AEC-Q100 H版標(biāo)準(zhǔn)學(xué)習(xí)

AEC是Automotive Electronics Council的縮寫，即汽車電子委員會(huì)。上個(gè)世紀(jì)九十年代，克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立。

AEC建立了質(zhì)量控制的標(biāo)準(zhǔn)。AEC的首次發(fā)表為1994發(fā)布了AEC-Q-100，是一份芯片應(yīng)力測(cè)試的認(rèn)證規(guī)范，由于符合AEC規(guī)范的零部件均被上述三家車廠同時(shí)采用，促進(jìn)了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動(dòng)了汽車零件通用性的實(shí)施，使得AEC 標(biāo)準(zhǔn)逐漸成為汽車電子零部件的通用測(cè)試規(guī)范。

經(jīng)過(guò)10 多年的發(fā)展，AEC-Q-100 已經(jīng)成為汽車電子系統(tǒng)的通用標(biāo)準(zhǔn)。在AEC-Q-100 之后又陸續(xù)制定了針對(duì)離散組件的AEC-Q-101 和針對(duì)被動(dòng)組件的AEC-Q-200 等規(guī)范，以及AEC-Q001/Q002/Q003/Q004 等指導(dǎo)性原則。

AEC-Q100 H為2014年發(fā)布，該規(guī)范包含12個(gè)附件、7個(gè)群組共 41試驗(yàn)項(xiàng)目，覆蓋從芯片設(shè)計(jì)到晶圓制造再到封裝等流程依次地進(jìn)行：

A 組-加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)；

B組-加速壽命試驗(yàn)；

C 組-封裝完整性試驗(yàn)；

D 組-芯片晶圓可靠性試驗(yàn)；

E 組-電性能驗(yàn)證試驗(yàn)；

F 組-缺陷篩選試驗(yàn)；

G 組-氣密封裝試驗(yàn) 。 圖1 AEC-Q100 驗(yàn)證流程 那AEC-Q100 H相較于前一版本（2007年5月發(fā)布）有哪些變化呢？

1.關(guān)注汽車應(yīng)用需求評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性

新增1.2.4節(jié)并刪除了AEC-Q100-003《機(jī)器模型 ESD試驗(yàn)》，刪除了 Q100-006《熱電效應(yīng)引起的寄生柵極泄漏電流試驗(yàn)》。

新增附錄7中AEC -Q100與任務(wù)剖面的使用 。該附錄旨在提供相關(guān)產(chǎn)品在指定應(yīng)用場(chǎng)景的適應(yīng)性及特殊要求下的任務(wù)剖面信息。采用此方法可以最終明確產(chǎn)品（規(guī)格書(shū)）范疇與應(yīng)用（使用條件）范疇之間的可靠性邊界。在原文中對(duì)任務(wù)剖面信息做出了完整的解釋，即任務(wù)剖面是指與該場(chǎng)景相關(guān)的熱、電、機(jī)械和其他形式的使用條件下的負(fù)荷信息，例如：壽命評(píng)估服役年限、發(fā)動(dòng)機(jī)工作時(shí)間和里程數(shù)等。并對(duì)評(píng)估任務(wù)剖面的方法做出了具體的解釋。

在附錄7的最后，提供了AEC-Q100應(yīng)力試驗(yàn)條件和持續(xù)程度的基本計(jì)算方法。針對(duì)不同的負(fù)荷類型、使用條件、應(yīng)力試驗(yàn)和應(yīng)力條件，采取不同的加速模型和模型參數(shù)計(jì)算得到試驗(yàn)周期和循環(huán)次數(shù)。并依據(jù)計(jì)算結(jié)果規(guī)定了Q100 的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。

2.強(qiáng)化通用數(shù)據(jù)使用，完成系列規(guī)格產(chǎn)品的檢測(cè)驗(yàn)證

在規(guī)范的第一部分中，了大量的篇幅來(lái)描述通用要求；并在文中使用了強(qiáng)烈推薦這樣的詞語(yǔ)，這說(shuō)明通用數(shù)據(jù)在新版規(guī)范中占據(jù)了重要地位。

通用數(shù)據(jù)的采用可大大地減少了新器件的驗(yàn)證周期，同時(shí)節(jié)約了大量的人力、物力投入，建議一套規(guī)范的通用數(shù)據(jù)原則是十分必要且必須的。在附錄1中詳細(xì)地描述了如何通過(guò)該指導(dǎo)原則，幫助供需雙方使用通用數(shù)據(jù)加速并簡(jiǎn)化鑒定檢驗(yàn)流程，供需雙方可通過(guò)此原則來(lái)使用通用數(shù)據(jù)并達(dá)成共識(shí)的內(nèi)容。

3. 細(xì)化和修訂了試驗(yàn)要求

新版標(biāo)準(zhǔn)修改了溫度等級(jí)和溫度相關(guān)試驗(yàn)的三溫順序， 且不同等級(jí)對(duì)應(yīng)的溫度和測(cè)試次數(shù)不同。在 H 版對(duì)溫度等級(jí)的定義中，刪除了 0~70 ℃的等級(jí)，并且規(guī)定了在器件測(cè)試中與溫度相關(guān)的測(cè)試具有先后順序， 例如：高溫工作壽命實(shí)驗(yàn)在FT測(cè)試定義中的順序?yàn)槭覝?低溫-高溫。

隨著無(wú)鉛工藝水平的提高和對(duì)環(huán)保的日益關(guān)注，新版標(biāo)準(zhǔn)增加了無(wú)鉛器件的測(cè)試項(xiàng)目。此外在附錄 1 中增加了對(duì)產(chǎn)品的定義和內(nèi)容，例如：產(chǎn)品功能、 工作電壓范圍、 溫度范圍和頻率范圍等；修訂了流片工藝和封裝流程等相關(guān)定義和內(nèi)容。

4.加強(qiáng)產(chǎn)品過(guò)程控制要求

封裝完整性試驗(yàn)的接受判據(jù)部分均修訂成 Cpk》1.67， 相較上一版的 1.33更為嚴(yán)格。另外還在附錄中增加了AEC-Q100 應(yīng) 力 試驗(yàn) 條 件和 持 續(xù) 程 度 的基 本計(jì)算方法。研制單位和測(cè)試機(jī)構(gòu)可以通過(guò)選取不同的模型參數(shù)和加速模型來(lái)制定適合自身產(chǎn)品的測(cè)試規(guī)范。