高低溫測試主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。測試設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
高低溫測試是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。
高溫試驗詳細介紹:本試驗是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2,IEIA 364,MIL-STD-810F等。
低溫試驗介紹:本試驗是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1,IEC 60068-2-1,EIA 364,MIL-STD-810F等。
在我們的大自然環(huán)境中,溫度和濕度是不可分割的兩個自然因素,不同地區(qū)由于不同的地理位置,產(chǎn)生的溫度、濕度效應(yīng)也各不相同。本試驗是用來確認產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時間。
產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時,因設(shè)計不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題概括以下:
是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達標(biāo),生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;
第二是潛在的缺陷,這類缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現(xiàn),而需要在使用過程中逐漸地被暴露,如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。
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測試
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