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簡單認(rèn)識JTAG接口

CHANBAEK ? 來源:小白制造局 ? 作者: 俞兒游弋黃浦江 ? 2023-11-14 16:24 ? 次閱讀

JTAG接口至少包括3個輸入端口(TDI、TMS、TCK)和1個輸出端口(TDO),統(tǒng)稱測試訪問端口(TAP)。TRST可選。當(dāng)TAP Controller在上電時不能復(fù)位,則TRST應(yīng)當(dāng)存在。

圖片

縮略語描述功能
TDI測試數(shù)據(jù)輸入所有要輸入到特定寄存器的數(shù)據(jù)都是一位一位串行輸入的。上升沿有效。
TMS測試模式選擇用來控制TAP在不同狀態(tài)之間相互轉(zhuǎn)換;TMS在TCK上升沿有效。
TCK測試時鐘信號一個獨(dú)立的時鐘信號,TAP的所有操作都在這個時鐘下完成。
TDO測試數(shù)據(jù)輸出所有要從特定寄存器輸出的數(shù)據(jù)都是一位一位串行輸出的。下降沿有效。
TRST測試復(fù)位信號可選,該功能可能含在TAP Controller里。

? Test Clock Input (TCK) :TCK為TAP的操作提供了一個獨(dú)立的、基本的時鐘信號,TAP的所有操作都是通過這個時鐘信號來驅(qū)動的。TCK在IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是強(qiáng)制要求的。

? Test Mode Selection Input (TMS):TMS信號用來控制TAP狀態(tài)機(jī)的轉(zhuǎn)換。通過TMS信號,可以控制TAP在不同的狀態(tài)間相互轉(zhuǎn)換。TMS信號在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是強(qiáng)制要求的。

? Test Data Input (TDI) :TDI是數(shù)據(jù)輸入的接口。所有要輸入到特定寄存器的數(shù)據(jù)都是通過TDI接口一位一位串行輸入的(由TCK驅(qū)動)。TDI在IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是強(qiáng)制要求的。

? Test Data Output (TDO):TDO是數(shù)據(jù)輸出的接口。所有要從特定的寄存器中輸出的數(shù)據(jù)都是通過TDO接口一位一位串行輸出的(由TCK驅(qū)動)。TDO在IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是強(qiáng)制要求的。

? Test Reset Input (TRST) :TRST可以用來對TAP Controller進(jìn)行復(fù)位(初始化)。不過這個信號接口在IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是可選的,并不強(qiáng)制要求。因?yàn)橥ㄟ^TMS也可以對TAP Controller進(jìn)行復(fù)位(初始化)。

一個典型的JTAG連接器電路圖如下:

圖片

注:0.100'' = 2.54mm

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