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PCI Express一致性測(cè)試方法

本文來(lái)自“PCI Express一致性測(cè)試方法”，PCI EXPRESS 技術(shù)簡(jiǎn)介、N5393C一致性測(cè)試軟件操作方法、SigTest軟件測(cè)試方法、電纜校準(zhǔn)和De-Skew的方法。

PCI Express 標(biāo)準(zhǔn)是由 PCI-SIG 組織制定，是一種點(diǎn)到點(diǎn)的串行差分結(jié)構(gòu)，規(guī)范最新發(fā)展到4.0標(biāo)準(zhǔn)，總線速率為16GT/s，3.0/2.0/1.1標(biāo)準(zhǔn)的總線速率分別為8Gbps，5Gbpss和2.5Gbps。

PCI Express規(guī)范包括Base Specification 和CEM(Card Electromechanical Specification)，前者定義了芯片的電氣參數(shù)及其規(guī)范，后者定義了包含卡接口和互聯(lián)的系統(tǒng)級(jí)規(guī)范。

對(duì)于芯片的驗(yàn)證及沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)PCI Express接口，通常參考Base Spec對(duì)Tx端或Rx端的電氣特性要求進(jìn)行測(cè)量;對(duì)于系統(tǒng)級(jí)的測(cè)試比如有標(biāo)準(zhǔn)的PCI Express接口的主板和顯卡，主要遵循CEM標(biāo)準(zhǔn)。

審核編輯：湯梓紅

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原文標(biāo)題：PCI Express一致性測(cè)試方法

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