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硅片電阻率測(cè)試儀TS1700電工鋼表面絕緣電阻測(cè)量裝置

天恒測(cè)控 ? 2023-02-13 14:57 ? 次閱讀
pYYBAGPmCEWAX0YCAAA_fZaLrPA79.jpeg硅片電阻率測(cè)試儀TS1700

硅片電阻率測(cè)試儀TS1700電量輸出/測(cè)量:內(nèi)置直流穩(wěn)壓電源和精密電流測(cè)量單元,測(cè)量不確定度達(dá)0.1%。

硅片電阻率測(cè)試儀TS1700每次測(cè)量時(shí)電壓值均可穩(wěn)定在500 mV,并同步測(cè)量回路電流,范圍:0~1.2 A。

觸頭執(zhí)行結(jié)構(gòu):由2根螺旋鉆頭、10根帶觸頭的金屬桿、施壓裝置等組成。

標(biāo)配觸頭(標(biāo)準(zhǔn)推薦):?jiǎn)蝹€(gè)觸頭面積約為64.5 mm2, 10個(gè)總面積達(dá)645 mm2。

選配觸頭(選配件):?jiǎn)蝹€(gè)觸頭面積約為100 mm2, 10個(gè)總面積達(dá)1000 mm2。

導(dǎo)電橡膠觸頭(TS1700-B):該觸頭為面積為645 mm2的導(dǎo)電橡膠,可實(shí)現(xiàn)觸頭與樣品軟接觸。與富蘭克林法相比具有更高的重復(fù)性和可比性。

鉆頭具有很好的銳度,可在一定壓力下輕易刺破電工鋼表面涂層。

鉆頭、觸頭金屬桿均由電動(dòng)缸驅(qū)動(dòng),在垂直方向同步移動(dòng),以接觸樣品進(jìn)行測(cè)試。

測(cè)試時(shí),單個(gè)觸頭表面壓力約2 N/mm2,配壓力傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)控所施加的壓力。

樣品托盤(pán):由電機(jī)驅(qū)動(dòng),可帶動(dòng)樣品前后移動(dòng),以尋找多個(gè)不同的測(cè)試區(qū)域,獲取多組測(cè)試數(shù)據(jù)。通過(guò)軟件可設(shè)置1~5組測(cè)試點(diǎn)。

系統(tǒng)驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)器:配備標(biāo)準(zhǔn)電阻線路板,用于系統(tǒng)的日常驗(yàn)證。

移動(dòng)式測(cè)控臺(tái):通過(guò)液晶觸摸屏設(shè)置測(cè)試參數(shù),觀察測(cè)試狀態(tài)及結(jié)果,使用便捷。

專(zhuān)業(yè)測(cè)試軟件:設(shè)置參數(shù)和放置樣品外,其他測(cè)試過(guò)程可通過(guò)軟件自動(dòng)完成。

軟件可實(shí)時(shí)顯示測(cè)試的電壓值、電流值、壓力值,并記錄每組測(cè)試數(shù)據(jù)。

poYBAGPmCEWAaNOhAAA92YN2ffc23.jpeg硅片電阻率測(cè)試儀TS1700

pYYBAGPmCEWADfBpAABz75V3RgI59.jpeg硅片電阻率測(cè)試儀TS1700

5. 硅片電阻率測(cè)試儀TS1700試樣要求

樣品尺寸:( 300 mm~500 mm ) × ( 200 mm ) (長(zhǎng)×寬)

樣品厚度:0.1 mm~1.0 mm

其他要求:試樣表面應(yīng)清潔、平整、無(wú)斑痕、劃痕

6. 硅片電阻率測(cè)試儀TS1700一般技術(shù)規(guī)格

供電電源 AC ( 220 ± 22 ) V,( 50 ± 2 ) Hz

溫度性能 工作溫度:0°C~40°C;儲(chǔ)存溫度:-20°C~70°C

濕度性能 工作濕度:40%~80% R·H不結(jié)露

儲(chǔ)存濕度:< 95% R·H,不結(jié)露

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