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芯片綁線質量問題有哪些

jt_rfid5 ? 來源:半導體封裝工程師之家 ? 2023-08-24 17:16 ? 次閱讀

機器問題:硅再次開裂,過多的力量、力量或時間。除非有完全斷裂,否則不能發(fā)生,除非完全斷裂是由粘結腳的抬起引起的。在拉力測試中發(fā)現(xiàn)了最壞的情況。通?!癘K”在芯片上,而不是在傳感器上。

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編輯:黃飛

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原文標題:【光電集成】芯片綁線(wire bonding)質量問題詳解

文章出處:【微信號:今日光電,微信公眾號:今日光電】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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