技術(shù)迭代,驅(qū)動挑戰(zhàn)
用芯智測,啟智未來
立足根本,測試為先
TIF 2023是一個融合性、持續(xù)性的全方位共創(chuàng)交流平臺。
我們邀請半導(dǎo)體,汽車行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者與泰克公司的測試專家匯聚一堂,共同見證新形態(tài)和新生態(tài)下,如何從測試維度及大數(shù)據(jù)來加速新技術(shù)的迭代!
論壇時間:2023年6月29-30日
+
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2023泰克創(chuàng)新論壇
今日分論壇日程安排
會議日程
9:00
-
9:20
開幕致辭
Chris Bohn
Tektronix全球總裁
9:20
-
9:50
主題演講:經(jīng)歷分享|火星與未知生命領(lǐng)域的探索
Jordan P. Evans
NASA航天工程師
9:50
-
10:20
主題演講:探究AI終身學(xué)習(xí)、超圖靈計算和設(shè)備端計算
Hava Siegelmann
馬薩諸塞大學(xué)計算機(jī)科學(xué)系教授
10:20
-
10:50
主題演講:自動駕駛未來誰將掌舵?
Chris Gerdes
斯坦福大學(xué)機(jī)械工程學(xué) 名譽(yù)教授 & 斯坦福汽車研究中心(CARS)聯(lián)合主任
10:50
-
11:20
800V電驅(qū)SiC測試挑戰(zhàn)
黃正峰
Tektronix資深業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理
11:20
-
11:50
電動車直流快充的前景展望
Nathan Yang / Denis Solomon
FLO EV首席產(chǎn)品官 / Tektronix汽車市場領(lǐng)導(dǎo)者
11:50
-
13:30
午間休閑時刻:參觀泰克古董博物館
13:30
-
14:00
智能網(wǎng)聯(lián)汽車高速總線應(yīng)用測試方案
劉劍
Tektronix資深技術(shù)經(jīng)理
14:00
-
14:30
電池直流內(nèi)阻:源表測試三步法
Liz Makley
Tektronix應(yīng)用工程師
14:45
-
15:45
無刷直流電機(jī)的全新測試技術(shù)分享
Srikrishna N.H
Tektronix功率解決方案首席工程師
15:45
-
15:50
反饋與抽獎
2023泰克創(chuàng)新論壇
論壇內(nèi)容摘要
汽車高速總線及三電系統(tǒng)測試
800V電驅(qū)SiC測試挑戰(zhàn)
新能源汽車800V新架構(gòu)發(fā)展趨勢下,SiC已經(jīng)成為必需選擇的新型功率器件,泰克帶您從測試的角度來看寬禁帶技術(shù)帶來的諸多挑戰(zhàn),例如:
? 如何篩選不同廠家的SiC器件及必要性
? 如何解決目前寬禁帶器件應(yīng)用測試和驅(qū)動測試的難題
? 如何能充分發(fā)揮SiC器件的性能等
(注:本議題為6月29日線下峰會課程回顧)
電動車直流快充的前景展望
隨著電動車越來越成為主流,行業(yè)必須建立一個便捷可靠的電動車充電網(wǎng)絡(luò),以確保電動車的普及。本次會議將與一位EVSE(電動車充電設(shè)備)原始設(shè)備制造商/充電服務(wù)提供商進(jìn)行討論,探討直流快速充電(DCFC)的最新進(jìn)展,最令人興奮的技術(shù)以及對未來出行方式的影響。
智能網(wǎng)聯(lián)汽車高速總線應(yīng)用測試方案
智能網(wǎng)聯(lián)汽車的核心是新一代電子電氣架構(gòu),在新的架構(gòu)下高速總線的應(yīng)用越來越廣泛,如何準(zhǔn)確的測試和評估這些高速總線也變得愈發(fā)有挑戰(zhàn)。在此章節(jié),您不僅可以了解到泰克針對以下車載高速總線應(yīng)用的對應(yīng)解決方案,還可以了解到泰克在實(shí)際場景中的一些應(yīng)用案例分享:
?車載以太網(wǎng)1000BASE-T1測試方案
?MIPI D-PHY及C-PHY傳感接口測試方案
?PCIe Gen4/5外設(shè)接口及車內(nèi)SERDES測試方案等
此外,泰克還可提供各類高速接口的測試建議和白皮書以及豐富的調(diào)試工具,幫助工程師加速了解掌握各類高速接口測試、應(yīng)對復(fù)雜車載環(huán)境、建立自主測試和驗(yàn)證能力,助力新一代電子電氣平臺在智能網(wǎng)聯(lián)汽車的不斷升級。
(注:本議題為6月29日線下峰會課程回顧)
電池直流內(nèi)阻:源表測試三步法
隨著全球?qū)﹄姵仉娦镜男枨蟛粩嘣黾?,確保每個電池電芯的質(zhì)量對制造商至關(guān)重要。在生產(chǎn)過程中進(jìn)行了許多電氣測試,其中最有用的測試之一是對電池的內(nèi)阻或阻抗進(jìn)行表征。在本次講座中,我們將討論電池阻抗對性能的影響以及測量電池阻抗的不同方法。然后,我們將展示如何使用Keithley 24xx圖形系列觸摸屏SMUs上的新DCIR TSP應(yīng)用程序,僅用三個步驟中設(shè)進(jìn)行直流內(nèi)阻測量。
無刷直流電機(jī)的全新測試技術(shù)分享
傳統(tǒng)上,電機(jī)設(shè)計師使用定制的嵌入式控制軟件和具有用于場定向控制(FOC)的FPGA的硬件來測量直-象-零(dq0)變量。本次演講介紹了一種替代方法,避免了通常需要的復(fù)雜和昂貴的操作,例如訪問控制器板上的探測點(diǎn),使用機(jī)械傳感器來計算扭矩和速度值,并獲取機(jī)械功率和系統(tǒng)/總體效率。
我們提出了一種有效的方法來測量傳感器和無傳感器系統(tǒng)的dq0分量和驅(qū)動矢量。您將看到如何結(jié)合克拉克和帕克變換與控制器電路行為相關(guān)聯(lián)。因此,電機(jī)設(shè)計師能夠通過使用D和Q分量來可視化給定電氣輸入時產(chǎn)生的最佳扭矩,并獲得電機(jī)效率的指示。使用示波器的游標(biāo)功能,dq0可以以采樣率為基準(zhǔn)看作一個旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系。對于無傳感器系統(tǒng),使用反電勢法和(濾波的)電信號精確計算偏移角度。dqo信號用于優(yōu)化控制器算法。相量圖同時顯示定子和轉(zhuǎn)子矢量。結(jié)果是一種簡化了電機(jī)設(shè)計師和驗(yàn)證工程師操作復(fù)雜度和成本的測量方法。
dq0直接與系統(tǒng)(電機(jī)-機(jī)械)效率相關(guān),因此需要計算電氣和機(jī)械功率。本演講涵蓋了DQ0和機(jī)械功率值的測量。
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電話:400-820-5835(周一至周五900)
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我們提供專業(yè)的測量洞見信息,旨在幫助您提高績效以及將各種可能性轉(zhuǎn)化為現(xiàn)實(shí)。
泰克設(shè)計和制造能夠幫助您測試和測量各種解決方案,從而突破復(fù)雜性的層層壁壘,加快您的全局創(chuàng)新步伐。我們攜手共進(jìn),一定能夠幫助各級工程師更方便、更快速、更準(zhǔn)確地創(chuàng)造和實(shí)現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步。
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