金屬氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)是一種電壓控制器件,由源極、漏極、柵極和主體等端子構成,用于放大或切換電路內(nèi)的電壓,也廣泛用于數(shù)字應用的
IC。此外,也用于放大器和濾波器等模擬電路。MOSFET的設計主要是為了克服FET的缺點,例如高漏極電阻、中等輸入阻抗和運行緩慢。MOSFET有增強型和耗盡型兩種。本文主要介紹耗盡型MOSFET,以及它的使用場景。
什么是耗盡型MOSFET?
連接時通常打開而不施加任何柵極電壓的MOSFET稱為耗盡型MOSFET。在這個MOSFET中,電流從漏極端流向源極。這種類型的MOSFET也被稱為通常在設備上。
一旦在MOSFET的柵極端施加電壓,源極溝道的漏極將變得更具電阻。當柵源電壓增加更多時,從漏極到源極的電流將減少,直到電流從漏極到源極的流動停止。
耗盡型MOSFET符號
p 溝道和 n 溝道的耗盡型MOSFET符號如下所示。在這些MOSFET中,箭頭符號表示MOSFET的類型,如 P 型或 N
型。如果箭頭符號在內(nèi)部方向,則它是 n 通道,如果箭頭符號在外部,則它是 p 通道。
耗盡型MOSFET如何工作?
默認情況下會激活耗盡型MOSFET。在這里,源極和漏極是物理連接的。要了解MOSFET的工作原理,讓我們了解耗盡型MOSFET的類型。
耗盡型MOSFET的類型
耗盡型MOSFET結構因類型而異。MOSFET有兩種類型的 p 溝道耗盡模式和 n
溝道耗盡模式。因此,下面將討論每種耗盡型MOSFET結構及其工作原理。
N 溝道耗盡型MOSFET
N溝道耗盡型MOSFET的結構如下圖所示。在這種耗盡型MOSFET中,源極和漏極通過一小條 N 型半導體連接。這種MOSFET中使用的襯底是 P
型半導體,電子是這種MOSFET中的主要電荷載流子。在這里,源極和漏極被重摻雜。
N 溝道耗盡型MOSFET結構與增強型 n 溝道MOSFET結構相同,只是其工作方式不同。源極和漏極端子之間的間隙由n型雜質(zhì)組成。
當我們在源極和漏極等兩個端子之間施加電位差時,電流會流過襯底的整個 n
區(qū)。當在該MOSFET的柵極端施加負電壓時,電荷載流子(如電子)將在介電層下方的 n 區(qū)域內(nèi)被排斥并向下移動。因此,在通道內(nèi)將發(fā)生電荷載流子耗盡。
因此,整體溝道電導率降低。在這種情況下,一旦在 GATE 端施加相同的電壓,漏極電流就會減小。一旦負電壓進一步增加,它就會達到夾斷模式。
這里的漏極電流是通過改變溝道內(nèi)電荷載流子的耗盡來控制的,所以這被稱為耗盡型MOSFET。這里,漏極端子處于+ve電位,柵極端子處于-ve電位,源極處于“0”電位。因此,與源極與柵極相比,漏極與柵極之間的電壓變化較高,因此與源極端相比,耗盡層寬度與漏極相比較高。
P溝道耗盡型MOSFET
在 P 溝道耗盡型MOSFET中,一小條 P 型半導體連接源極和漏極。源極和漏極為P型半導體,襯底為N型半導體。大多數(shù)電荷載流子是空穴。
p 溝道耗盡型MOSFET結構與 n 溝道耗盡型MOSFET完全相反。該MOSFET包括一個在源極和漏極區(qū)域之間制成的溝道,該溝道用p
型雜質(zhì)重度摻雜。因此,在這個MOSFET中,使用了 n 型襯底,溝道為 p 型,如圖所示。
一旦我們在MOSFET的柵極端施加 +ve 電壓,那么 p
型區(qū)域中的少數(shù)電荷載流子(如電子)將由于靜電作用而被吸引并形成固定的負雜質(zhì)離子。因此,將在通道內(nèi)形成耗盡區(qū),因此,通道的電導率會降低。這樣,通過在柵極端施加+ve電壓來控制漏極電流。
一旦我們在MOSFET的柵極端施加 +ve 電壓,那么 p
型區(qū)域中的少數(shù)電荷載流子(如電子)將由于靜電作用而被吸引并形成固定的負雜質(zhì)離子。因此,將在通道內(nèi)形成耗盡區(qū),因此,通道的電導率會降低。這樣,通過在柵極端施加+ve電壓來控制漏極電流。
要激活這種耗盡型MOSFET,柵極電壓必須為 0V,并且漏極電流值要大,以便晶體管處于有源區(qū)。因此,再次打開這個MOSFET,+ve
電壓在源極端給出。因此,如果有足夠的正電壓并且在基極端子上沒有施加電壓,這個MOSFET將處于最大工作狀態(tài)并具有高電流。
要停用 P 溝道耗盡型MOSFET,有兩種方法可以切斷偏置正電壓,即為漏極供電,否則您可以向柵極端子施加 -ve 電壓。一旦向柵極端子提供-ve
電壓,電流將減小。隨著柵極電壓變得更負,電流減小直到截止,然后MOSFET將處于“關閉”狀態(tài)。因此,這會阻止大的源極漏電流。
因此,一旦向該MOSFET的柵極端子提供了更多的 -ve 電壓,那么該MOSFET將在源極 - 漏極端子上傳導更少和更少的電流。一旦柵極電壓達到某個
-ve 電壓閾值,它就會關閉晶體管。因此,-ve 電壓關閉晶體管。
N溝道耗盡型MOSFET的漏極特性
n 溝道耗盡型MOSFET的漏極特性如下所示。這些特性繪制在 VDS 和 IDSS 之間。當我們繼續(xù)增加 VDS 值時,ID
將增加。達到一定電壓后,漏極電流 ID 將變?yōu)槌?shù)。Vgs = 0 時的飽和電流值稱為 IDSS。
每當施加的電壓為負時,柵極端子處的該電壓就會將電荷載流子(如電子)推向基板。而且這個 p
型襯底內(nèi)的空穴也會被這些電子吸引。因此,由于這個電壓,通道內(nèi)的電子將與空穴重新結合。復合的速率將取決于施加的負電壓。
一旦我們增加這個負電壓,復合率也會增加,這樣就會減少。該通道內(nèi)可用的電子數(shù)量,將有效地減少電流。
當我們觀察上述特性時,可以看出當 VGS 值變得更負時,漏極電流會減小。在一定的電壓下,這個負電壓會變?yōu)榱?。該電壓稱為夾斷電壓。
這個MOSFET也適用于正電壓,所以當我們在柵極端施加正電壓時,電子將被吸引到 N
溝道。所以沒有。該通道內(nèi)的電子數(shù)量將增加。所以這個通道內(nèi)的電流會增加。所以對于正的 Vgs 值,ID 會比 IDSS 還要大。
N溝道耗盡型MOSFET的傳輸特性
N 溝道耗盡型MOSFET的傳輸特性如下所示,與 JFET 類似。這些特性定義了固定 VDS 值的 ID 和 VGS 之間的主要關系。對于正的 VGS
值,我們也可以得到 ID 值。
因此,特性曲線將延伸到右側。每當 VGS 值為正時,沒有。通道內(nèi)的電子數(shù)會增加。當 VGS 為正時,該區(qū)域為增強區(qū)域。類似地,當 VGS
為負時,該區(qū)域稱為耗盡區(qū)。
ID和Vgs的主要關系可以用ID = IDSS (1-VGS/VP)^2來表示。通過使用這個表達式,我們可以找到 Vgs 的 ID 值。
P溝道耗盡型MOSFET的漏極特性
P溝道耗盡型MOSFET的漏極特性如下所示。這里,VDS電壓為負,Vgs電壓為正。一旦我們繼續(xù)增加 Vgs,Id(漏極電流)就會減小。在夾斷電壓下,該
Id(漏極電流)將變?yōu)榱恪R坏?VGS 為負值,則 ID 值甚至會高于 IDSS。
P溝道耗盡型MOSFET的傳輸特性
P 溝道耗盡型MOSFET的傳輸特性如下所示,它是 n 溝道耗盡型MOSFET傳輸特性的鏡像。在這里我們可以觀察到,從截止點到 IDSS,正 VGS
區(qū)域的漏極電流增強,然后隨著負 VGS 值的增加,它繼續(xù)增加。
耗盡型MOSFET應用包括:
(1)在恒流源和線性穩(wěn)壓器電路中用作傳輸晶體管。
(2)廣泛用于啟動輔助電源電路。
(3)通常,這些MOSFET在沒有施加電壓時會打開,這意味著它們可以在正常條件下傳導電流。因此,這在數(shù)字邏輯電路中用作負載電阻。
(4)用于 PWM IC 內(nèi)的反激電路。
(5)用于電信交換機、固態(tài)繼電器等。
-
MOSFET
+關注
關注
143文章
7045瀏覽量
212495 -
場效應晶體管
+關注
關注
6文章
358瀏覽量
19457 -
電壓控制器
+關注
關注
0文章
32瀏覽量
8837
發(fā)布評論請先 登錄
相關推薦
評論