開發(fā)板中的內(nèi)存壓力測試，你了解多少？

1.測試目的

內(nèi)存壓力測試的目的是評估開發(fā)板中的內(nèi)存子系統(tǒng)性能和穩(wěn)定性，以確保它能夠滿足特定的應(yīng)用需求。開發(fā)板通常用于嵌入式系統(tǒng)、物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備、嵌入式智能家居等場景，這些場景對內(nèi)存的要求通常比較高。

其內(nèi)存壓力測試的主要目的有：

1.對確定內(nèi)存的可靠性：通過模擬高負載下的內(nèi)存使用情況，可以檢測內(nèi)存中的錯誤和問題，并確定開發(fā)板是否能夠在穩(wěn)定的狀態(tài)下長時間運行。這有助于確保系統(tǒng)的可靠性和數(shù)據(jù)安全性。

2.發(fā)現(xiàn)內(nèi)存瓶頸：通過測試開發(fā)板在處理大量數(shù)據(jù)時的性能表現(xiàn)，可以評估內(nèi)存訪問速度、吞吐量、響應(yīng)時間等性能指標，并確定系統(tǒng)在處理大量數(shù)據(jù)時的性能瓶頸所在。這有助于確定系統(tǒng)的性能極限，并采取相應(yīng)的優(yōu)化措施。

3.驗證內(nèi)存兼容性：不同類型的內(nèi)存可能會影響開發(fā)板的性能和穩(wěn)定性。通過內(nèi)存壓力測試可以驗證不同類型的內(nèi)存是否兼容，以確保內(nèi)存與開發(fā)板的兼容性。

4.測試系統(tǒng)容錯性：通過模擬異常情況下的內(nèi)存使用情況，可以測試開發(fā)板在處理異常情況時的表現(xiàn)，并確定開發(fā)板能否在不影響數(shù)據(jù)完整性的情況下恢復(fù)正常工作。

2.1測試結(jié)果

在使用內(nèi)存壓力測試工具memtester測試內(nèi)存72小時以上期間，未發(fā)現(xiàn)內(nèi)存錯誤、異常等現(xiàn)象。內(nèi)存模塊在測試條件下穩(wěn)定，循環(huán)測試中系統(tǒng)未出現(xiàn)無明顯卡頓或崩潰現(xiàn)象。測試結(jié)果表明，系統(tǒng)能夠在長時間高負載占用內(nèi)存的工作環(huán)境下保持可靠性和穩(wěn)定性，具有較高的抗壓能力。

2.測試原理

2.1memtester

Memtester是一種用于測試系統(tǒng)內(nèi)存穩(wěn)定性和可靠性的工具。它可以模擬各種內(nèi)存負載情況，并檢測和報告內(nèi)存錯誤。

Memtester可以在Linux和其他類Unix系統(tǒng)上運行，并可以通過命令行或腳本進行控制。它可以測試內(nèi)存的不同方面，包括內(nèi)存容量、內(nèi)存速度、內(nèi)存類型、內(nèi)存通道等。同時，它還可以測試系統(tǒng)的內(nèi)存管理和內(nèi)存分配機制，以確定系統(tǒng)是否能夠有效地管理和分配內(nèi)存。

使用Memtester進行內(nèi)存測試時，需要指定測試的內(nèi)存容量和測試的時間長度。測試過程中，Memtester會在內(nèi)存中模擬各種負載情況，例如寫入隨機數(shù)據(jù)、重復(fù)寫入相同數(shù)據(jù)、使用指定的模式寫入數(shù)據(jù)等。在測試過程中，Memtester會檢測內(nèi)存中的錯誤，并將錯誤信息記錄到日志文件中。

通過使用Memtester，可以有效地測試系統(tǒng)內(nèi)存的穩(wěn)定性和可靠性，以便確定系統(tǒng)是否能夠在各種負載情況下正常運行。測試結(jié)果可以幫助開發(fā)人員識別和解決內(nèi)存相關(guān)的問題，并優(yōu)化系統(tǒng)的內(nèi)存性能。

圖3.1演示程序

2.1.1測試方法

memtester工具使用命令格式為memtester[-p內(nèi)存物理起始地址][測試內(nèi)存大小B/K/M/G][測試次數(shù)]。

命令格式不是固定的，可以省略部分。

ⅰ.省略測試次數(shù)，則連續(xù)進行測試，直到手動結(jié)束

ⅱ.省略內(nèi)存物理起始地址，則由系統(tǒng)隨機選擇空閑內(nèi)存測試

b.使用方法

ⅰ.對1G內(nèi)存測試100次

./memtester1G100

ⅱ.對2G內(nèi)存進行連續(xù)測試

./memtester1G100

ⅲ.從0x00010000地址開始測試1G內(nèi)存100次

./memtester-p0x100001G100

3.硬件準備

HD-G2L-IOTV2.2底板、HD-G2L-COREV2.0核心板（2GB+8GB）、網(wǎng)線、Type-c數(shù)據(jù)線、12V電源適配器、UART模塊、電腦主機。

4.測試環(huán)境

圖5.1測試環(huán)境

5.開始內(nèi)存壓力測試

根據(jù)測試目的，運行測試程序，申請1G內(nèi)存大小，連續(xù)運行測試72小時以上。

圖6.1

圖6.2視頻播放

如圖6.1所示，編寫測試腳本運行memtester測試程序后先檢測是否存在memtester進程，若有則殺掉進程，若無則根據(jù)用戶輸入時間校準評估板時間，最后輸入測試時長（秒）開始內(nèi)存壓力測試，達到測試時長則結(jié)束測試。?

6.結(jié)束內(nèi)存壓力測試

圖7.1

圖7.2

圖7.3

圖7.4運行情況

如圖7.1圖7.2圖7.3所示，memtester程序在運行了72小時30分鐘后仍在運行測試，說明在此測試期間，持續(xù)高強度負載下，系統(tǒng)整體表現(xiàn)穩(wěn)定，無明顯卡頓或崩潰現(xiàn)象。內(nèi)存壓力測試159次后仍能夠保持在穩(wěn)定的水平。測試結(jié)果表明，系統(tǒng)能夠在長時間內(nèi)存壓力測試的工作環(huán)境下保持可靠性和穩(wěn)定性，具有較高的抗壓能力。

7.關(guān)于HD-G2L-IOT

7.1硬件參數(shù)

HD-G2L-IOT板載的外設(shè)功能：

• 集成2路10M/100M/1000M自適應(yīng)以太網(wǎng)接口
• 集成Wi-Fi
• 集成2路RS-232接口
• 集成2路RS-485接口
• 集成2路CAN-bus接口
• 集成2路USBHost
• 集成1路USB擴展4G模塊接口（集成SIM卡接口）
• 集成1路USB擴展5G模塊接口（集成SIM卡接口）
• 支持1路TF卡接口
• 支持液晶顯示接口（RGB信號）
• 支持4線電阻觸摸屏與電容屏接口
• 1路MIPIDSI接口
• 1路攝像頭接口（MIPICSI）
• 支持音頻（耳機、MiC、SPK）
• 支持實時時鐘與后備電池
• 支持蜂鳴器與板載LED
• 支持GPIO
• 1路TTL調(diào)試串口
• 直流+12V電源供電（寬壓9~36V）

HD-G2L-CORE核心板硬件資源參數(shù)：