0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

用SPAD 23在共聚焦顯微鏡中實(shí)現(xiàn)波動(dòng)對(duì)比度的超分辨率

上海昊量光電設(shè)備有限公司 ? 2023-02-22 11:27 ? 次閱讀

在過去的 20 年里,遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)顯微鏡已經(jīng)跨越了以阿貝衍射極限為代表的一度難以逾越的分辨率障礙 ,開發(fā)多種成功的方法,如受激發(fā)射損耗(STED) 、單分子定位方法(PALM 和 STORM) ,結(jié)構(gòu)照明顯微術(shù)(SIM)和超分辨率光學(xué)波動(dòng)成像(SOFI),這要?dú)w功于圖像傳感器技術(shù)的改進(jìn)以及單分子光譜學(xué)的巨大進(jìn)步。

在這里,我們提出了一種新的顯微技術(shù),它利用 SPAD23陣列探測(cè)器的超高時(shí)間分辨率來測(cè)量熒光波動(dòng)引起的相關(guān)性。在 ISM 架構(gòu)中測(cè)量的這種相關(guān)性,然后被用作具有高達(dá) 4 倍增強(qiáng)橫向分辨率和增強(qiáng)軸向分辨率的超分辨率圖像的對(duì)比度。僅用幾毫秒的像素駐留時(shí)間就可以獲得高信噪比的超分辨率圖像。

單光子探測(cè)器陣列SPAD23技術(shù)源于代爾夫特理工大學(xué)和洛桑聯(lián)邦理工學(xué)院 7 年的研究工作和 6 項(xiàng)獨(dú)特技術(shù)。它是由23個(gè)六角形封裝的單光子雪崩二極管組成的探測(cè)器陣列(SPADs),具有更高的靈敏度和更低的噪聲。昊量光電這款單光子探測(cè)器陣列SPAD23在其寬探測(cè)譜段內(nèi)擁有>50%的探測(cè)效率,<100cps的暗計(jì)數(shù)水平,且因其獨(dú)特的半導(dǎo)體工藝及設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了前所未有的填充因子>80%。單光子探測(cè)器陣列SPAD23帶有時(shí)間標(biāo)記功能(Time Tagging)整體尺寸只有信用卡大小,是熒光顯微和量子信息領(lǐng)域的理想探測(cè)工具。

f0b0b1a2-b1fa-11ed-ad0d-dac502259ad0.png

參數(shù)條件代表
峰值檢測(cè)概率Vop=32V55%@520nm
PDP>35%的波長(zhǎng)窗口Vop=32V440-660nm
填充因子平行光>80%
暗計(jì)數(shù)Vop=32V ;T=20℃<100cps
DCR>1kcps的噪聲像素?cái)?shù)Vop=32V1
死時(shí)間Vop=32V ;Vq=0.8V50ns
時(shí)間抖動(dòng)Vop=32V120ps
后脈沖Vop=32V ;Vq=0.8V0.1%
串?dāng)_Vop=32V0.14%
每像素最大計(jì)數(shù)率7.8Mcps
Time-tagging精度20ps

得益于SPAD23單光子陣列探測(cè)器的優(yōu)異性能,在與共聚焦顯微鏡搭配使用的過程中,增加了光的收集,最終獲得了更清晰、更明亮的圖像,其中還包含有關(guān)潛在分子功能、相互作用和環(huán)境的功能信息。

下圖提出了一種超分辨光學(xué)起伏圖像掃描顯微術(shù)的方案;設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)共焦顯微鏡的圖像平面中的針孔和單像素檢測(cè)器被替換為 23 像素的 SPAD 陣列,SPAD23單光子陣列探測(cè)器,增加了光線收集,提高了成像速度,減少了背景噪音,能夠在共聚焦顯微鏡中實(shí)現(xiàn)波動(dòng)對(duì)比度的超分辨率。當(dāng)掃描樣品臺(tái)時(shí),每個(gè)光子的檢測(cè)時(shí)間記錄在相連的 FPGA 電路中,并以數(shù)字形式存儲(chǔ)。然后分析該數(shù)據(jù),為陣列中的每個(gè)像素對(duì)產(chǎn)生第二個(gè)相關(guān)圖像,產(chǎn)生 232個(gè)分辨率增強(qiáng)為 2 的相關(guān)圖像。如下圖b所示分辨率的提高可歸因于兩個(gè)因素。首先,如在 ISM 中一樣,每個(gè)小探測(cè)器的點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù)(PSF)是激發(fā)和其探測(cè) PSF 的乘積。此外,從兩個(gè)這樣的 ISM PSFs 相乘得到的相關(guān)對(duì)比度實(shí)現(xiàn)了進(jìn)一步的變窄。在對(duì)圖像進(jìn)行適當(dāng)?shù)囊苿?dòng)以使其相互重疊之后,這一過程被稱為像素重新分配,我們?cè)诳臻g頻率域中應(yīng)用傅立葉重新加權(quán)濾波的最后階段。理論上,最終 SOFISM 圖像的 PSF 具有超過衍射極限 4 倍的橫向分辨率增強(qiáng)。

f0f55596-b1fa-11ed-ad0d-dac502259ad0.png

圖C 展示了 SOFISM,對(duì)相對(duì)稀疏的單個(gè) CdSe/CdS/ZnS核/殼/殼量子點(diǎn)(QDs)的樣品進(jìn)行成像。除了由于衍射造成的模糊之外,標(biāo)準(zhǔn)的共焦圖像(CLSM)包含大量的噪聲,這是由于量子點(diǎn)的發(fā)射強(qiáng)度在亮和暗狀態(tài)(閃爍)之間的波動(dòng)造成的。生成標(biāo)準(zhǔn) ISM 圖像的分辨率提高了 2 倍,同時(shí)噪聲水平明顯降低,通過像素重新分配達(dá)到平均水平。或者,通過計(jì)算熒光信號(hào)的二階相關(guān)矩陣,然后重復(fù) ISM 過程的剩余部分(像素重新分配和傅立葉重新加權(quán)),產(chǎn)生分辨率提高 2.5 倍的更清晰的圖像。我們注意到,這個(gè)數(shù)字低于理論預(yù)測(cè)的數(shù)字,可能是由于探測(cè)器的有限尺寸、樣品振動(dòng)和其他技術(shù)方面的原因。

最后,還可以生成互相關(guān)階數(shù)高于 2 的 SOFISM 圖像;上圖C 展示了來自相同場(chǎng)景的 4 階相關(guān)圖像,產(chǎn)生橫向分辨率的 4倍增強(qiáng)。在類似的實(shí)驗(yàn)條件下,盡管檢測(cè)方案有些麻煩,SOFISM 已經(jīng)被證明在軸向分辨率上提供了 2 倍的改進(jìn),雖然一些成熟的超分辨率技術(shù)已經(jīng)被生命科學(xué)研究團(tuán)體采用并取得了巨大成功,但是 SPAD 陣列技術(shù)的最新進(jìn)展為可以針對(duì)特定需求提供超分辨率解決方案。SOFISM 可以提供一種實(shí)驗(yàn)上簡(jiǎn)單的方法,在合理的曝光時(shí)間內(nèi)提供顯著的 3D 分辨率增強(qiáng),并且沒有顯著的實(shí)驗(yàn)復(fù)雜性。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 探測(cè)器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    14

    文章

    2559

    瀏覽量

    72631
  • 顯微鏡
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    499

    瀏覽量

    22826
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    共聚焦顯微鏡有什么

    科學(xué)研究和精密制造領(lǐng)域,對(duì)材料表面特性的準(zhǔn)確測(cè)量至關(guān)重要。共聚焦顯微鏡作為一種先進(jìn)的顯微成像技術(shù),提供了一種非接觸、高分辨率的表面分析手段
    的頭像 發(fā)表于 06-24 09:58 ?341次閱讀
    <b class='flag-5'>共聚焦</b><b class='flag-5'>顯微鏡</b>有什么<b class='flag-5'>用</b>?

    共聚焦顯微鏡:成像原理、功能、分辨率與優(yōu)勢(shì)解析

    。通過使用光源,顯微鏡能夠?qū)悠愤M(jìn)行逐點(diǎn)掃描,并通過共軛孔徑系統(tǒng)排除非焦平面的光,從而實(shí)現(xiàn)分辨率的二維圖像。此外,通過逐層掃描,共聚焦顯微鏡
    的頭像 發(fā)表于 06-14 09:28 ?1056次閱讀
    <b class='flag-5'>共聚焦</b><b class='flag-5'>顯微鏡</b>:成像原理、功能、<b class='flag-5'>分辨率</b>與優(yōu)勢(shì)解析

    共聚焦、光學(xué)顯微鏡與測(cè)量顯微鏡的區(qū)分

    共聚焦顯微鏡是一種光學(xué)顯微鏡,也可以被稱為測(cè)量顯微鏡。它用于精確測(cè)量樣品的尺寸、形狀、表面粗糙
    發(fā)表于 05-14 10:43 ?3次下載

    深度解析激光掃描共聚焦顯微鏡:揭示材料表面粗糙的新視角

    激光掃描共聚焦顯微鏡材料表征和研究中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。其基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密縱向掃描,具有高分辨率、三維成像、表面粗糙分析和非接
    發(fā)表于 04-16 10:44 ?0次下載

    激光共聚焦顯微鏡測(cè)粗糙,解讀表面粗糙的科技利器

    激光共聚焦顯微鏡(Laser Scanning Confocal Microscope,簡(jiǎn)稱LSCM)是一種光學(xué)顯微鏡,通過激光束的聚焦和散射技術(shù),能夠實(shí)現(xiàn)
    發(fā)表于 04-16 10:42 ?0次下載

    共聚焦顯微鏡和激光共聚焦顯微鏡的區(qū)別詳解

    兩者細(xì)節(jié)和特性上存在差異。1、原理上的差別:共聚焦顯微鏡基于共焦原理的顯微鏡技術(shù),是一種使用了透鏡系統(tǒng)將樣品的不同焦深處的光聚焦到同一焦點(diǎn)
    發(fā)表于 04-16 10:40 ?0次下載

    激光共聚焦顯微鏡測(cè)粗糙,解讀表面粗糙的科技利器

    激光共聚焦顯微鏡通過激光束聚焦和散射技術(shù)實(shí)現(xiàn)分辨率三維圖像采集和表面測(cè)量,具有高分辨率、三維測(cè)量、非接觸測(cè)量和實(shí)時(shí)成像等優(yōu)勢(shì),廣泛應(yīng)用于材
    的頭像 發(fā)表于 04-08 15:20 ?644次閱讀
    激光<b class='flag-5'>共聚焦顯微鏡</b>測(cè)粗糙<b class='flag-5'>度</b>,解讀表面粗糙<b class='flag-5'>度</b>的科技利器

    共聚焦顯微鏡和激光共聚焦顯微鏡的區(qū)別詳解

    共焦顯微鏡通常使用白光或者非激光光源,不一定需要激光;而激光共聚焦顯微鏡通常用于獲取三維圖像和進(jìn)行表面粗糙分析等應(yīng)用,對(duì)于要求更高分辨率和更精細(xì)結(jié)構(gòu)分析的樣品有更大的優(yōu)勢(shì),如在材料科
    的頭像 發(fā)表于 04-07 09:45 ?839次閱讀
    <b class='flag-5'>共聚焦</b><b class='flag-5'>顯微鏡</b>和激光<b class='flag-5'>共聚焦顯微鏡</b>的區(qū)別詳解

    顯微測(cè)量|共聚焦顯微鏡大傾角清納米三維顯微成像

    用于材料科學(xué)領(lǐng)域的共聚焦顯微鏡,基于光學(xué)共軛共焦原理,其超高的空間分辨率和三維成像能力,提供了全新的視角和解決方案。工作原理共聚焦顯微鏡通過
    發(fā)表于 02-20 09:07 ?1次下載

    顯微測(cè)量|共聚焦顯微鏡大傾角清納米三維顯微成像

    共聚焦顯微鏡材料學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,通過超高分辨率的三維顯微成像測(cè)量,可清晰觀察材料的表面形貌、表層結(jié)構(gòu)和納米尺度的缺陷,有助于理解材料的微觀
    的頭像 發(fā)表于 02-18 10:53 ?431次閱讀
    <b class='flag-5'>顯微</b>測(cè)量|<b class='flag-5'>共聚焦</b><b class='flag-5'>顯微鏡</b>大傾角<b class='flag-5'>超</b>清納米三維<b class='flag-5'>顯微</b>成像

    激光共聚焦顯微鏡:材料表面粗糙的救星

    問題,無法滿足精細(xì)材料表面的檢測(cè)需求。而激光共聚焦顯微鏡以其高分辨率、高靈敏和高測(cè)量速度等優(yōu)勢(shì),成為材料表面粗糙檢測(cè)的得力工具。為什么要選擇共聚
    發(fā)表于 01-18 10:53 ?0次下載

    激光共聚焦顯微鏡:材料表面粗糙的救星

    激光共聚焦顯微鏡因其高分辨率、高靈敏和高測(cè)量速度,成為材料表面粗糙檢測(cè)的理想工具。它可解決傳統(tǒng)方法的局限,如對(duì)微小結(jié)構(gòu)或曲面表面的測(cè)量問題,并適用于多種材料。該
    的頭像 發(fā)表于 01-15 09:05 ?654次閱讀
    激光<b class='flag-5'>共聚焦顯微鏡</b>:材料表面粗糙<b class='flag-5'>度</b>的救星

    中圖共聚焦顯微鏡大傾角清納米測(cè)量應(yīng)用場(chǎng)景舉例

    共聚焦顯微鏡可以非常小的區(qū)域內(nèi)進(jìn)行高分辨率成像,用途廣泛。特別在材料科學(xué)研究中,適合用于觀察材料的表面形貌結(jié)構(gòu)。中圖共聚焦
    的頭像 發(fā)表于 12-26 11:48 ?387次閱讀
    中圖<b class='flag-5'>共聚焦</b><b class='flag-5'>顯微鏡</b>大傾角<b class='flag-5'>超</b>清納米測(cè)量應(yīng)用場(chǎng)景舉例

    共聚焦顯微鏡應(yīng)用特點(diǎn)

    的手段。共聚焦顯微鏡應(yīng)用特點(diǎn)1、高分辨率和高靈敏共聚焦顯微鏡
    發(fā)表于 11-21 09:21 ?0次下載

    共聚焦顯微鏡應(yīng)用特點(diǎn)

    共聚焦顯微鏡能夠清晰地展示微小物體的圖像形態(tài)細(xì)節(jié),顯示出精細(xì)的細(xì)節(jié)圖像。它具有直觀測(cè)量的特點(diǎn),能夠有效提高工作效率,更加快捷準(zhǔn)確地完成日常任務(wù)。借助共聚焦顯微鏡,能有效提高工作效率,
    的頭像 發(fā)表于 11-20 11:32 ?634次閱讀
    <b class='flag-5'>共聚焦</b><b class='flag-5'>顯微鏡</b>應(yīng)用特點(diǎn)