淺談IC測試座及探針作用

測試插座的主要起著一個連接導(dǎo)通的作用，用于集成電路應(yīng)用功能驗證。它是PCB與IC之間的靜態(tài)連接器，可以讓芯片的更換測試更方便，不用一直重復(fù)焊接和取下芯片，從而減少IC與PCB的損傷，以及達(dá)到快速高效的測試效果。

也許聽起來比較復(fù)雜，簡而言之它就是一個符合芯片測試要求的精密轉(zhuǎn)接頭。

今天凱智通小編就帶大家一起了解下，這個小小的轉(zhuǎn)接頭到底精密在哪里？

我們將測試插座拆解開來，會發(fā)現(xiàn)它大致五個部分組成。

第一部分：芯片和芯片測試座引腳接觸的部分；

第二部分：接觸介質(zhì)部分的結(jié)構(gòu)；

第三部分：引腳引出部分；

第四部分：測試座的外部固定結(jié)構(gòu)；

第五部分：材料部分，接觸介質(zhì)和外部結(jié)構(gòu)的材料符合此款芯片的測試要求。

測試探針，是半導(dǎo)體測試中，最常見且十分重要的冶具。

探針結(jié)構(gòu)也是采用鈹銅，根據(jù)實際的測試要求表面鍍層，一般應(yīng)用于BGA，QFN等，探針直上直下的結(jié)構(gòu)，能在原有測試主板的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行機(jī)械結(jié)構(gòu)的組合，在測試芯片的同時，還原測試版的原有功能。

主要用于手機(jī)等電子產(chǎn)品中，起連接作用。探針有錫球測試:指測試帶有完整錫球的IC芯片，采用爪頭探針，直接與錫球接觸;無錫球測試:指測試沒有錫球的Ic芯片，采用尖頭探針，直接與 PAD 接觸;

凱智通測試探針

探針的內(nèi)部具有彈性結(jié)構(gòu)，其針頭的仿形使其匹配不同的需求，能夠增加接觸面與接觸穩(wěn)定性，從而降低接觸阻抗，輔助測試更好地進(jìn)行。

隨著我國半導(dǎo)體事業(yè)的發(fā)展，國產(chǎn)探針需求逐年遞增，探針行業(yè)處于高速發(fā)展階段！

可過電流值可達(dá)3A，可過頻率值：20GHz，電阻值:60mΩ，測試壽命高達(dá)10萬次！

審核編輯：湯梓紅