汽車電子EMC測試：怎么快速定位引起發(fā)射超標的干擾源？

汽車電子EMC測試：怎么快速定位引起發(fā)射超標的干擾源？|深圳比創(chuàng)達EMC

汽車電子EMC測試：怎么快速定位引起發(fā)射超標的干擾源？相信不少人是有疑問的，今天深圳市比創(chuàng)達電子科技有限公司就跟大家解答一下！

汽車電子零部件EMC測試超標時有發(fā)生，發(fā)射測試的超標經(jīng)常困擾著現(xiàn)場跟進的工程師們，電磁發(fā)射看不見摸不著，怎么快速定位引起發(fā)射超標的干擾源？

汽車電子零部件EMC發(fā)射測試包含CTE（電源線瞬態(tài)傳導(dǎo)發(fā)射），MFE（低頻磁場發(fā)射）CE（傳導(dǎo)發(fā)射）-AN（電壓法）和CP（電流法）以及RE（輻射發(fā)射）四項，

下面我們來一一解析：

汽車電子發(fā)射測試項目

1．CTE測試超標

CTE測試的超標一般由內(nèi)部大功率的磁性器件引起，如電機的線圈，電磁鐵的線圈、濾波電路中的大功率電感等，這些部件在關(guān)閉的瞬間會產(chǎn)生很強的瞬態(tài)脈沖。

CTE測試超標數(shù)據(jù)

2．MFE測試超標

MFE測試的超標一般由內(nèi)部大功率的磁性器件引起，如電機的線圈，電磁鐵的線圈、新能源部件中的大功率感性部件等，這些部件在工作時會產(chǎn)生的低頻磁場干擾。

MFE測試超標數(shù)據(jù)

3．CE測試超標

CE測試中的超標一般由開關(guān)電源和地處理不良引起，測試數(shù)據(jù)中的窄帶騷擾引起超標一般為開關(guān)電源引起，寬帶騷擾超標一般由地處理不良引起。

開關(guān)電源模塊引起的AN測試超標-窄帶騷擾

地處理不良引起的CP測試超標-寬帶騷擾

4．RE測試超標

RE測試中的低頻超標一般由開關(guān)電源和地處理不良引起，高頻超標一半為內(nèi)部時鐘或晶振的處理不良引起倍頻超標，這些信號會有很強的規(guī)律，很容易區(qū)分。

開關(guān)電源模塊引起的RE測試超標

晶振/時鐘引起的RE測試超標

地處理不良引起的RE測試超標

綜上所述，相信通過本文的描述，各位對汽車電子EMC測試：怎么快速定位引起發(fā)射超標的干擾源都有一定了解了吧，有疑問和有不懂的想了解可以隨時咨詢深圳比創(chuàng)達這邊。今天就先說到這，下次給各位講解些別的內(nèi)容，咱們下回見啦！也可以關(guān)注我司wx公眾平臺：深圳比創(chuàng)達EMC！

以上就是深圳市比創(chuàng)達電子科技有限公司小編給您們介紹的汽車電子EMC測試：怎么快速定位引起發(fā)射超標的干擾源的內(nèi)容，希望大家看后有所幫助！

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審核編輯 黃宇