廣立微推出新一代通用型高性能半導體參數(shù)測試系統(tǒng)T4000

近日，杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了新一代通用型高性能半導體參數(shù)測試系統(tǒng)T4000。該系列產(chǎn)品是對公司現(xiàn)有并行perpin測試設備T4100S的重要補充，能夠覆蓋不同用戶的使用需求。T4000的上市進一步拓展了公司的產(chǎn)品線，標志著廣立微在晶圓級電性測試設備領域取得了又一重大突破。

T4000通用型高性能半導體參數(shù)測試系統(tǒng)可覆蓋LOGIC，CIS,DRAM, SRAM, FLASH, BCD等所有產(chǎn)品的測試需求，支持第三代化合物半導體（SiC/GaN）的參數(shù)測試。

該系統(tǒng)擁有豐富的WAT、WLR測試算法庫，適配各類主流WAT探針卡，支持國際上各主要型號的探針臺，能夠高效完成所有常規(guī)WAT參數(shù)、常規(guī)WLR 參數(shù)以及addressable等先進測試芯片的測試，可廣泛應用于WAT, WLR及SPICE等領域。

相比市場上同類設備，T4000系列測試每片晶圓所需的時間大幅度縮短，提升幅度達20%至200%，具有很高的性價比，更適合對成本較為敏感的8英寸及以下產(chǎn)線。因其功能全面、穩(wěn)定性高、兼容性好，不僅可以用于新的產(chǎn)線，還可用于替代原有晶圓廠老舊的測試設備。 T4000系列主要優(yōu)勢

作為廣立微自主研發(fā)的通用型半導體參數(shù)測試系統(tǒng)，T4000系列采用了新一代超低漏電可擴展矩陣開關，具有精度高、速度快、靈活配置的特點，最高支持100 個測量引腳，實現(xiàn)多個module并行測試。由于其結構設計先進，具備完善的自檢和自校準功能，因此系統(tǒng)的穩(wěn)定性和一致性均得到顯著提升。T4000系列根據(jù)不同需求和使用場景，提供了三個主要型號，方便客戶選擇。

自2010年開始投入研發(fā)以來，廣立微一直致力于開發(fā)和提供技術領先、具有國際競爭力的半導體參數(shù)測試系統(tǒng)，現(xiàn)已發(fā)展成為國內(nèi)唯一能夠向集成電路量產(chǎn)線供應WAT測試設備的企業(yè)。經(jīng)過20多條客戶產(chǎn)線上百臺設備的長期驗證，廣立微的WAT測試設備具有質(zhì)量可靠、功能齊全、一致性強、測量精度高、測試效率快、交貨周期短、服務保障好等特點。此次廣立微推出T4000系列通用型高性能半導體參數(shù)測試系統(tǒng)，必將為公司的業(yè)務拓展注入新的動能。

未來，廣立微將繼續(xù)打造更多具有國際競爭力的技術創(chuàng)新與差異化產(chǎn)品，為客戶和市場提供性能優(yōu)越、生產(chǎn)效率高和性價比高的測試設備解決方案，為客戶創(chuàng)造更大價值。