Altium Designer的使用教學(xué)與技巧分享（二）

在硬件行業(yè)中，對于信號的測試往往能直接反映出一個電子元器件的性能好壞，而對于不同速率的信號，所需要的測試標(biāo)準(zhǔn)也是不一樣的。

對于低速信號，它的測試標(biāo)準(zhǔn)就會比較低，比如說測量設(shè)備的帶寬要求，是否需要有源等等都會是非常低的標(biāo)準(zhǔn)，但是對于高速信號，這些條件就會變得非?？量蹋蝗?a href="http://www.ttokpm.com/soft/data/50-103/" target="_blank">測試測量結(jié)果就會出現(xiàn)較大偏差。

其中比較重點的方向就是信號完整性測試，對于信號完整性的測試手段有很多，有從頻域的，時域的角度，也有一些綜合考量的。具體的選擇需要根據(jù)信號的實際情況進(jìn)行判斷選用，做到事半功倍的效果。

下面就來看一下有哪些高速信號完整性測試的手段。

（4）TDR測試

TDR是英文Time Domain Reflectometry的縮寫，中文名時域反射計，是測量傳輸線特性阻抗的，比如單端信號線，差分信號線，連接器線纜等等。

不過TDR測試時是有要求的，就是和實際測量的東西相結(jié)合，比如實際信號線的信號上升沿在100ps，那么輸出脈沖信號的上升沿也要設(shè)置在100ps左右。

TDR測試是有精度的，主要影響因素包括反射，校準(zhǔn)，讀數(shù)選擇等等，其中反射會導(dǎo)致PCB信號線測試值出現(xiàn)嚴(yán)重的偏差。

（5）時序測試

時序測試就是時間順序的測試，通常需要支持多個通道的示波器和多個探頭，利用示波器的觸發(fā)功能測試來抓取某一時刻的波形時序，不過因為有多個探頭，所以操作時需要使用到機(jī)械手臂來做支撐或者多個人協(xié)助來抓取多個波形。

為什么要進(jìn)行時序的原因就是現(xiàn)在的電子產(chǎn)品器件的工作頻率越來越快，時序容限越來越小，所以很可能會產(chǎn)生時序問題，而時序問題又會導(dǎo)致產(chǎn)品不穩(wěn)定，所以高速信號進(jìn)行時序測試也是非常重要的。

做時序測試常常會使用到兩個工具，示波器或者是邏輯分析儀，不過如果有的選擇的話，還是建議直接選擇多通道的示波器效果更好。

（6）頻譜測試

在產(chǎn)品的開發(fā)初期階段，這種測試運(yùn)用的比較少，但是到后期的產(chǎn)品整體系統(tǒng)測試時，很多產(chǎn)品是會進(jìn)行頻譜測試的。

在該測試下，可以直觀的看到某些超標(biāo)的頻點，然后可以根據(jù)頻譜儀來分析板卡上具體哪一部分的頻譜比較高，從而找到超標(biāo)的根源。