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晶體管相關(guān)電阻的公式匯總

CHANBAEK ? 來(lái)源:尋隱在線 ? 作者: playwfd ? 2023-10-21 10:55 ? 次閱讀

在分析晶體管相關(guān)電路的時(shí)候經(jīng)常會(huì)用到相關(guān)電阻的公式,這里做一些匯總,以便查閱。

二極管交流電阻

交流電阻等于伏安特性曲線相應(yīng)的切線斜率的倒數(shù):

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根據(jù)下面的伏安特性方程

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其中各參數(shù)說(shuō)明如下:

  • IS是反向飽和電流,一般通過(guò)查二極管的數(shù)據(jù)規(guī)格書得到,典型值在10e-15~10e-13A之間
  • uD是偏置電壓,正偏時(shí)為正,反偏時(shí)為負(fù)
  • UT為熱電壓,一般在常溫下約為26mV

對(duì)iD求導(dǎo),可以求出切線斜率:

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這樣

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說(shuō)明電阻隨著電流的增大而減小。

BJT交流電阻

雙極性晶體管結(jié)構(gòu)示意圖如下:

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體電阻rbb′, rcc, ree 一般忽略,所以主要看rb'e, rb'c, rce

下面直接基于兩個(gè)基本公式進(jìn)行推導(dǎo)(求導(dǎo)求斜率),自己推導(dǎo)一遍理解更深刻。也將教科書上面的間接推導(dǎo)方式放出,進(jìn)一步加深理解。

兩個(gè)基本公式:

BJT大信號(hào)Ebers Moll方程:

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電流關(guān)系:

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將發(fā)射極到基極看作普通的二極管具有PN結(jié),使用上面的公式得出re:

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求電阻就是求電壓電流之比,對(duì)應(yīng)到電壓電流曲線上的切線(導(dǎo)數(shù))。這樣基于上面的基本公式可以進(jìn)行求導(dǎo)推導(dǎo)得出電阻。在推導(dǎo)過(guò)程中有時(shí)候適當(dāng)使用近似公式。

注意對(duì)每個(gè)電阻的定義。另外靜態(tài)工作電流表述IE或者IEQ都是指一回事情,可能混用。

基區(qū)復(fù)合電阻rb'e

定義基區(qū)復(fù)合電阻rb'e為uB'E與iB的特性曲線切線斜率。

對(duì)發(fā)射結(jié)到基極的PN結(jié),根據(jù)上面二極管的推導(dǎo),可以得到這個(gè)PN結(jié)電阻公式re:

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對(duì)rb'e可以求導(dǎo)得出。先做一下轉(zhuǎn)換:

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求導(dǎo):

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對(duì)特定點(diǎn),iB用對(duì)應(yīng)的IEQ靜態(tài)電流替換/帶入,參見(jiàn)放大電路中的直流負(fù)載線和交流負(fù)載線理解為什么能替換:

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教科書上面的方法:

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考慮到ub'e/ie就是小信號(hào)條件下發(fā)射結(jié)的正向偏置電阻re,由上面的PN結(jié)正向偏置交流電阻的估算公式:

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所以:

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由以上分析可以看出,rb'e是發(fā)射結(jié)的正向偏置電阻re折合到基極回路的等效電阻,反映了基極電流受控于發(fā)射結(jié)電壓的物理過(guò)程,rb'e越大,ub'e產(chǎn)生的ib越小。從數(shù)值上來(lái)看,rb'e與發(fā)射極工作點(diǎn)電流IEQ近似成反比。其物理概念是:工作點(diǎn)電流較大時(shí),發(fā)射結(jié)電壓增量產(chǎn)生的iC和iB的電流增量都會(huì)增大,也即發(fā)射結(jié)的信號(hào)電壓產(chǎn)生的ic和ib的信號(hào)電流會(huì)增大,即rb'e減小。

集-射極間電阻rce

定義集-射極間電阻rce為uCE與iC的特性曲線切線斜率:

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用靜態(tài)工作點(diǎn)化簡(jiǎn):

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即為:

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教科書上面的方法:

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由相似三角形法則:

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由于厄爾利電壓UA的典型值為100 V,在BJT的工作點(diǎn)Q(ICQ,UCEQ)上通常滿足UA?UCEQ,所以rce可近似估算為:

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rce的大小反映了uCE在反偏集電結(jié)上的電壓增量通過(guò)基區(qū)寬調(diào)效應(yīng)(也稱厄爾利效應(yīng))產(chǎn)生iC增量的大小。rce越大,iC受基區(qū)寬調(diào)效應(yīng)影響越小,輸出特性曲線越平坦,理想條件下輸出特性曲線為水平線,rce→∞。一般當(dāng)uBE一定時(shí),iC受uCE的影響較小,rce的值較大,通常在幾十千歐姆以上。

集電結(jié)電阻rb'c

定義集電結(jié)電阻rb'c為uCE與iB的特性曲線切線斜率:

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用靜態(tài)工作點(diǎn)化簡(jiǎn):

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教科書上的過(guò)程:

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rb'c反映了反偏集電結(jié)電壓的變化對(duì)基極電流的影響。rb'c越大,uce產(chǎn)生的ib 越小。由于集電結(jié)反偏電壓增加時(shí),根據(jù)前述的基區(qū)寬調(diào)效應(yīng),基極電流會(huì)減小,使得式(2-36)中的導(dǎo)數(shù)為負(fù)值,故rb'c取其絕對(duì)值。BJT在線性運(yùn)用時(shí)由于集電結(jié)反偏,因此rb'c很大,約為100kΩ~10MΩ。

BJT的跨導(dǎo)gm

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跨導(dǎo)gm反映了發(fā)射結(jié)電壓uBE對(duì)集電極電流iC的控制能力。gm越大,則發(fā)射結(jié)電壓增量產(chǎn)生的集電極電流的增量就越大。在小信號(hào)條件下,gm近似等于集電極電流的交流分量ic與發(fā)射結(jié)上電壓的交流分量ub'e之比。將ic≈ie代入式:

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MOSFET交流電阻

因?yàn)镸OSFET柵極絕緣,所以相對(duì)來(lái)說(shuō)簡(jiǎn)單一些。下面是幾組基本公式:

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  • λ是溝道調(diào)制系數(shù),1/λ相當(dāng)于BJT的厄爾利(Early)電壓UA
  • βn 是管子的增益系數(shù)
  • μn是MOS管溝道中電子的遷移率(μn=600~800 cm2/(V·s))
  • Cox是SiO2 氧化層單位面積電容量[Cox=(3~4)×10-8 F/cm2]
  • W/L是溝道寬度與長(zhǎng)度之比,簡(jiǎn)稱寬長(zhǎng)比。在W/L一定時(shí),βn是常數(shù)。

當(dāng)λ=0,不考慮溝道調(diào)制效應(yīng),即忽略u(píng)DS 對(duì)iD 影響:

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MOSFET各種模型參數(shù)的典型值:

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漏源動(dòng)態(tài)電阻

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當(dāng)λUDS?1時(shí),且令Early電壓為UA=1/λ,則:

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轉(zhuǎn)移跨導(dǎo)gm

MOSFET是電壓控制器件,柵極輸入端上沒(méi)有電流,故討論它的輸入特性是沒(méi)有意義的。為了描述柵源電壓uGS對(duì)漏極電流iD的控制作用,在輸出特性的基礎(chǔ)上引入轉(zhuǎn)移特性的概念。所謂轉(zhuǎn)移特性是指在漏源電壓uDS為常數(shù)的情況下,柵源電壓uGS對(duì)漏極電流iD的控制特性。

柵源電壓對(duì)漏極電流的控制能力用跨導(dǎo)來(lái)反映,它相當(dāng)于轉(zhuǎn)移特性曲線工作點(diǎn)上的斜率。跨導(dǎo)gm是表征MOSFET放大能力的一個(gè)重要參數(shù),單位為mS或μS。gm一般在十分之幾至幾mS的范圍內(nèi),特殊的可達(dá)100 mS,甚至更高。值得注意的是,跨導(dǎo)隨管子的工作點(diǎn)不同而不同,它是MOSFET小信號(hào)模型的重要參數(shù)之一??鐚?dǎo)數(shù)學(xué)定義如下:

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當(dāng)λuDS ? 1時(shí):

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換一種表達(dá)方式有:

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可見(jiàn),在βn為常數(shù)(W/L為常數(shù))時(shí),gm與過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓(uGS -uGS(th))成正比,或與漏極電流ID的平方根成正比。

若漏極電流ID恒定時(shí),gm與過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓(uGS -uGS(th))成反比,而與βn的平方根成正比。所以要增大gm,可以通過(guò)增大βn(W/L)值,也可以通過(guò)增大ID來(lái)實(shí)現(xiàn),但以增大W/L值最有效。

另外與雙極型三極管(BJT)的跨導(dǎo)gm=IC/UT相比較可以看出:對(duì)于BJT管,當(dāng)IC確定后,gm與幾何形狀無(wú)關(guān),而MOS管的跨導(dǎo)gm除了可通過(guò)ID調(diào)節(jié)外,還和幾何尺寸W/L的值有關(guān);BJT的跨導(dǎo)gm與IC成正比,而MOS管的跨導(dǎo)gm與漏極電流ID的平方根成正比,因此在同樣的工作電流情況下,MOS管的跨導(dǎo)要比雙極型三極管的跨導(dǎo)小得多。

背柵跨導(dǎo)gmb

集成電路中,為使各MOSFET管之間相互隔離,NMOSFET的襯底要接電路的最低電位,PMOSFET的襯底要接電路的最高電位,因此襯底和源極之間的電壓uBS往往不等于零。通常把uBS對(duì)MOSFET特性的影響叫體效應(yīng)或襯底調(diào)制效應(yīng),這是在MOS集成電路中必須考慮的問(wèn)題。

開(kāi)啟電壓值UGS(th)隨襯底與源極間的負(fù)偏壓數(shù)值的增加而增加,這種現(xiàn)象稱為背柵控制特性。背柵控制特性反映了uBS(襯源電壓或背柵電壓)對(duì)iD的控制能力。定義如下:

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背柵控制能力也可以用背柵跨導(dǎo)gmb與轉(zhuǎn)移跨導(dǎo)gm之比來(lái)描述:

gmb = ηgm (η典型值一般約為0.1~0.3)

亞閾區(qū)跨gmsub

亞閾區(qū)導(dǎo)電特性是指uGS

亞閾區(qū)(用下標(biāo)sub表示)的柵極跨導(dǎo)gmsubG :

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源極跨導(dǎo)為gmsubS :

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MOSFET交流小信號(hào)等效模型

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BJT與MOSFET匯總

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基本放大電路

共集與共基忽略了rce

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某些情況下面忽略了rds

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