半導體器件封裝標準

國際上對封裝外形標淮化工作開展得較早，一般采用標淮增補單或外死注冊形式。

IEC SC47D 發(fā)布的 IEC 60191-2《半導體器件封裝標準 第2部分：外形》標準是以不斷發(fā)布補充件的形式，將新型封裝的外形補充到該標準中的。每年都有大量的新型封裝提案提交 IEC。這些提案是由各 個國家標誰化委員會向 IEC提出的，只要有達到規(guī)定數(shù)量的國家同意該標準草案，就可以開展標準化工作。

JEDEC 制定的 JEP 95 《 JEDEC 注冊外形圖》標淮與 IEC SC47D 發(fā)布的標淮異曲同工，只不過其外形標淮是由其會員公司提出的。

因此，IEC SC47D 和JEDEC 可以保證不斷更新封裝外形，將新出現(xiàn)的封裝形式子以標準化，并推廣應用。

20 世紀八九十年代，我國在半導體封裝外形標淮化方面的主要工作是制定了GB/T 7092—93《半導體集成電路外形尺寸》、GB/T 15138—94 《膜集成電路和混合集成電路外形尺寸》 和 GB/T 7581-87《半導體分立器件外形尺寸》。但這三項標準自發(fā)布以來一直沒有更新。隨著半導體技術的不斷進步發(fā)展，封裝技術為適應新型器件的需求，正在向小型化、輕量化、高密度集成的方向發(fā)展，球柵陣列（BGA)封裝、焊桂陣列（CGA）封裝、芯片尺寸封裝 (CSP)、圓片級封裝（WLP)、3D封裝等新型封裝技術不斷出現(xiàn)，我國亟待開展相關產(chǎn)品的國家標準研制工作。

在封裝命名標準化方面，各國的標準化組織對封裝外形結構的命名方式各異。IEC 60191-2 《半導體器件機械標準化 第2部分：外形》 中規(guī)定了標準的封裝外形尺寸，并且在每個封裝外形下給出了日本、美國、英國等國家或地區(qū)封裝外形的命名方式。我國的 GB/T 7092—93《半導體集成電路外形尺寸》等外形標準中也給出了相應的命名方式。

為了解決各個國家和地區(qū)封裝外形命名方式不統(tǒng)一的問題，IEC 47D 發(fā)布了IEC 60191-4 《半導體器件封裝標準 第4部分：半導體器件封裝的外形的符號體系和分類》，根據(jù)封裝外形的特征給出了型號命名方式。該標準的轉化工作已列人我國 2015 年國家標誰制修訂計劃，目前已完成標準報批工作，不久將正式發(fā)布實施。