一款國(guó)產(chǎn)化的電磁兼容測(cè)試設(shè)備-OI-EAS系列電磁干擾EMI/EMC掃描儀

隨著電子技術(shù)的快速發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成度越來(lái)越高，電磁兼容問(wèn)題就顯得日益突出。如何設(shè)計(jì)出符合電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品成為工程師們急需解決的難題。

電磁兼容問(wèn)題的三要素即干擾源、耦合途徑和敏感設(shè)備，搞清楚這幾個(gè)要素是解決電磁兼容問(wèn)題的前提。由于電磁干擾看不見(jiàn)、摸不著的特點(diǎn)，基于目前的通用儀器（如EMI接收機(jī)和頻譜分析儀等）無(wú)法清晰，直觀的展示出干擾源和耦合途徑。電磁干擾掃描儀有效的解決了這一問(wèn)題。

什么是電磁干擾掃描儀？

電磁干擾掃描儀（Electromagnetic interference scanner）又稱(chēng)EMI掃描儀，是屬于電磁兼容測(cè)試設(shè)備，具備干擾頻譜分析、定頻干擾成像功能。儀器主要由自動(dòng)定位掃描模塊、數(shù)據(jù)采集模塊和自動(dòng)分析軟件三部分組成，通過(guò)自動(dòng)定位裝置攜帶傳感器對(duì)PCB板、小型電子設(shè)備、器件等產(chǎn)品進(jìn)行表面電磁場(chǎng)強(qiáng)度逐點(diǎn)掃描，數(shù)據(jù)采集處理設(shè)備對(duì)電磁場(chǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄，最終通過(guò)自動(dòng)分析軟件將電磁場(chǎng)強(qiáng)度數(shù)據(jù)予以修正后，再以彩色圖像形式呈現(xiàn)被測(cè)產(chǎn)品表面的電磁干擾分布。

工程師為什么選擇OItek?的OI-EAS系列EMI掃描儀:

? 高度智能化、可視化、專(zhuān)業(yè)化的電磁干擾掃描儀；

? 設(shè)備參考了GB9254、GB18655、GJB151B等相關(guān)電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)；

? 可用于測(cè)試PCB板、小型電子設(shè)備、器件等產(chǎn)品的電磁兼容性；

? 兼容性強(qiáng)：兼容市面上主流的頻譜分析儀、EMI接收機(jī)和近場(chǎng)探頭組等；

? 頻率覆蓋范圍寬：9kHz～40GHz；

? OIEMI-Scanner軟件具有采集可靠、界面可視化和復(fù)雜分析的特點(diǎn)，可在電子器件上方某一空間范圍內(nèi)進(jìn)行檢測(cè)；

? 精確快速地評(píng)估近距離磁場(chǎng)和電場(chǎng)，并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行多種分析和處理，還能快速地輸出圖像和數(shù)據(jù)，生成測(cè)試報(bào)告；

? 多種選件柔性組合，滿足您不同測(cè)試需求。