一個(gè)比較器溫控電路的上下限調(diào)試手段

如圖所示的溫控電路，當(dāng)溫度低于下限時(shí)，電加熱裝置H啟動(dòng)工作；當(dāng)溫度高于上限時(shí)，電加熱裝置停止工作，實(shí)現(xiàn)溫度控制在上下限之間。

其中Rt是負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻。C1是比較器，V+>V-時(shí)輸出高電平，V+

電路調(diào)試手段：

1.Rp1觸頭往上移（上、下限溫度設(shè)置同向變化）

因?yàn)閷?duì)應(yīng)比較器上下限的2個(gè)基準(zhǔn)電位（V+）不變，Rp1觸頭往上移，V-增大，負(fù)溫度系數(shù)電阻Rt需要更大些，即上限、下限溫度設(shè)置會(huì)都更低點(diǎn)；

2.Rp2調(diào)大（上限變低，下限變高）

（1）加熱升溫過程，比較器出高電平，Rp2與R1先并聯(lián)，再與R2串聯(lián)。Rp2調(diào)大，會(huì)使比較的基準(zhǔn)電位V+減小，V-也減小，負(fù)溫度系數(shù)電阻Rt需要更大些，即上限溫度設(shè)置會(huì)更低點(diǎn)；

（2）降溫過程，比較器出低電平，Rp2與R2先并聯(lián)，再與R1串聯(lián)。Rp2調(diào)大，會(huì)使比較的基準(zhǔn)電位V+增加，V-也增加，負(fù)溫度系數(shù)電阻Rt需要更小些，即下限溫度設(shè)置會(huì)更高點(diǎn)。