不會(huì)大于100ms,過(guò)沖幅度一般不超過(guò)100v。跌落的相位并不僅只限于峰值點(diǎn),在任何相位都有可能發(fā)生。這種波形在實(shí)際電網(wǎng)中很常見(jiàn),開通任何開關(guān)都會(huì)造成該現(xiàn)象。

(2)電壓削波波形輸入

這種波形也是電網(wǎng)中很常見(jiàn)的,特點(diǎn)是:電網(wǎng)從不定的相位突然跌落到0v,然后直到下個(gè)半波開始才恢復(fù)。在iec1004-4-11中對(duì)于波形的跌落是從大于半個(gè)周期開始的,但實(shí)際電網(wǎng)中還是存在很多類似的跌落時(shí)間小于半個(gè)周期的波形。測(cè)試時(shí)要求,輸入電壓波形從90度開始跌落,跌落1/4個(gè)周期,長(zhǎng)時(shí)間工作2小時(shí)。

(3)電網(wǎng)的半個(gè)波頭陡升至倍電壓,這個(gè)波形主要是用來(lái)模擬實(shí)際電網(wǎng)中會(huì)突然出現(xiàn)的諧振過(guò)電壓,而且在這種情況下,模塊的輸入過(guò)電壓保護(hù)線路不起作用,這種沖擊對(duì)于有pfc的電路是存在危險(xiǎn)的。

測(cè)試內(nèi)容:a、在輸入電壓為180v,輸出滿載的情況下,用ac source模擬該波形,要求180v工作3分鐘,然后電壓突然增加到380v,持續(xù)100ms,然后恢復(fù)到180v,讓模塊在這種情況下長(zhǎng)時(shí)間工作1小時(shí),不應(yīng)損壞;b、設(shè)置ac source使得輸入電壓為0v,持續(xù)5分鐘,然后電壓突然增加到380v,持續(xù)100ms,然后恢復(fù)到0v,讓模塊在這種情況下長(zhǎng)時(shí)間工作1小時(shí),不應(yīng)損壞。

測(cè)試方法:

利用ac source對(duì)模塊供電,模塊滿載輸出;用ac source模擬尖鋒、毛刺和諧波電壓輸入,每種特殊的電壓輸入工作2小時(shí),測(cè)量輸入電流和輸出電壓。模塊應(yīng)能穩(wěn)定運(yùn)行,試驗(yàn)中注意x電容,輔助電源,軟啟動(dòng)電阻等其他可能出現(xiàn)問(wèn)題的地方。

判定方法:

在實(shí)際中可能出現(xiàn)尖鋒、毛刺、諧波電壓情形下能穩(wěn)定運(yùn)行,不損壞,合格;否則不合格。

有源pfc性能測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明:

帶有源pfc的電源模塊,對(duì)電網(wǎng)尖鋒、毛刺合和諧波比較敏感,應(yīng)進(jìn)行全面仔細(xì)的測(cè)試。

測(cè)試方法:

利用ac source交流源作為輸入電壓源,輸出分別帶半載、滿載,測(cè)試輸入電流波形和電壓波形,同時(shí)監(jiān)測(cè)pfc后的電壓;測(cè)試電網(wǎng)在尖鋒、毛刺、諧波情況下輸入電壓、電流的相位及幅值關(guān)系;測(cè)量pfc開關(guān)管的電流和電壓,驗(yàn)證在全電壓范圍和毛刺、尖鋒、諧波等情況下開關(guān)管和其他功率器件的安全性及電流跟蹤電壓變化的能力。

判定標(biāo)準(zhǔn):

pfc測(cè)試可以作為可靠性參考,出現(xiàn)嚴(yán)重問(wèn)題時(shí),應(yīng)及時(shí)解決。

操作電壓測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明:

電網(wǎng)中存在多種操作過(guò)電壓,其中最常見(jiàn)的時(shí)空載線路合閘過(guò)電壓,這種過(guò)電壓對(duì)模塊的威脅也較大,本項(xiàng)測(cè)試在于驗(yàn)證模塊抗操作過(guò)電壓的能力。

測(cè)試方法:

過(guò)電壓線路的模擬十分簡(jiǎn)單,原理如下:

其中電感的參數(shù)為10mh(供參考:ees的模塊測(cè)試方法中,沒(méi)有接地電容,輸入電阻與電感串聯(lián),電阻值為0歐、電感為8mh和電阻為79歐、電感為10mh兩種情況的測(cè)試),電容為16.7uf,測(cè)試波形未畫出。

將被測(cè)試的設(shè)備連接在電容兩端,在k合閘瞬間,在電容兩端會(huì)產(chǎn)生過(guò)電壓,用來(lái)模擬在上電過(guò)程中,過(guò)電壓對(duì)設(shè)備的損害程度。作為極限測(cè)試項(xiàng)目,輸入接l、n線,將被測(cè)試的設(shè)備接在電容兩端,頻繁開關(guān)機(jī),重復(fù)頻率為1次/5分鐘,連續(xù)測(cè)試5小時(shí)。對(duì)于三相輸入設(shè)備,輸入接在l、l線上,被測(cè)試設(shè)備接在電容兩端,重復(fù)頻率為1次/5分鐘,連續(xù)測(cè)試2小時(shí)。

判定標(biāo)準(zhǔn):

在測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)短時(shí)功能下降或性能劣化,但能自動(dòng)恢復(fù)的,合格;但出現(xiàn)性能永久性劣化或需要人工干預(yù)才能恢復(fù)的,不合格。

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    半導(dǎo)體可靠性測(cè)試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過(guò)程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測(cè)試項(xiàng)目包括多種測(cè)試方法和技術(shù),以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和
    的頭像 發(fā)表于 12-20 17:09 ?2414次閱讀

    SD NAND?可靠性驗(yàn)證測(cè)試

    SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試的重要SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試至關(guān)重要。通過(guò)檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整、設(shè)備壽
    的頭像 發(fā)表于 12-14 14:29 ?639次閱讀
    SD NAND?<b class='flag-5'>可靠性</b>驗(yàn)證<b class='flag-5'>測(cè)試</b>

    電源模塊測(cè)試分享之電源可靠性測(cè)試方法

    可靠性測(cè)試電源模塊測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,是檢測(cè)電源模塊穩(wěn)定性、運(yùn)行狀況的重要
    的頭像 發(fā)表于 12-13 15:36 ?1354次閱讀

    淺談車規(guī)級(jí)芯片的可靠性測(cè)試方法

    加速環(huán)境應(yīng)力可靠性測(cè)試:需要對(duì)芯片進(jìn)行加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試,模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測(cè)試旨在評(píng)估芯片在極端溫度條件下的可靠性
    的頭像 發(fā)表于 12-05 14:05 ?1862次閱讀

    如何提升基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)的可靠性?

    如何提升基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)的可靠性? 基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)可靠性是關(guān)乎設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行的重要因素。為了提高可靠性,我們可以從設(shè)
    的頭像 發(fā)表于 11-17 14:35 ?585次閱讀

    可靠性試驗(yàn)(HALT)及可靠性評(píng)估技術(shù)

    國(guó)家電網(wǎng):在就地化保護(hù)入網(wǎng)檢測(cè)中,首次引入可靠性試驗(yàn),驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)水平和壽命指標(biāo)。在關(guān)于新型一、二次設(shè)備(例如:電子式互感器)的科研項(xiàng)目中,增加了可靠性驗(yàn)證和壽命評(píng)估等相關(guān)研究課題。
    的頭像 發(fā)表于 11-13 16:32 ?1335次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>試驗(yàn)(HALT)及<b class='flag-5'>可靠性</b>評(píng)估技術(shù)