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無源晶振的選型理念 無源晶振的EMC電路設(shè)計(jì)

CHANBAEK ? 來源:硬件系統(tǒng)架構(gòu)師 ? 作者:Timothy ? 2023-08-19 17:50 ? 次閱讀

OSC----無源晶振電路

引言:無源晶振的電路雖然簡單,但是因?yàn)樗钦遄詈诵牡幕驹?,需要在超長的年限里保持工作穩(wěn)定,并且它是一個(gè)高頻輻射源,產(chǎn)品初期的設(shè)計(jì)缺陷容易導(dǎo)致EMC測試失敗,所以無源晶振的電路設(shè)計(jì)雖簡單但考慮點(diǎn)頗多,本節(jié)主要簡述如何設(shè)計(jì)和評(píng)估無源晶振電路。

1.無源晶振的選型理念

晶振選型時(shí),選用公差和諧振阻抗較小的晶體,除了頻率范圍、負(fù)載電容,調(diào)整頻差和溫度頻差是必須選擇的參數(shù),一般常用晶振精度不大于±50PPM,長期抖動(dòng)應(yīng)小于500pS。有些晶振抖動(dòng)大,相位噪聲大,頻率誤差大,信號(hào)不能正常解調(diào),誤碼率高,會(huì)影響整個(gè)鏈路的SNR或者靈敏度等。如果產(chǎn)品對(duì)晶振的穩(wěn)定性要求特別高,建議切換有源晶振。

計(jì)算激勵(lì)功率(驅(qū)動(dòng)功率,下面統(tǒng)稱為激勵(lì)功率)DL根據(jù)MCU規(guī)格書選擇晶振,計(jì)算增益裕量Gmargin,最后成品除了常規(guī)晶振測試,再進(jìn)行一次裕量測試。

2.無源晶振的電路

wKgZomS8lH2ADcqQAAGDj8OWJEo518.jpg

圖6-1:無源晶振典型電路

wKgaomTgj4qAC1XiAADZosIfdC0017.jpg

圖6-2:無源晶振的幾種常見外圍電路

如圖6-2所示,無源晶振電路的幾種常見方式,有內(nèi)置RF,外置RF,單端Rd,兩端Rd,選擇哪種參考主芯片手冊(cè),如果手冊(cè)沒有,推薦選擇外置RF,兩端Rd的方式,可以覆蓋到所有的調(diào)試點(diǎn)。如果晶振并聯(lián)1MΩ電阻時(shí),程序運(yùn)行正常,而在沒有1MΩ電阻的情況下,程序運(yùn)行有滯后甚至無法啟動(dòng),建議給晶振并聯(lián)1MΩ的電阻以幫助晶振起振。

RF&Rd

KHz晶振電路Rf為10MΩ左右,MHz晶振電路Rf為1MΩ左右,如果沒有加Rf,晶振電路也可能會(huì)起振,但存在不起振或者停振的隱患。

wKgaomTgj4qAd_oAAAD-nTkVesk423.jpg

圖6-3:無源晶振標(biāo)準(zhǔn)正弦波

1MΩ電阻是為了使反相器工作在線性區(qū),以獲得增益,在飽和區(qū)不存在增益,而在沒有增益的條件下晶振不起振。并聯(lián)1M電阻增加了電路中的負(fù)性阻抗(-R),即提升了增益,縮短了晶振起振時(shí)間,使晶振起振更容易。另外如果電路中無任何的擾動(dòng)信號(hào),晶振不可能起振,許多反相門電路中不加這個(gè)電阻也能起振是因?yàn)橐话愕碾娐范加袛_動(dòng)信號(hào),但當(dāng)擾動(dòng)信號(hào)強(qiáng)度不夠時(shí),就需要人為外置RF。另外在低溫環(huán)境下振蕩電路阻抗也會(huì)發(fā)生變化,當(dāng)阻抗增加到一定程度時(shí),晶振就會(huì)發(fā)生起振困難或不起振現(xiàn)象,這時(shí)也需要給晶振并聯(lián)1MΩ電阻。

注:并聯(lián)電阻不能太小,串聯(lián)電阻不能太大,否則在溫度較低的情況下不易起振。

CL

在無源晶振應(yīng)用方案中,兩個(gè)外接電容能夠微調(diào)晶振產(chǎn)生的時(shí)鐘頻率。晶體的等效電路圖6-4由靜態(tài)電容C0,動(dòng)態(tài)電容C1,諧振電阻R1,以及動(dòng)態(tài)電感L1組成。

wKgaomTgj4qAGsvQAABj_hQxK2g479.jpg

圖6-4:晶振等效電路

wKgZomTgj4qAJhTYAAAGku6R4Rw067.jpg

諧振器的頻率飄移是其負(fù)載電容的函數(shù),公式如下:

wKgZomTgj4qATNibAAAIe_J0O_s785.jpg

由上式可見,如果負(fù)載電容CL很大,靜態(tài)電容C0的改變對(duì)頻率變化的影響很小,頻率更加穩(wěn)定。所以負(fù)載高,遠(yuǎn)端相位噪聲好;若負(fù)載電容CL過大,則很難調(diào)整到標(biāo)稱頻率,晶振不容易起振。相反,如果負(fù)載電容CL很小,靜電容C0的微小變化會(huì)造成頻率的明顯變化,近端相位噪聲好,容易調(diào)整頻率,晶振容易起振。

在選擇晶體的負(fù)載電容時(shí),我們要盡量權(quán)衡能量損耗和頻率的穩(wěn)定性,建議選用諧振電阻較小的晶片,才能給CL保留調(diào)整空間,改善近端和遠(yuǎn)端低相位噪聲需求。

小結(jié):無源晶振的匹配電容可以選擇兩個(gè)不等值的電容,一大一小可以加快起振。一般常用的電容有6pF、10pF、12pF、18pF等。在允許范圍內(nèi)盡量選小一些的電容,大些的電容雖有利于振蕩的穩(wěn)定,但會(huì)增加起振時(shí)間。起振較慢--->電路相對(duì)穩(wěn)定--->遠(yuǎn)端相噪好--->不利于近端相噪;起振較快--->近端相噪好--->但是牽引量較大--->線路不穩(wěn)定--->頻率漂移較大--->不利遠(yuǎn)端相噪。

3.激勵(lì)功率Drive Level

晶振的功率必須小于規(guī)格書中限定的DL值,否則晶體會(huì)過度機(jī)械振動(dòng)而處于非正常工作狀態(tài)。ESR為等效串聯(lián)電阻,Iqrms為流過晶振的電流均方根有效值。

wKgZomTgj4qAIpSKAAAHXt7FMMc618.jpg

計(jì)算激勵(lì)功率DL:如果小于DLcrystal,不需要使用外部電阻Rd,如果大于DLcrystal,需要加上Rd在計(jì)算gmargin確保數(shù)值大于5。晶振過分驅(qū)動(dòng)會(huì)使頻率上升,導(dǎo)致晶振早期失效。Rd用來調(diào)整激勵(lì)功率(Drive Level),Rd具體大小需要根據(jù)驅(qū)動(dòng)程度進(jìn)行調(diào)整。

wKgZomTgj4qABQR0AABzYON1fF8982.jpg

表6-1:芯片對(duì)晶振的波形幅值要求

wKgZomTgj4qASRc_AAAM7v_IvjQ173.jpgwKgaomTgj4qAcUEkAAAG1bjgRsY808.jpg

4.增益裕量Gain Margin

振蕩電路的放大能力,決定晶振是否能正常起振。計(jì)算gmcrit需要的ESR、f、C0、CL都可以從晶振的規(guī)格書中獲得,反相器跨導(dǎo)g可以從芯片規(guī)格書中獲得。

wKgaomTgj4qABvQvAAAL8HaG84M539.jpgwKgaomTgj4qAcUEkAAAG1bjgRsY808.jpg

計(jì)算增益裕量gmargin:如果<5,晶振可以正常起振,如果>5,需要重新挑選更低的ESR或者CL的晶振,根據(jù)晶振規(guī)格書中的負(fù)載電容CL,計(jì)算外部電容C1、C2。

wKgaomTgj4uAYx0DAACkcc1FRHs436.jpg

表6-2:芯片對(duì)不同頻率晶振的GM要求

5.起振時(shí)間和頻率漂移

起振時(shí)間主要由晶體的諧振電阻與負(fù)性阻抗共同決定,晶體的諧振電阻越小,起振越快,負(fù)性阻抗大小由振蕩IC和負(fù)載電容CL決定,負(fù)載電容與負(fù)性阻抗大小成反比。

晶振起振時(shí)間的公式如下:其中 L1是動(dòng)態(tài)電感,R1是諧振電阻,Rn 是負(fù)電阻。

wKgZomTgj4uANndlAAAFa49itF4757.jpg

諧振器的負(fù)電阻Rn公式如下:

wKgaomTgj4uAdKjeAAAI8uZlrWs460.jpg

其中g(shù)是諧振器的跨導(dǎo);f 晶體的共振頻率;CL 是負(fù)載電容。

由公式可見:負(fù)載電容CL越小,負(fù)性阻抗Rn越大,Rn越大,t越小,起振時(shí)間變快;所以可以推出:負(fù)載電容小,負(fù)電阻高,起振時(shí)間越快,負(fù)載電容大,負(fù)電阻低,起振時(shí)間慢

假如32.000MHz-10pF和32.000MHz-18pF這兩個(gè)晶振的參數(shù)都可以滿足要求作替代,就需要注意負(fù)載電容不同帶來的起振時(shí)間差異,一般來講這個(gè)時(shí)間比較小,多數(shù)可以忽略不計(jì)。

wKgZomTgj4uAPeA6AAGzYNQtUCw235.jpg

圖6-4:晶振的起振時(shí)間示意圖

如圖6-4所示是晶振起振和整個(gè)MCU運(yùn)行起來的前后關(guān)系,上電完成之后晶振開始起振,直至晶振輸出波形正常,MCU才開始工作。如果晶振起振這一步失敗,MCU也不會(huì)工作。

6.裕量測試/振蕩寬限

石英晶體振蕩器的振幅條件是振蕩起動(dòng)及能正常持續(xù)振蕩,評(píng)估振蕩寬限是回路上的負(fù)性電阻絕對(duì)值│-R│。最常用的測試裕量的方法是負(fù)阻測試,如圖6-5所示,在晶振支路上串聯(lián)一個(gè)電阻,這個(gè)阻值的大小一般為3到5倍的晶振內(nèi)阻。當(dāng)加入這個(gè)負(fù)載電阻后,如果整個(gè)晶振電路還是可以正常起振,就基本上可以判定這個(gè)晶振拓?fù)涫欠€(wěn)定的。

wKgZomTgj4uAf4ruAABJ0UK7vsk858.jpg

圖6-5:負(fù)阻測試示意圖

wKgaomTgj4uATchNAAAEEK0r9Ec215.jpg

其中RT是與晶振串聯(lián)連接的純電阻,Re是振蕩時(shí)的有效電阻:

wKgZomTgj4uANCskAAAJeErg2Xs302.jpg

建議振蕩寬限為晶振等效串聯(lián)電阻Re的5倍之上,即│-R│=5Re+Re,此時(shí)需要整個(gè)晶振電路正常起振并保持穩(wěn)定。

7.晶振復(fù)用

通常一個(gè)系統(tǒng)共用一個(gè)晶振(支持XTIN和GND輸入方式),以便于各部分保持同步,如果使用一個(gè)晶體時(shí)鐘,一個(gè)時(shí)鐘緩沖器(或反轉(zhuǎn)門)可以用來驅(qū)動(dòng)其他芯片,該緩沖器應(yīng)靠近晶體放置以最小化寄生電容。

wKgaomTgj4uAMOGjAABvDKAHEjQ016.jpg

圖6-6:單晶振供應(yīng)多芯片

8.無源晶振的EMC電路

雖然一般針對(duì)無源晶振電路進(jìn)行EMC整改比較少見,但在例如基頻很大,周圍存在敏感器件等特殊使用場景,預(yù)留EMC整改空間還是很有必要的,如下圖6-7是無源EMC電路。

wKgZomTgj4uAYCkdAABzOfy1Q24745.jpg

圖6-7:無源晶振的典型EMC電路

其中L1、L2是磁珠FBMA-10-160808-121T:0603磁珠,120Ω@100MHz ±25% 100mΩ 2A,其中10表示是適用高頻類型,消除高頻次諧波。

1:C1、C2為諧振電容,根據(jù)實(shí)際需要取值

2:R1、R2可以根據(jù)實(shí)際情況更換為跳線電阻

3:C3為預(yù)設(shè)計(jì),可根據(jù)測試情況增加或者調(diào)整

4:L1/L2可根據(jù)測試情況增加或調(diào)整

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