ATECLOUD芯片測試系統(tǒng)如何對芯片靜態(tài)功耗進行測試？

靜態(tài)功耗也叫靜態(tài)電流，是指芯片在靜止狀態(tài)下的電流或者是指芯片在不受外界因素影響下自身所消耗的電流。靜態(tài)功耗是衡量芯片功耗與效率地重要指標。

傳統(tǒng)手動測試靜態(tài)功耗只需在芯片的輸入端串上一臺萬用表，然后對芯片各個端口添加合適的電壓即可測量出芯片的靜態(tài)電流，整個流程十分簡單，但是芯片的制作工藝極為復雜多樣，同時芯片規(guī)格也千變?nèi)f化，因此手動測試在面對多批次、多規(guī)格的芯片測試時難免顧此失彼。很難保證測試的高效性和數(shù)據(jù)的準確性。所以芯片測試系統(tǒng)的使用就可以很明顯的避免這個問題。芯片的制作工藝極為復雜多樣，同時芯片規(guī)格也千變?nèi)f化，因此手動測試在面對多批次、多規(guī)格的芯片測試時難免顧此失彼。

而納米軟件的ATECLOIUD芯片測試系統(tǒng)，測試靜態(tài)功耗只需先手動連接線路，然后在測試系統(tǒng)中根據(jù)測試步驟搭建對應的工步，然后運行軟件可以完成整個測試，搭建過程只需2分鐘，而測試過程只需幾秒即可得出測試出結(jié)果，非常適用于大批量芯片測試，一次接線后就無需再次手動變更參數(shù)、更換線路，系統(tǒng)可自動完成參數(shù)配置、數(shù)據(jù)測量、數(shù)據(jù)讀取以及數(shù)據(jù)儲存，同時可以將數(shù)據(jù)結(jié)果一鍵導出數(shù)據(jù)報告，極大的提升測試效率，避免出現(xiàn)數(shù)據(jù)錯漏，提高測試準確性。

ATECLOUD芯片測試系統(tǒng)

雖然靜態(tài)功耗手動測試也十分迅速，但是相對芯片自動測試系統(tǒng)來說，系統(tǒng)的優(yōu)勢也相當明顯，除了測試效率性、數(shù)據(jù)準確性，芯片測試系統(tǒng)還有大數(shù)據(jù)分析功能，系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)洞察模塊，可以對采集到的數(shù)據(jù)進行整體分析和整理，可以將所有數(shù)據(jù)以折線圖或柱狀圖等形勢集中展示，為企業(yè)的發(fā)展和決策方向提供數(shù)據(jù)支持。
審核編輯 黃宇