過(guò)壓檢測(cè)電路原理圖，過(guò)電壓檢測(cè)電路分析

過(guò)壓檢測(cè)電路原理圖

過(guò)電壓檢測(cè)電路原理圖如圖所示。當(dāng)有過(guò)電壓信號(hào)產(chǎn)生時(shí)，壓敏電阻被擊穿，呈現(xiàn)低阻值甚至接近短路狀態(tài)，這樣在電流互感器的一次側(cè)產(chǎn)生一個(gè)大電流，通過(guò)線圈互感作用，在二次側(cè)產(chǎn)生一個(gè)小電流，再通過(guò)精密電阻把電流信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡妷盒盘?hào)；這個(gè)信號(hào)輸入到電壓比較器LM393后，電壓比較器LM393輸出高電平，經(jīng)過(guò)非門A輸出的控制脈沖1控制電源回路，斷開開關(guān)電源電路，啟動(dòng)備用電源?？刂泼}沖2送到單片機(jī)的中斷中，單片機(jī)控制回路啟動(dòng)A/D轉(zhuǎn)換，采樣過(guò)電壓的瞬時(shí)值。

過(guò)電壓檢測(cè)電路（一）

D19為穩(wěn)壓二極管，當(dāng)輸入電壓VIN大于（Vz+0.7）V時(shí)，IO_IN由高電平變?yōu)榈碗娖?，?a target="_blank">MCU 的GPIO中斷可以方便的檢測(cè)到。

過(guò)電壓檢測(cè)電路（二）

利用光藕來(lái)做隔離檢測(cè)，D1為穩(wěn)壓二極管，當(dāng)輸入電壓VIN大于（VZ+VF）時(shí)，光耦導(dǎo)通，VF為光耦原邊發(fā)光二極管導(dǎo)通壓降，IO_IN由高電平變?yōu)榈碗娖?，用MCU的GPIO中斷可方便的實(shí)現(xiàn)隔離檢測(cè)。

過(guò)電壓檢測(cè)電路（三）

D2為穩(wěn)壓二極管，當(dāng)輸入電壓VIN大于（Vz+0.7）V時(shí)，IO_VIN由高電平變?yōu)榈碗娖?，用MCU的GPIO中斷腳可以方便的檢測(cè)到;

過(guò)電壓檢測(cè)電路（四）

運(yùn)用比較器，過(guò)壓檢測(cè)點(diǎn)可以通過(guò)R5、R7來(lái)設(shè)置;輸入電壓VIN經(jīng)電阻R11與R12分壓之后再做比較，IO_IN由低電平變?yōu)楦唠娖綍r(shí)，用MCU的GPIO中斷可以方便實(shí)現(xiàn)檢測(cè)。