FormFactor引領(lǐng)行業(yè)數(shù)據(jù)完整性

準確，可重復(fù)的IV / CV測量 - 當精確模型和數(shù)據(jù)變得關(guān)鍵時

最佳決策取決于最佳數(shù)據(jù)。

對于幾乎所有的器件類型和半導(dǎo)體技術(shù)， DC參數(shù)測量貫穿于半導(dǎo)體產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)的每個階段。它在高級材料研究，工藝特性，器件特性和建模，設(shè)計調(diào)試，工藝監(jiān)控和生產(chǎn)晶圓測試發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

精確且可重復(fù)的直流參數(shù)測量（IV，CV，脈沖和高功率）可降低不確定性?？煽康慕Y(jié)果可加速產(chǎn)品認證并生成更精確的模型和設(shè)計工具包，從而使設(shè)計師能夠更快地向市場提供更具競爭力的產(chǎn)品。

我們以此為目標重新定義了分析測試系統(tǒng) - 為在片測試提供全新的電氣環(huán)境。通過消除可能破壞測試結(jié)果的環(huán)境因素，探針臺對于測量儀器確實變得“隱形”。自從1991年第一臺MicroChamber探針臺問世以來，F(xiàn)ormFactor的Cascade探針臺系統(tǒng)產(chǎn)品始終具有相同的使命 – 獲得最佳數(shù)據(jù)以做出最佳決策，使客戶獲得成功

最佳決策取決于最佳數(shù)據(jù)。對于幾乎所有的器件類型和半導(dǎo)體技術(shù)， DC參數(shù)測量貫穿于半導(dǎo)體產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)的每個階段。它在高級材料研究，工藝特性，器件特性和建模，設(shè)計調(diào)試，工藝監(jiān)控和生產(chǎn)晶圓測試發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

精確且可重復(fù)的直流參數(shù)測量（IV，CV，脈沖和高功率）可降低不確定性?？煽康慕Y(jié)果可加速產(chǎn)品認證并生成更精確的模型和設(shè)計工具包，從而使設(shè)計師能夠更快地向市場提供更具競爭力的產(chǎn)品。

我們以此為目標重新定義了分析測試系統(tǒng) - 為在片測試提供全新的電氣環(huán)境。通過消除可能破壞測試結(jié)果的環(huán)境因素，探針臺對于測量儀器確實變得“隱形”。自從1991年第一臺MicroChamber探針臺問世以來，F(xiàn)ormFactor的Cascade探針臺系統(tǒng)產(chǎn)品始終具有相同的使命 – 獲得最佳數(shù)據(jù)以做出最佳決策，使客戶獲得成功

測試完整性面臨各方面的威脅

大量因素可能會破壞直流電性測試。由于外部環(huán)境的影響，電噪聲可能出現(xiàn)在數(shù)據(jù)中 - 例如，來自蜂窩網(wǎng)絡(luò)，無線電/電視塔和附近電子設(shè)備的電磁干擾和射頻干擾，以及溫度和振動等物理因素。

測試系統(tǒng)內(nèi)部的因素也會影響結(jié)果 - 例如，設(shè)計不良的信號路徑產(chǎn)生的漏電流，電阻或熱電壓偏移，材料能量存儲以及來自于基本的探針臺系統(tǒng)組件的電噪聲，如電源，平臺電機，溫控系統(tǒng)和電腦。

如果管理不當，這些因素會導(dǎo)致數(shù)據(jù)偏移和整個樣本集的統(tǒng)計分布增加，從而嚴重降低電性能。糟糕的數(shù)據(jù)是昂貴的 - 重新測試的時間，額外的建模周期，延遲的產(chǎn)品發(fā)布以及性能不佳的產(chǎn)品。

測試完整性面臨各方面的威脅

高質(zhì)量數(shù)據(jù)不會因意外事故而發(fā)生

FormFactor經(jīng)驗豐富的設(shè)計團隊一再提高電性測試的性能標準。不斷的創(chuàng)新，與我們尊貴的客戶一起精心的研究，開發(fā)了大量的高效率的技術(shù)套件：EMI / RFI和光屏蔽，電噪聲濾波，信號保護，單點接地，噪聲去耦，接觸電阻降低，電容和電感管理等等。所有這些技術(shù)在寬泛的溫度范圍和全自動操作中都被證明是成功的，其中的挑戰(zhàn)呈指數(shù)級增長。

對電性測試完整性的細致關(guān)注是FormFactor分析探針臺系統(tǒng)的獨特之處，使客戶的成功與數(shù)據(jù)完整性相結(jié)合。

FormFactor引領(lǐng)行業(yè)數(shù)據(jù)完整性

經(jīng)過成千上萬的客戶數(shù)十年的嚴格應(yīng)用實踐，這些工具得到了驗證，使得FormFactor成為分析探針臺系統(tǒng)的全球市場份額領(lǐng)導(dǎo)者。其他廠商可能只是聲稱測量性能，但是FormFactor可以證實它。請先了解這些技術(shù)FormFactor的全球演示中心。

FormFactor提供完整的生態(tài)系統(tǒng)，用于收集高質(zhì)量的在片電性測試數(shù)據(jù) - 帶有探針臺，載物臺，探針和電纜的完整解決方案。

DCP-HTR低噪聲高溫探針

低噪音FemtoGuard三軸高低溫載物臺

Takumi DC參數(shù)小間距探針卡

全新面世 - 全套解決方案

經(jīng)驗豐富的銷售，應(yīng)用和設(shè)計工程師隨時準備與您一起應(yīng)對最新的測試挑戰(zhàn)。無論是在手動，常溫探針臺上測試單個樣品，還是使用全自動多溫度工具管理大批量工程測試，F(xiàn)ormFactor都可以快速提供當今快節(jié)奏和苛刻的商業(yè)環(huán)境所需的完整性數(shù)據(jù)。