了解DS2784的欠壓保護(hù)延遲

為防止電池過(guò)放電，DS2784提供欠壓保護(hù)。本應(yīng)用筆記解釋了欠壓保護(hù)延遲（tUVD） 實(shí)現(xiàn)。

介紹

DS2784具有欠壓保護(hù)電路，可防止電池過(guò)放電。當(dāng)檢測(cè)到欠壓情況時(shí)，DS2784關(guān)斷充放電FET，并在保護(hù)寄存器中設(shè)置UV標(biāo)志。本應(yīng)用筆記解釋了DS2784的電壓和溫度測(cè)量ADC的功能，以及它與器件欠壓保護(hù)延遲（tUVD).

描述

DS2784使用一個(gè)ADC測(cè)量溫度和電池電壓。ADC輸入在兩個(gè)信號(hào)之間多路復(fù)用，每220ms在溫度和電壓測(cè)量之間交替。采樣速率為18.6kHz時(shí)，ADC每4092ms獲取220個(gè)樣本;然后，它向用戶(hù)報(bào)告樣本的平均值。溫度和電壓測(cè)量值每440ms更新一次，在其相應(yīng)的測(cè)量周期結(jié)束時(shí)。圖1顯示了ADC溫度和電壓測(cè)量的多路復(fù)用時(shí)序。

圖1.ADC 測(cè)量的多路復(fù)用時(shí)序。ADC每220ms在電壓和溫度測(cè)量之間交替，每440ms更新一次寄存器。

沒(méi)有模擬電壓比較器或與欠壓條件相關(guān)的制造延遲。由于電壓測(cè)量的平均值，延遲是固有的。如果在220ms周期結(jié)束時(shí)電壓寄存器中的值小于VUV，則保護(hù)器進(jìn)入紫外線(xiàn)保護(hù)模式。用戶(hù)看到欠壓條件響應(yīng)所需的時(shí)間可能會(huì)有很大差異，因?yàn)殡妷杭拇嫫骰贏DC采樣的平均值。例如，如果電池電壓在 220ms 窗口的大部分時(shí)間略高于 VUV，但在 220ms 窗口結(jié)束前急劇低于 VUV，以至于該窗口的平均值低于欠壓閾值，則欠壓情況將在該窗口結(jié)束時(shí)報(bào)告（圖 2）。但是，如果電池電壓遠(yuǎn)高于VUV，但在220ms窗口開(kāi)始時(shí)下降到略低于VUV，則該窗口的平均值可能高于VUV。
在這種情況下，直到下一個(gè)220ms電壓測(cè)量窗口結(jié)束才會(huì)檢測(cè)到欠壓情況（圖3）。

圖2.最低紫外線(xiàn)條件。在本例中，電池電壓在大部分測(cè)量窗口內(nèi)高于VUV，但隨后遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于欠壓閾值，使220ms窗口期間測(cè)量的平均電壓低于VUV。

圖3.最大 tUVD 的條件。在本例中，電池電壓遠(yuǎn)高于VUV，即使電壓低于欠壓閾值，220ms窗口的平均電壓仍高于VUV。因此，直到下一個(gè)電壓測(cè)量窗口才會(huì)記錄欠壓情況。

總結(jié)

由于DS2784的ADC每220ms報(bào)告一次440ms的平均電壓測(cè)量值，因此欠壓延遲是電路設(shè)計(jì)中固有的。欠壓延遲不需要額外的內(nèi)部電路。

審核編輯：郭婷