晶體測試儀電路圖詳解
這種晶體測試儀電路的想法源于測試大量未使用的振蕩器晶體的需要。在沒有適當(dāng)設(shè)備的情況下逐個測試晶體將非常緩慢且耗時。然而，商用晶體測試儀非常昂貴，這就是這種簡單的電子晶體測試儀誕生的原因。
晶體管T1和待測試晶體一起構(gòu)成一個完整的晶體振蕩器。電容器C1和C2用作連接到晶體管T1的電容分壓器。如果被測晶體完好無損，則電路振蕩。正弦波振蕩電壓饋送到整流電路（d1、D2），并由電容C4濾波。對于完整的晶體，晶體管T2底部的直流電壓足以使晶體管導(dǎo)通。LED亮起，表示晶體良好。
電子電路用于測試頻率從100kHz到30MHz的晶體。電流消耗很低：約25mA。
晶體測試儀電路圖
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
-
晶體測試儀
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
5瀏覽量
5676 -
測試儀電路
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
9瀏覽量
6774
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
晶體管測試儀電路圖大全（CD4022/雙極晶體管/NE555時基電路圖詳解）
本文主要介紹了晶體管測試儀電路圖大全（CD4022/雙極晶體管/NE555時基電路圖詳解）。通過
發(fā)表于 03-20 09:06
?2.3w次閱讀
電池內(nèi)阻測試儀的校準(zhǔn)_電池內(nèi)阻測試儀電路圖
本文主要介紹了電池內(nèi)阻測試儀的校準(zhǔn)及電池內(nèi)阻測試儀的電路圖。
發(fā)表于 08-14 11:22
?9021次閱讀
一個簡單的晶體管測試儀電路圖
這是TRIAC、SCR和晶體管測試儀的電路圖。這是一個非常簡單的電路，可用于測試 SCR 和三端雙向可控硅開關(guān)。該
工商網(wǎng)監(jiān)
評論