是德科技的尖端技術(shù)開拓未來發(fā)展之路
科技不斷向前,制造業(yè)需要更好的解決方案來應(yīng)對不斷變化的需求與挑戰(zhàn)。是德科技深知您遇到的困難,并致力于提供尖端的解決方案,與您攜手進(jìn)入汽車行業(yè)PCBA測試技術(shù)創(chuàng)新的前沿。
在此次會議上,我們將推出專門為汽車行業(yè)PCBA測試設(shè)計的系列顛覆性解決方案,有新產(chǎn)品從高達(dá)5760點(diǎn)的兩模組3070 inline S7i,到各種功能測試方案;從揭露數(shù)據(jù)背后秘密的PathWave,到科技前沿的分段邊界掃描方案;從運(yùn)用在超多聯(lián)板超高產(chǎn)能的i7090,到半導(dǎo)體封裝中的隱藏缺陷;是德科技無處不在,時刻關(guān)心著您的產(chǎn)品制造測試。
同時我們也致力于幫助汽車制造商應(yīng)對盈利能力、可擴(kuò)展性和質(zhì)量方面的挑戰(zhàn)。我們的先進(jìn)測試解決方案能確保產(chǎn)品質(zhì)量,降低制造成本,提高效率。我們提供可擴(kuò)展的解決方案以適應(yīng)市場需求和趨勢的變化。通過強(qiáng)調(diào)質(zhì)量控制,滿足高行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。作為合作伙伴,我們提供定制化解決方案,優(yōu)化制造流程,解決新興技術(shù)測試挑戰(zhàn)。
會議時間及地點(diǎn)
·日期:2023年12月15日(周五)
·時間:9am~4:00pm(含午餐)
·地點(diǎn):蘇州中茵皇冠假日酒店/圣托里尼廳 B2樓
·地址:江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)星港街168號
今年的內(nèi)容更加激動人心——我們精心為您準(zhǔn)備了一系列熱門主題:
時間 | 主題 |
09:00~09:30 | 簽到 |
09:30~09:40 | 歡迎致辭 |
09:40~09:50 | 是德科技如影隨形 ----從ICT,F(xiàn)CT到工業(yè)4.0 |
09:50~10:00 | 新一代3070 系列7橫空出世 |
10:00~10:10 | i7090的絕技:超級并行,超大產(chǎn)能 |
10:10~10:20 | 邊界掃描的蛻變:IEEE 1149.1-2013, 1149.6-2015 |
10:20~10:40 | 休息 & Demo展示 |
10:40~11:10 | PathWave的魅力:數(shù)字驅(qū)動智能制造 –汽車電子案例 |
11:10~11:30 | 應(yīng)用模塊化,易擴(kuò)展的測試方案簡化您的電動汽車零件制造測試 |
11:30~11:50 | 面向未來,支持并加速您在自動駕駛領(lǐng)域的產(chǎn)品創(chuàng)新 |
11:50~13:10 | 午餐 |
13:10~13:30 | 半導(dǎo)體封裝中的隱藏缺陷給車規(guī)級芯片帶來致命風(fēng)險 |
13:30~13:50 | 通過是德原廠校準(zhǔn)保證ICT系統(tǒng)測量精度和資產(chǎn)合規(guī) |
13:50~15:40 | 分組實(shí)機(jī)Demo展示&討論交流 |
·ICT在線測試 | |
·大數(shù)據(jù)智能制分析軟件 | |
·汽車電子測試解決方案 | |
·是德科技校驗服務(wù) | |
15:40~16:00 | 答疑與幸運(yùn)抽獎 |
1.大點(diǎn)數(shù)電路板自動化測試方案:
探索先進(jìn)技術(shù)如何在工業(yè)4.0時代重塑您的制造流程。在此背景下,我們的專家將對Keysight i3070自動化系統(tǒng)的強(qiáng)大功能及其在動態(tài)制造行業(yè)中的卓越性能進(jìn)行深入研究。您將深入了解如何利用這一尖端解決方案來提高運(yùn)營效率、提高產(chǎn)品質(zhì)量和加快上市時間。
2. PathWave數(shù)字驅(qū)動智能制造---- 汽車電子案例:
探索PathWave 大數(shù)據(jù)分析軟件的功能,PathWave是一款用于數(shù)據(jù)可視化和分析的強(qiáng)大工具,開放的API,實(shí)時數(shù)據(jù)訪問、輕松的數(shù)據(jù)捕獲和分析的無縫集成。您將通過本主題的真實(shí)案例分享,見證測量數(shù)據(jù)分析如何顯著加快項目的上市時間。
3. 超多聯(lián)板大產(chǎn)能的測試制造方案
新一代Keysight i7090并行測試系統(tǒng)能夠輕松集成功能測試解決方案。提供多種系統(tǒng)選項,讓您可以定制一個完全符合您制造需求的測試系統(tǒng)。專用的儀器架空間和資源接口保證了高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)?a target="_blank">信號完整性和高功率功能測試的安全性。加入我們的技術(shù)會議,親身體驗尖端的i7090!
4. 邊界掃描---- 支持新標(biāo)準(zhǔn)的復(fù)雜電路板測試方案:
新一代Keysight i7090并行測試系統(tǒng)使功能測試解決方案的集成變得簡單。提供多種系統(tǒng)選項,您可以配置適合您制造需求的完美測試系統(tǒng)。專用儀器機(jī)架空間和資源接口確保高速信號傳輸?shù)男盘柾暾?,以及高功率功能測試的安全隔離。加入我們的技術(shù)會議,體驗全新的i7090!
5. 使用符合新標(biāo)準(zhǔn)的x1149 2.1實(shí)現(xiàn)自動化測試最大化:
這里會介紹IEEE x1149.1-2013和x1149.1-2015標(biāo)準(zhǔn)的無限潛力和優(yōu)勢,揭示它們在實(shí)現(xiàn)集成電路全面測試和開創(chuàng)先進(jìn)故障檢測技術(shù)方面的能力。您將了解這些最先進(jìn)的標(biāo)準(zhǔn)促進(jìn)全面集成電路測試和部署先進(jìn)故障檢測技術(shù)的方法
6. 雷達(dá)和激光雷達(dá)的新興技術(shù)及如何擴(kuò)展相關(guān)制造測試:
為客戶提供了對推動高級駕駛輔助系統(tǒng)(ADAS)中雷達(dá)和激光雷達(dá)采用的趨勢的了解,以及在雷達(dá)和激光雷達(dá)模塊中測試這些新技術(shù)所面臨的挑戰(zhàn),以及Keysight解決方案如何幫助您們解決這些挑戰(zhàn)。
7. 半導(dǎo)體中的近短路:關(guān)鍵應(yīng)用里的高風(fēng)險:
探索集成電路Wire Bond缺陷檢測的世界:確保關(guān)鍵任務(wù)可靠性。加入我們,揭開識別集成電路中Wire Bond缺陷的復(fù)雜性。我們的專家將分享這些問題的關(guān)鍵性質(zhì),以及先進(jìn)技術(shù)如何保護(hù)關(guān)鍵任務(wù)應(yīng)用程序。不要錯過這個機(jī)會來增強(qiáng)您對半導(dǎo)體可靠性的理解!
8. 通過是德原廠校準(zhǔn)保證ICT系統(tǒng)測量精度和資產(chǎn)合規(guī):
眾所周知,電子測試儀器需要通過定期校準(zhǔn)來確保精度,ICT也不例外。但并不是所有類型的校準(zhǔn)都能達(dá)到同樣的效果。本專題將與大家一起探討ICT的ASRU校準(zhǔn)與系統(tǒng)校準(zhǔn)的不同,以及為什么推薦做是德科技的原廠系統(tǒng)校準(zhǔn)。同時,隨著中國汽車電子產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展,汽車電子相關(guān)的企業(yè)也有特別的質(zhì)量體系要求,我們也將帶大家了解一下其中對于整個供應(yīng)鏈的企業(yè)所使用的測試資產(chǎn)的合規(guī)要求,以及是德科技如何來確保用戶的ICT資產(chǎn)的質(zhì)量合規(guī)。
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:【12月15日|蘇州】是德科技ICT在線測試及板級功能測試用戶交流會邀您相約
文章出處:【微信號:KeysightGCFM,微信公眾號:是德科技快訊】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
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