IS802異常測(cè)試
使用儀器:
固緯GPD-4303S
SIGLENT-SDS2354X
福祿克 FLUKE 17B
測(cè)試電路:
圖1:IS802被測(cè)電路 IS802EVM
備注:所有測(cè)試項(xiàng)用的同一顆芯片
測(cè)試項(xiàng)1:負(fù)載短路
測(cè)試項(xiàng)1 測(cè)試條件1:
VCC=3.3V
EN=3.3V
測(cè)試波形:
圖2:VOUT輸出波形
圖3:VOUT 短路到開路后輸出波形
測(cè)試項(xiàng)1 測(cè)試條件2:
VCC=5V
EN=5V
測(cè)試波形:
圖4:VOUT輸出波形
圖5:VOUT 短路到開路后輸出波形
測(cè)試項(xiàng)2:引腳短路
測(cè)試項(xiàng)2測(cè)試條件1:
VCC=3.3V
EN=3.3V
D1和VCC 引腳短路,其他不變
測(cè)試波形:
圖6:上電后VOUT 波形
圖7:芯片溫度約44℃
圖8:IS802 短路D1時(shí)D2輸出波形
測(cè)試項(xiàng)2測(cè)試條件2:
VCC=3.3V
EN=3.3V
VOUT 輸出短路
D1和VCC 引腳短路,其他不變
測(cè)試波形:
圖9:VOUT輸出波形
圖10:VOUT 短路到開路后輸出波形
測(cè)試項(xiàng)2測(cè)試條件3:
VCC=5V
EN=5V
D1和VCC 引腳短路,其他不變
測(cè)試波形:
圖11:VOUT輸出波形
圖12:芯片溫度約45℃
圖13:D1短路時(shí)D2輸出波形
測(cè)試項(xiàng)2測(cè)試條件4:
VCC=5V
EN=5V
VOUT 輸出短路
D1和VCC 引腳短路,其他不變
測(cè)試波形:
圖14:VOUT 輸出波形
圖15:VOUT 短路到開路后輸出波形
測(cè)試項(xiàng)2測(cè)試條件5:
VCC=5V
EN=5V
VCC和D1引腳短路移除測(cè)試輸出情況
測(cè)試波形:
圖16:故障移除后VOUT上電波形
圖17:VOUT 輸出短路波形
圖18:VOUT 短路到開路后輸出波形
測(cè)試項(xiàng)3:輸入過(guò)壓
測(cè)試項(xiàng)3測(cè)試條件1:
VCC=EN=5.5V~break down Voltage
圖19:黃色-VCC色-D1 藍(lán)色-D2
圖20:黃色-VCC色-D1 藍(lán)色-D2
圖21:黃色-VCC色-D1 藍(lán)色-D2
圖22:黃色-VCC紅色-D1 藍(lán)色-D2
在輸入電壓約6.63V時(shí)候D1和D2不再輸出見圖19。當(dāng)電壓到達(dá)6.5V時(shí)D1和D2又繼續(xù)正常輸出見圖20,輸出電壓從8V掉到6.5V以后VOUT還是正常輸出,見圖21。
當(dāng)輸入電壓達(dá)到9.95V后D1和D2徹底沒有輸出,直接燒毀。
燒毀后VCC和GND,D1,D2,EN內(nèi)部短路。
結(jié)論
目前測(cè)試來(lái)看,只有輸入過(guò)壓會(huì)造成芯片損毀,輸入過(guò)壓值已經(jīng)遠(yuǎn)超手冊(cè)規(guī)定最大值。
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芯片設(shè)計(jì)
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Vcc
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瞬態(tài)過(guò)壓
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GND
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