金屬結(jié)構(gòu)作為大型機(jī)械設(shè)備的支持構(gòu)架,其結(jié)構(gòu)強(qiáng)度是影響機(jī)械設(shè)備安全可靠運(yùn)行的關(guān)鍵。隨著機(jī)械設(shè)備朝著大型化、重型化、高速化方向發(fā)展,要求設(shè)備具有更高安全性,從而突出了結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度要求。應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試是研究機(jī)械結(jié)構(gòu)強(qiáng)度的重要手段,同時(shí)也廣泛用于起重機(jī)、龍門吊、大型工程機(jī)械,以及大飛機(jī)上的應(yīng)力測(cè)試等。
機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)力監(jiān)測(cè)常用的有光纖光柵傳感器監(jiān)測(cè)與電阻應(yīng)變計(jì)技術(shù)監(jiān)測(cè)。技術(shù)型授權(quán)代理商Excelpoint世健的工程師Galen Zhang基于電阻應(yīng)變計(jì)原理的ADI應(yīng)力測(cè)試應(yīng)用方案展開了詳細(xì)介紹。
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電阻應(yīng)變計(jì)的基本結(jié)構(gòu)與原理
電阻應(yīng)變計(jì)的基本結(jié)構(gòu)主要由四部分組成:金屬電阻應(yīng)變絲(敏感柵)、基體、引線和覆蓋層(如圖 1)。金屬電阻應(yīng)變絲是把結(jié)構(gòu)應(yīng)變轉(zhuǎn)化為電阻變化的敏感部分,也是電阻應(yīng)變片的重要組成部分;基體是敏感柵的支撐材料,具有良好的絕緣性,可以使敏感柵和被粘貼物之間保持良好的絕緣性;引線的主要作用是連接敏感柵和測(cè)量電路,將電信號(hào)輸送到測(cè)量電路;覆蓋層可以有效保護(hù)敏感柵,防止敏感柵受到機(jī)械損傷和環(huán)境溫度與濕度的侵?jǐn)_等。
圖1.電阻應(yīng)變計(jì)結(jié)構(gòu)
將電阻應(yīng)變計(jì)安裝(如粘貼或焊接)在被測(cè)結(jié)構(gòu)件表面上,結(jié)構(gòu)件受力而變形時(shí),電阻應(yīng)變計(jì)的敏感柵隨之產(chǎn)生相同應(yīng)變,其電阻值發(fā)生變化,用儀器測(cè)量此電阻變化即可測(cè)量出構(gòu)件表面沿敏感柵軸線方向的應(yīng)變。因此,電阻應(yīng)變計(jì)的主要性能與敏感柵有關(guān),取敏感柵材料金屬細(xì)絲,研究其把應(yīng)變轉(zhuǎn)換成電阻變化的關(guān)系。
金屬細(xì)絲的電阻R與絲的長(zhǎng)度L成正比,而與其截面積A成反比,按物理學(xué)有下列公式:
在一定應(yīng)變范圍內(nèi)μ、m是常數(shù),因此K0也是常數(shù),即電阻相對(duì)變化與應(yīng)變成
比例,K0稱為金屬絲的靈敏系數(shù),因此可通電阻測(cè)量來反應(yīng)應(yīng)變。
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電阻應(yīng)變計(jì)的測(cè)量方案
測(cè)試流程
最前端的傳感器由壓電元件擔(dān)任,常用的是應(yīng)變片或應(yīng)變計(jì)。應(yīng)變片本身是一個(gè)比較精密的電阻,貼合在機(jī)身表面后,機(jī)身表面的形變也可以傳遞到應(yīng)變片上;而應(yīng)變片本身又是接入到惠斯通電橋中的。因此,機(jī)身的形變也就由物理量轉(zhuǎn)換成了電學(xué)的模擬信號(hào),傳遞到了測(cè)量電路中;再通過帶有屏蔽層的雙絞線等,傳遞到運(yùn)放芯片,將本來還比較微弱的電信號(hào)放大,并最終通過 ADC 轉(zhuǎn)換芯片轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)。最后,機(jī)身形變這一物理量,轉(zhuǎn)換成了數(shù)字量,并存儲(chǔ)到電路后端的 CPU 中做計(jì)算和處理。可將此方法繪制成框圖(如圖 2)。
圖2.應(yīng)變計(jì)測(cè)試流程
系統(tǒng)框圖
下圖3所示為ADI的應(yīng)變計(jì)測(cè)量方案。通過差動(dòng)運(yùn)放AD8276產(chǎn)生一個(gè)激勵(lì)電流源或電壓源加在應(yīng)變變片。通過AD8422儀表放大器完成惠斯通電橋中應(yīng)變片上信號(hào)的轉(zhuǎn)換。經(jīng)過濾波放大后送給ADC來采集模擬信號(hào)。最終經(jīng)過MCU換算出應(yīng)變計(jì)上電阻變化從而求出應(yīng)力變化。
圖3.系統(tǒng)框圖
重點(diǎn)型號(hào)介紹
圖4所示為ADI應(yīng)變計(jì)測(cè)量方案信號(hào)鏈中型號(hào)特性描述。
圖4.信號(hào)參數(shù)
激勵(lì)源介紹
精密電流源傳統(tǒng)上采用運(yùn)算放大器、電阻和其它分立器件構(gòu)建,但存在尺寸、精度和溫度漂移等方面的不足。如今,高精度、低功耗、低成本集成差動(dòng)放大器的AD8276使得尺寸更小、性能更高的電流源變成現(xiàn)實(shí)(如圖5)。反饋緩沖器使用低失調(diào)、低偏置電流放大器,例如ADA4098-2、ADA4622-2、AD8610、AD8603等具體取決于所需電流范圍。
圖5 .差動(dòng)放大器和運(yùn)算放大器構(gòu)成精密電流源
輸出電流可以通過下式計(jì)算:
SENSE引腳可以耐受幾乎為電源兩倍的電壓,因此第二個(gè)限制條件相當(dāng)寬松。2.5V至36V的寬電源電壓范圍使得AD8276成為許多應(yīng)用的理想之選。A級(jí)和B級(jí)的最大增益誤差分別為0.05%和0.02%,因此電流源精度最高可達(dá)0.02%。
如果所需輸出電流小于AD8276的輸出能力15 mA,則可去掉升壓晶體管,如果低電流和降低精度均能接受,則可采用更為簡(jiǎn)單的低成本配置(如圖6)。
圖6.針對(duì)低成本、低電流應(yīng)用的簡(jiǎn)化電路
輸入電壓VREF可以是DAC輸出、基準(zhǔn)電壓源或傳感器輸出。如果需要可編程電流源,推薦使用精密14位或16位DAC,如AD5645R、AD5692R、AD5764R、 AD5663R和AD5668等。至于基準(zhǔn)電壓源,要求更高性能時(shí)推薦使用精密基準(zhǔn)源ADR43x和ADR45xx;要求低功耗時(shí)推薦使用ADR36x;要求低成本時(shí)推薦使用AD158x和ADR504x;要求小尺寸時(shí)推薦使用集成運(yùn)算放大器與基準(zhǔn)電壓源ADR82x。
惠斯通電橋介紹
應(yīng)變計(jì)阻抗測(cè)量使用AD8422搭惠斯通電橋來測(cè)量(如圖7)。
圖7.惠斯通電橋
儀表放大器AD8422是一款精密、低功耗、低噪聲軌到軌儀表放大器,具有業(yè)界優(yōu)質(zhì)的每單位微安性能。AD8422以超低失真性能處理信號(hào),在整個(gè)輸出范圍內(nèi)負(fù)載不影響性能。
AD8422是業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)AD620發(fā)展到第三代的產(chǎn)品。具有極低的偏置電流,高源阻抗時(shí)不會(huì)產(chǎn)生誤差,允許多個(gè)傳感器多路復(fù)用至輸入端。低電壓噪聲和低電流噪聲特性使AD8422成為測(cè)量惠斯通電橋的理想選擇。
AD8422主要特點(diǎn)
? 低功耗:最大靜態(tài)電流330μA
?低噪聲:1khz時(shí)最大輸入電壓噪聲8nv /√Hz
?電壓漂移 :±0.3 μV/°C最大輸入偏置電壓漂移 ,±2 μV/°C最大輸出偏置電壓漂移
?出色交流特性:10 kHz時(shí)的CMRR:80 dB(最小值,G = 1)
?高帶寬:2.2 MHz @G=1
?出色直流特性:
CMRR:150 dB(最小值,G = 1000)
增益誤差:0.04%(最大值,G = 1000)
輸入失調(diào)漂移:0.3 μV/°C(最大值)
輸入偏置電流:0.5 nA(最大值)
?電源:4.6 V至36v或±2.3 V至±18v
電源介紹
LT8653S主要特點(diǎn)
?Silent Switcher2 架構(gòu):
可在任何 PCB 上實(shí)現(xiàn)超低 EMI
消除了 PCB 布局敏感性
內(nèi)部旁路電容器可降低發(fā)射的 EMI
可選的擴(kuò)頻調(diào)制功能
?雙通道且每個(gè)通道可同步提供 2 A 直流電流
?可選的外部 VC 引腳:快速瞬態(tài)響應(yīng)
?1 A 時(shí)效率為 94.1%,2MHz 時(shí)可從 12 VIN提供 5 VOUT
?快速最短開關(guān)接通時(shí)間:30 ns
?可調(diào)并且可同步:300 kHz 至 3 MHz
?具備快速內(nèi)部補(bǔ)償功能的內(nèi)部 2 MHz fSW
ADI應(yīng)力測(cè)試應(yīng)用方案可以幫助客戶進(jìn)行高效的電阻應(yīng)變測(cè)試,是進(jìn)行測(cè)量惠斯通電橋的理想選擇,ADI還提供靈活豐富的產(chǎn)品方案滿足客戶個(gè)性化需求,其授權(quán)代理商Excelpoint世健能為客戶提供技術(shù)支持,有助于客戶縮短產(chǎn)品開發(fā)周期,加快產(chǎn)品應(yīng)用部署。
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電阻
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測(cè)試
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adi
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