開關電源老化測試時出現(xiàn)燒壞現(xiàn)象，查找問題“七步法”請收好！

對電源產(chǎn)品進行老化測試是為了檢驗和提高電源產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性和安全性，它是生產(chǎn)工藝流程中的一個重要環(huán)節(jié)。老化測試可以幫助制造商確保其產(chǎn)品在各種工作條件下均能正常工作，從而提供高品質(zhì)的電源解決方案。
客戶在生產(chǎn)過程中發(fā)現(xiàn)有小批樣機在老化測試過程中燒壞。根據(jù)客戶的描述，我們提供了幾個重要步驟來查找問題。
以下為測試樣機圖片：

CR5215BSC樣機圖片

【應用】小功率電源適配器/圣誕燈、LED驅(qū)動器/蜂窩電話充電器/替代線性調(diào)整器RCC

【規(guī)格】5V1A

【控制IC】CR5215BSC

關于CR5215BSC

高精度恒流/恒壓原邊控制功率開關

CR5215BSC是一款應用于小功率AC/DC充電器和電源適配器的高性能離線式脈寬調(diào)制控制器。該芯片采用原邊檢測和調(diào)整的拓撲結(jié)構(gòu)，因此在應用時無需TL431和光耦。芯片內(nèi)置恒流/恒壓兩種控制方式。在恒流控制時，最大輸出電流和輸出功率可以通過CS 引腳的限流電阻RS設定。在恒壓控制時，內(nèi)置恒壓采樣電路以及高精度的誤差比較器基準電壓保證了芯片的高性能和高精度。此外，內(nèi)置線損補償電路保證了從空載到滿載條件下輸出電壓精度。芯片還具有極低的靜態(tài)工作電流，芯片待機功耗低于75mW。

CR5215BSC針對各種故障設計了一系列完善的保護措施，包括逐周期峰值電流限制、VDD過壓保護、FB開路保護、輸出短路保護、前沿消隱、過溫保護、電源鉗位和欠壓鎖定功能。在FB上拉電阻開路，F(xiàn)B下拉電阻短路，輸出二極管開路或者短路，變壓器繞組短路，CS引腳電阻開路等故障條件下都能有效保護，使得芯片具有更高的可靠性。

主要特點

●低啟動電流●恒壓精度可達±5%、恒流精度可達±5%●全電壓范圍內(nèi)高精度恒壓和恒流輸出●可編程CC/CV模式控制●高能效QR控制模式●內(nèi)置初級電感量偏差補償功能●內(nèi)置輸出線電壓補償功功能●內(nèi)置全電壓功率自適應補償功能●無音頻噪音控制技術●VDD端過壓、欠壓保護功能●VDD端鉗位電路●內(nèi)置輸出過壓保護功能●內(nèi)置FB開路、短路保護功能●內(nèi)置輸出二極管開路、短路保護功能●內(nèi)置前沿消隱電路●逐周期電流限制●過載保護功能●過溫保護功能●SOP-7L綠色封裝

基本應用

●小功率電源適配器●蜂窩電話充電器●圣誕燈、LED驅(qū)動器●替代線性調(diào)整器和RCC

典型應用

管腳排列

管腳描述

【問題描述】

客戶在生產(chǎn)過程中發(fā)現(xiàn)有小批樣機在老化測試過程中燒壞。

【解決思路】

當開關電源老化過程中出現(xiàn)燒壞問題時，可以采取以下步驟來查找問題：

1

外觀檢查：首先，檢查開關電源外觀是否有燒焦、變色、膨脹或明顯的損壞跡象。這可能表明某些元件或線路發(fā)生了故障。

2

檢查電路保護器：檢查開關電源中是否存在保險絲、保護管或保護器件。如果某部分被熔斷或損壞，那么很可能是由于過流或過載導致的問題。

3

測量輸出電壓和電流：使用萬用表或示波器等測試工具，測量開關電源的輸出電壓和電流。確保輸出電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)，并檢查是否有異常紋波或漏電流。

4

檢查開關元件：開關電源中的開關元件（如MOSFET、IGBT等）可能會受到過電壓或過電流的影響而燒壞。通過檢查這些元件是否存在斷路、短路或明顯損壞來判斷它們的工作狀態(tài)。

5

檢查電容器：開關電源中的電容器也是常見的故障點。檢查電容器是否存在漏液、漏電或明顯膨脹等異常情況。

6

檢查散熱系統(tǒng)：過熱是開關電源故障的常見原因之一。檢查散熱器、風扇和散熱片等散熱部件是否正常工作，以及是否有堵塞或損壞。

7

檢查控制電路：開關電源的控制電路可能也會出現(xiàn)故障，導致無法正常工作。檢查控制芯片、驅(qū)動電路和反饋電路等部分是否存在問題。

【調(diào)通要點】

首先按上述思路先檢查外觀，查看是否有明顯損壞，發(fā)現(xiàn)IC有輕微燒壞的現(xiàn)象。檢查基本波形，發(fā)現(xiàn)CS波形有輕微彎曲。

如圖，CS波形正常來說是一條很直的斜線，圖上有輕微彎曲，說明磁芯的感量已經(jīng)趨于飽和。經(jīng)過測量，發(fā)現(xiàn)初級繞組感量Lp為2.6mH，確實偏大了。磁飽和會使電源溫度升高，從而導致燒壞樣機，于是減小感量。

【最終結(jié)果】

把感量減小到2.4mH，彎曲波形有所改善，消除了因磁飽和而導致電源燒壞的隱患。在合理范圍內(nèi)，增大感量可以增加效率，但過度增加反而會帶來各種隱患。