硬件測試顧名思義就是對于硬件產(chǎn)品的測試 ,一個好的產(chǎn)品想要正常流通到市場上進行售賣,那售賣前是必須要進行想要的產(chǎn)品測試的,不然就是產(chǎn)品最終順利流通到市場,也會出現(xiàn)各種各樣的問題,比如說常??吹降钠嚹骋恍吞柣蛘吣骋慌蔚漠a(chǎn)品質(zhì)量存在問題,產(chǎn)品設(shè)計不合理而導致大量召回的新聞。
所以硬件測試是對于產(chǎn)品研發(fā)過程中的重要把關(guān),保證最終產(chǎn)品上市是一個相對完美的狀態(tài)。
那這個硬件測試到底是測試個什么東西呢?接下來會分幾期來詳細分析一下硬件測試的相關(guān)知識內(nèi)容。
電氣性能測試
g.晶振頻偏
晶振頻偏對于整個電子主板的影響還是很大的,一旦頻偏嚴重超差,會有很大的可能導致操作整機不上電或者系統(tǒng)無法正常運行,所以對于晶振頻偏的測試是很重要的。
一般晶振分為無源晶振和有源晶振兩種,無源晶振需要電路匹配,單體無法產(chǎn)生起振;有源晶振則是本身就擁有一套包括IC在內(nèi)的一套匹配好的振蕩電路。
對于晶振頻偏的測試需要用到頻率分析儀,頻率計或者專業(yè)的晶振測試儀,在儀器上觀察晶振的頻率,一般一個晶振的產(chǎn)品信息會標明該晶振的中心頻率,而實際測量的晶振頻率與晶振本身中心頻率的差值就是晶振頻偏。
h.電流
對于電流的測試是有很多的,比如說電源電路,一些關(guān)鍵信號的測試點電流等,測試時就需要量測它們上電時的工作電流,如果某些電路的電流值超出正常范圍,則很有可能某些元器件存在問題,所以就導致整個電流值的偏差,一般情況下至少需要兩塊及以上的電路板進行對比確定標準值。
還有包括上電時啟動電流的浪涌電流(inrush current)有多大,尤其是對于會做大功耗機械能的電子產(chǎn)品,比如說加了電機的,就會有比較大的浪涌電流,在電機轉(zhuǎn)動遇阻時,電流以及功耗又會升高到降低,變化會很大。
i.待機功率
大多數(shù)的電子產(chǎn)品都有工作狀態(tài)和待機狀態(tài),而待機狀態(tài)就是一個省電的模式,理論上都是要求沒有太多的功耗的,所以對于待機功率就有一定的要求,如果待機功率過高,就需要思考整個電路板中哪里需要修改,或是電路或是更換某些元器件,軟件上的更改程序也有可能。
對于待機功率的測試也很簡單,使用專門的功率分析儀就可以直接看到整個電路板的輸出功率,它的精度,帶寬,方便性都比較可靠專業(yè),如果預算有限,也可以使用功率計或者功率萬用表。
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