在一些電源芯片或穩(wěn)壓芯片中,通常內(nèi)部都會(huì)有穩(wěn)壓反饋電路,這些電路可以將輸入電壓通過內(nèi)部調(diào)整后輸出一個(gè)穩(wěn)定的輸出電壓,以滿足電路中的穩(wěn)定電源需求。也就是說芯片的穩(wěn)壓反饋就是內(nèi)部穩(wěn)壓反饋電路中的電壓。
芯片穩(wěn)壓反饋的原理
穩(wěn)壓反饋電路通過比較輸出電壓與參考電壓之間的差值,來控制輸出穩(wěn)定電壓的大小。當(dāng)輸出電壓偏高時(shí),反饋電路會(huì)通過調(diào)整內(nèi)部的電路,降低輸出電壓;當(dāng)輸出電壓偏低時(shí),反饋電路會(huì)提高輸出電,以使其穩(wěn)定在設(shè)定好的電壓范圍內(nèi)。
芯片穩(wěn)壓反饋的測試
電源芯片的穩(wěn)壓反饋測試是相對簡單的項(xiàng)目,因?yàn)橐话愕碾娫葱酒头€(wěn)壓芯片都會(huì)直接把穩(wěn)壓電路封裝好通過FB引腳與外界相連,所以測試先平的穩(wěn)壓反饋只需使用萬用表測量FB端的電壓值即可。
電源芯片穩(wěn)壓反饋的測試需要一臺(tái)多通道直流電源和一臺(tái)數(shù)字萬用表,測試之前需要使用直流電源給芯片的VIN和EN端輸入電壓和電流,保證芯片正常啟動(dòng),之后只需要在FB端口接入數(shù)字萬用表,測出FB端口的輸出電壓,此時(shí)萬用表測出的電壓值即為該芯片的穩(wěn)壓反饋電壓。
ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)測試穩(wěn)壓反饋
使用系統(tǒng)測試芯片的穩(wěn)壓反饋時(shí),具體步驟基本與手動(dòng)相同,不過因?yàn)樾枰\(yùn)行軟件與儲(chǔ)存數(shù)據(jù),所以相比手動(dòng)測試來說會(huì)多出一個(gè)邊緣計(jì)算設(shè)備硬件,通過邊緣計(jì)算設(shè)備可以將電腦和測試儀器硬件連接到同一局域網(wǎng)之內(nèi)就可以進(jìn)行自動(dòng)化測試了。
ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)只需通過電腦打開瀏覽器登陸ATECLOUD的網(wǎng)址與賬號,即可進(jìn)入方案界面,在項(xiàng)目搭建界面通過指令拓展完成穩(wěn)壓反饋的方案搭建之后,就可以通過方案運(yùn)行界面一鍵進(jìn)行測試,方案一次搭建終身使用,方案的搭建過程只需5-10分鐘,而整個(gè)測試過程則只需5-10秒即可完成,同時(shí)可以直接采集儀器上的參數(shù)與指標(biāo),免去人工讀取與記錄的過程。
軟件測試穩(wěn)壓反饋中最為核心的便是測試項(xiàng)目的搭建,ATCLOUD-IC采用的是拖拽文字指令的形式,我們會(huì)提前將儀器的操作指令封裝到系統(tǒng)中,用戶使用時(shí)直接拖拽即可,平時(shí)手動(dòng)如何測試,就選擇對于的指令,即使沒有編程經(jīng)驗(yàn)的工程師也能輕松上手,同時(shí)項(xiàng)目一次搭建,終身使用,后續(xù)不同規(guī)格、不同參數(shù)的芯片測試,只需調(diào)整參數(shù)即可,可以提升測試效率500%,可以幫助企業(yè)極大的減少學(xué)習(xí)成本與人力成本,從而為企業(yè)降本增效提供助力。
審核編輯 黃宇
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