有時(shí)候做設(shè)計(jì)時(shí),我們會(huì)遇到外部按鍵比較多,IO口不夠用的情況。這時(shí)大部分人會(huì)考慮通過其它芯片擴(kuò)展IO,或者直接換一個(gè)IO口足夠的MCU。其實(shí),還有個(gè)方法可以實(shí)現(xiàn)一個(gè)IO上掛多個(gè)按鍵———即采用ADC掃描。
一、硬件及原理
電路圖如下:
當(dāng)沒有按鍵按下時(shí),ADC的電壓為3.3V,由于不同按鍵對(duì)應(yīng)的分壓電阻不同,所以不同按鍵按下時(shí),得到的ADC電壓也不同。通過采樣ADC的電壓即可判斷是哪個(gè)按鍵被按下。這種方式也支持組合按鍵。
設(shè)計(jì)時(shí)需要計(jì)算好每個(gè)按鍵的分壓電阻阻值,使每個(gè)按鍵的分壓值(包括組合按鍵)有較明顯區(qū)別,便于ADC區(qū)分。
上面這種方式為并聯(lián)式接法,還有一種串聯(lián)式接法:
這種方式與上面的原理一樣,但不同的是,這種方式不支持組合按鍵,且有按鍵優(yōu)先級(jí)之分,當(dāng)S8按下時(shí)下面的按鍵無效。即S8優(yōu)先級(jí)最高,S9次之,以此類推。
理論上,上述兩種方式都可以一個(gè)IO掛很多按鍵,但掛的越多,每個(gè)按鍵的分壓后的電壓就越接近,越不容易區(qū)分,導(dǎo)致誤判。所以如果按鍵太多,還是要分多個(gè)ADC端口來采樣。
另外,分壓電阻的選擇也要考慮ADC的輸入阻抗。有些MCU內(nèi)置ADC輸入阻抗較低,電阻選擇不合適可能導(dǎo)致采樣誤差較大。
二、消抖
上圖中并聯(lián)的10nF電容有利于消除一些高頻噪聲和抖動(dòng),但最好在軟件上也做消抖處理。方式與普通按鍵類似,即多次采樣判斷。每次采樣間隔10ms左右即可。
審核編輯:湯梓紅
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