S01_DDR仿真是如何解決低溫死機(jī)問(wèn)題的呢？

DDR設(shè)計(jì)在產(chǎn)品項(xiàng)目中占有舉足輕重的地位，俗話說(shuō)，最小系統(tǒng)設(shè)計(jì)成功，那項(xiàng)目就已經(jīng)成功了一大半。

DDR的問(wèn)題，真的層出不窮，各式各樣，跟SI工程師有多少關(guān)系呢？

說(shuō)實(shí)話，SI工程師做好設(shè)計(jì)那是本分，但是，很多時(shí)候，DDR的問(wèn)題不一定是你的設(shè)計(jì)出現(xiàn)的。一個(gè)好的SI工程師可以避免問(wèn)題出現(xiàn)，一個(gè)優(yōu)秀的SI工程師則是在出現(xiàn)了問(wèn)題后還能解決。所以說(shuō)，SI工程師能解決本分之外的問(wèn)題，那就是加分項(xiàng)了。

舉個(gè)栗子，這是個(gè)簡(jiǎn)單的改版案子，DDR部分完全照抄公版，所以沒(méi)有仿真。

然后呢，低溫測(cè)試死機(jī)。

軟件掃描結(jié)果，發(fā)現(xiàn)信號(hào)質(zhì)量異常，Ringback嚴(yán)重，導(dǎo)致時(shí)序失常。

既然是信號(hào)問(wèn)題，那肯定要重新仿真了。

果不其然，發(fā)現(xiàn)軟件掃描的這組數(shù)據(jù)信號(hào)確實(shí)有問(wèn)題，其他三組正常。

這就奇怪了，這只是一個(gè)改版，原版沒(méi)有問(wèn)題，這版怎么會(huì)出信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題？

找到病因，下一步自然是去查L(zhǎng)ayout，不查不知道，一查嚇一跳！

不多說(shuō)，看圖上亮點(diǎn)。Layout居然犯這種錯(cuò)，掉孔。修改后如下圖。查看公版也是有的。

改版后自然啥毛病都沒(méi)有。

審核編輯：劉清