如何測(cè)試電源紋波和噪聲？納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)如何助力測(cè)試？

紋波及噪聲測(cè)試是電源模塊測(cè)試項(xiàng)目之一，也是電源模塊測(cè)試的重要環(huán)節(jié)，因?yàn)榧y波噪聲對(duì)設(shè)備的性能和穩(wěn)定性有很大影響。通過電源紋波噪聲測(cè)試，檢測(cè)電源紋波情況，從而提升電源的性能。納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)助力紋波和噪聲測(cè)試，提升測(cè)試效能。

電源模塊紋波及噪聲測(cè)試方法

紋波噪聲測(cè)試是檢測(cè)直流輸出電壓的紋波及噪聲，通常情況下對(duì)其標(biāo)準(zhǔn)是：≤輸出電壓的1%。在測(cè)試過程中，需要用到交流電源、電子負(fù)載、示波器、溫控室等測(cè)試設(shè)備。

測(cè)試條件：各種LINE和LOAD條件及溫度條件，各種輸入電壓、輸出負(fù)載(Min.-MAX. LOAD)

注意事項(xiàng)：測(cè)試前先設(shè)置輸出并聯(lián)SPEC.規(guī)定的濾波電容，通常為10uF/47uF電解電容，或鉭電容及0.1uF陶瓷電容;頻寬限制依SPEC.而定，通常為20MHz。此外，應(yīng)避免示波器探頭本身干擾所產(chǎn)生的雜訊。

測(cè)試方法：按測(cè)試回路接好各測(cè)試儀器、設(shè)備、待測(cè)品，測(cè)試電源在各種LINE和LOAD，及溫度條件下的紋波和噪聲情況。

下圖是一個(gè)典型的輸出紋波和噪聲，其中A：紋波和噪聲 B：紋波 C：噪聲

開關(guān)電源紋波噪聲測(cè)試

開關(guān)電源紋波測(cè)試

電源模塊測(cè)試系統(tǒng)助力紋波噪聲測(cè)試

1. 封裝各類儀器指令，只需要拖拽指令便可以完成工步流程搭建，搭建速度快。

2. 兼容性強(qiáng)，除了可以測(cè)試電源紋波、噪聲，其它電源指標(biāo)均可測(cè)試。該系統(tǒng)還兼容2000+測(cè)試儀器型號(hào)，每個(gè)儀器型號(hào)都有對(duì)應(yīng)的封裝指令。

3. 該系統(tǒng)可程控，并且支持RS232、LAN、USB、GPIB等程控接口。互聯(lián)網(wǎng)和局域網(wǎng)都可以，隨時(shí)隨地測(cè)試，移動(dòng)端隨時(shí)監(jiān)控測(cè)試數(shù)據(jù)。

4. 批量測(cè)試，且支持多工位擴(kuò)展，極大提高測(cè)試速度。

5. 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，自動(dòng)采集、匯總測(cè)試數(shù)據(jù)，并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度、多層級(jí)分析，并以圖表形式展現(xiàn)，數(shù)據(jù)情況直觀可見。該系統(tǒng)還可生成并導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告，報(bào)告模板多樣，可自由選擇。

審核編輯 黃宇