0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

MOS管開(kāi)通過(guò)程的米勒效應(yīng)及應(yīng)對(duì)措施

jf_pJlTbmA9 ? 來(lái)源:Arrow Solution ? 作者:Arrow Solution ? 2023-11-27 17:52 ? 次閱讀

在現(xiàn)在使用的MOS和IGBT開(kāi)關(guān)電源應(yīng)用中,所需要面對(duì)一個(gè)常見(jiàn)的問(wèn)題 — 米勒效應(yīng),本文將主要介紹MOS管在開(kāi)通過(guò)程中米勒效應(yīng)的成因、表現(xiàn)、危害及應(yīng)對(duì)方法。

1. 米勒效應(yīng)的成因

在講這個(gè)之前需要先回顧下MOS的開(kāi)通過(guò)程。

wKgZomVdfpCAJT39AALYaQHH35g271.png

圖一

從t1開(kāi)始時(shí)刻,Vgs開(kāi)始上升的時(shí)候,Vds和Id保持不變,這個(gè)過(guò)程中驅(qū)動(dòng)電流ig為Cgs充電,Vgs上升。一直到t1結(jié)束,Vgs上升到Vg(th),也就是門(mén)極開(kāi)啟電壓時(shí)候。在整個(gè)t1時(shí)間,MOS處于截止區(qū)。

從t2時(shí)刻開(kāi)始,MOS就開(kāi)始導(dǎo)通了,標(biāo)志就是Id開(kāi)始上升。電流從原來(lái)的電感出來(lái)流經(jīng)二極管,現(xiàn)在開(kāi)始要慢慢的向MOS換流。所以MOS的漏極電流Id在逐漸上升,二極管的電流在逐漸減小,但是電流之和始終等于電感電流,在開(kāi)關(guān)開(kāi)通的這個(gè)過(guò)程中可以認(rèn)為電感電流是沒(méi)有變化的。這個(gè)時(shí)間段內(nèi)驅(qū)動(dòng)電流仍然是為Cgs充電。在t2這段時(shí)間里,Id只是在線性上升,到t2結(jié)束時(shí)刻,Id上升到電感電流,換流結(jié)束。在電感電流上升的這個(gè)過(guò)程中Vds會(huì)稍微有一些下降,這是因?yàn)橄陆档膁i/dt在雜散電感上面形成一些壓降,所以側(cè)到的Vds會(huì)有一些下降。從t2開(kāi)始時(shí)刻,MOS進(jìn)入了飽和區(qū)。

在Id上升至最大(t2結(jié)束),即刻就進(jìn)入了米勒平臺(tái)時(shí)期。米勒平臺(tái)就是Vgs在一段時(shí)間幾乎維持不動(dòng)的一個(gè)平臺(tái)。前面說(shuō)了,從t2開(kāi)始時(shí)刻,MOS進(jìn)入了飽和區(qū),在飽和有轉(zhuǎn)移特性:Id=Vgs*Gm。其中Gm是跨導(dǎo)。那么可以看出,只要Id不變Vgs就不變。Id在上升到最大值以后,也就是MOS和二極管換流結(jié)束后,Id就等于電感電流了,而此時(shí)又處于飽和區(qū),所以Vgs就會(huì)維持不變,也就是維持米勒平臺(tái)的電壓。

從t2結(jié)束驅(qū)動(dòng)的電流ig為Cgd充電(從另一個(gè)方向來(lái)說(shuō),可以叫放電),然后Vds就開(kāi)始下降了。由于超級(jí)結(jié)在開(kāi)通伊始的縱向擴(kuò)散,比較小的GD電容,所以Vds一開(kāi)始下降的比較快,縱向擴(kuò)散完成后,變成橫向擴(kuò)散,GD電容變大,所以Vds下降的斜率變緩。那么米勒平臺(tái)什么時(shí)候結(jié)束呢?米勒平臺(tái)要想結(jié)束,必須進(jìn)入線性區(qū),不然繼續(xù)在飽和區(qū)待下去,就會(huì)被和Id“綁”在一起,所以當(dāng)MOS進(jìn)入線性區(qū)之后,米勒平臺(tái)結(jié)束。根據(jù)MOS的特性曲線,在Vds下降到等于此時(shí)的Vgs-Vg(th)這個(gè)值的時(shí)候,MOS進(jìn)入線性區(qū)(t4開(kāi)始時(shí)刻)。此時(shí)Vds的大小會(huì)由Rds*Id決定,驅(qū)動(dòng)電流開(kāi)始繼續(xù)為Cgs和Cgd充電。而Vgs也開(kāi)始恢復(fù)繼續(xù)上升,MOS基本導(dǎo)通。

下面來(lái)詳細(xì)說(shuō)明下米勒平臺(tái)形成的過(guò)程。

wKgZomVdfpKAPCFkAAFRHsIgLGo572.png

圖二

在t2開(kāi)始的時(shí)刻,處在飽和區(qū)的MOS轉(zhuǎn)移特性公式,真實(shí)為Ich=Vgs*Gm,Ich為溝道電流,即上圖中DS之間的電流。于是當(dāng)驅(qū)動(dòng)電流為Cgs充一點(diǎn)電,Vgs增加Δvgs,那么Ich增加Δich,而Ich增加的部分只能由Cds放電提供,(因?yàn)閺碾娐分械膩?lái)的那部分電流已經(jīng)固定),于是Cds放電為Ich提供增加的電流。于是Vds就下降,也就是Vgd會(huì)下降,那么Δigd=Cgd*ΔVgd/Δt,igd就會(huì)增加,然后igs就會(huì)下降,所以Vgs就不能增加,只能這樣動(dòng)態(tài)的維持在米勒平臺(tái)附近??梢钥闯鲞@是一個(gè)負(fù)反饋的過(guò)程。所以Cgd也叫反饋電容。

2. 米勒電容在MOS開(kāi)通過(guò)程中帶來(lái)的問(wèn)題

1. dv/dt 限制

當(dāng)MOS管 DS兩端電壓迅速上升的時(shí),通過(guò)Cgd所產(chǎn)生電流在MOS管GS兩端寄生電阻上產(chǎn)生的壓降大于開(kāi)啟電壓時(shí),會(huì)使MOS打開(kāi)。所以在使用前需要根據(jù)實(shí)際情況計(jì)算相關(guān)參數(shù),以保證在各類工況下都不出來(lái)MOS誤打開(kāi)的情況。這里面又分三種情況:

(1)可以看到通過(guò)Cgs和Cgd兩個(gè)電容分壓可得到GS兩端電壓

wKgaomVdfpOAdfKoAAI5Q9PamlE524.png

圖三

wKgZomVdfpSAMx1BAABbf8yPDCo175.jpg

在低壓應(yīng)用中一般由這個(gè)等式即可判定MOS是否會(huì)存在誤打開(kāi)的動(dòng)作

(2)高壓應(yīng)用中還需要確定MOS的本身dv/dt 極限。這一特性對(duì)應(yīng)于在外部驅(qū)動(dòng)阻抗為零的理想情況下,設(shè)備在不開(kāi)機(jī)的情況下所能承受的最大dv/dt。

wKgaomVdfpiACcMnAADbvqvAA0Q353.jpg

這個(gè)公式所計(jì)算得到的結(jié)果在評(píng)估MOS在特定應(yīng)用中的適應(yīng)性很重要。

(3)實(shí)際應(yīng)用中,還需要考慮驅(qū)動(dòng)的寄生電阻及所外加的驅(qū)動(dòng)電阻。

wKgaomVdfp6AcW2DAADzQ6xc7LA067.jpg

需要注意的是MOS管的開(kāi)啟電壓是一個(gè)與溫度正相關(guān)的參數(shù),在計(jì)算上述公式時(shí)要考慮到開(kāi)啟電壓隨溫度的偏移量。

2. 米勒振蕩

我們知道,MOS管的輸入與輸出是相位相反,恰好180度,也就是等效于一個(gè)反相器,也可以理解為一個(gè)反相工作的運(yùn)放,所以當(dāng)輸入電阻較大時(shí),開(kāi)關(guān)速度比較緩慢,圖二中Cgd這顆積分電容影響不明顯,但是當(dāng)開(kāi)關(guān)速度比較高,而且VDD供電電壓比較高,比如310V下,通過(guò)Cgd的電流比較大,強(qiáng)的積分很容易引起振蕩,這個(gè)振蕩叫米勒振蕩。

如下圖中藍(lán)色線

wKgZomVdfqCAG4ViABAF_K5mKeQ372.png

圖六

因?yàn)镸OS管的反饋引入了電容,當(dāng)這個(gè)電容足夠大,并且前段信號(hào)變化快,后端供電電壓高,三者結(jié)合起來(lái),就會(huì)引起積分過(guò)充振蕩,要想解決解決這個(gè)米勒振蕩,在頻率和電壓不變的情況下,一般可以提高M(jìn)OS管的驅(qū)動(dòng)電阻,減緩開(kāi)關(guān)的邊沿速度,其次比較有效的方式是增加Cgs電容。在條件允許的情況下,可以在Cds之間并上低內(nèi)阻抗沖擊的小電容,或者用RC電路來(lái)做吸收電路。

一般Si MOS的Vgs電壓工作范圍為正負(fù)20V,超過(guò)這個(gè)電壓,柵極容易被擊穿,所以在米勒振蕩嚴(yán)重的場(chǎng)合,需要加限壓的穩(wěn)壓二極管。但更嚴(yán)重的問(wèn)題來(lái)自米勒振蕩容易引起MOS管的二次開(kāi)關(guān)或多次開(kāi)關(guān)引起的MOS損耗加劇,最終可能燒毀。

3. 米勒振蕩的應(yīng)對(duì)

1. 減緩驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度

wKgZomVdfqKAFF_iAAB4dvz-8I8404.png

a. 提高M(jìn)OS管G極的輸入串聯(lián)電阻,一般該電阻阻值在1~100歐姆之間,具體值看MOS管的特性和工作頻率,阻值越大,開(kāi)關(guān)速度越緩。

b. 在MOS管GS之間并聯(lián)瓷片電容,一般容量在1nF~10nF附近,看實(shí)際需求。調(diào)節(jié)電阻電容值,提高電阻和電容,降低充放電時(shí)間,減緩開(kāi)關(guān)的邊沿速度,這個(gè)方式特別適合于硬開(kāi)關(guān)電路,消除硬開(kāi)關(guān)引起的振蕩,但是這兩種措施都會(huì)引起MOS損耗的上升,取值需要結(jié)合實(shí)際電路應(yīng)用。

2. 加強(qiáng)關(guān)閉能力

a. 差異化充放電速度,采用二極管加速放電速度

wKgaomVdfqWANzWWAACVHcHV0XY890.png

b. 當(dāng)?shù)谝环N方案不足時(shí),關(guān)閉時(shí)直接把GS短路

wKgZomVdfqeAb387AAC3NfBG_vk623.png

米勒振蕩還有可能是MOS源極對(duì)地寄生電感偏大,在MOS進(jìn)入開(kāi)啟狀態(tài)從二極管換流至MOS的瞬態(tài)電流在MOS源極對(duì)地的寄生電感上產(chǎn)生一個(gè)壓降,所以在PCB布板的要遵守開(kāi)關(guān)電源布板的基本要求。

文章來(lái)源:Arrow Solution

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 二極管
    +關(guān)注

    關(guān)注

    147

    文章

    9530

    瀏覽量

    165533
  • 電感
    +關(guān)注

    關(guān)注

    53

    文章

    6090

    瀏覽量

    102064
  • MOS
    MOS
    +關(guān)注

    關(guān)注

    31

    文章

    1237

    瀏覽量

    93347
  • GS
    GS
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    15

    瀏覽量

    28054
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    功率MOSFET的開(kāi)通和關(guān)斷過(guò)程原理

    功率MOSFET(金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)作為現(xiàn)代電力電子領(lǐng)域中的核心器件,其開(kāi)通和關(guān)斷過(guò)程原理對(duì)于理解其工作特性、設(shè)計(jì)高效電路以及確保系統(tǒng)穩(wěn)定性至關(guān)重要。以下將對(duì)功率MOSFET的開(kāi)通
    的頭像 發(fā)表于 10-10 09:54 ?429次閱讀

    米勒平臺(tái)造成的對(duì)開(kāi)啟

    MOS的上下橋驅(qū)動(dòng)中,有這種現(xiàn)象。如下圖,一個(gè)管子處在米勒平臺(tái)的時(shí)候,會(huì)給另一個(gè)管子的Vgs電壓充電。我用的這個(gè)管子的閾值電壓最小值是1.4V,這就有可能會(huì)導(dǎo)致上下兩個(gè)直通。這是
    的頭像 發(fā)表于 10-08 17:08 ?163次閱讀
    <b class='flag-5'>米勒</b>平臺(tái)造成的對(duì)<b class='flag-5'>管</b>開(kāi)啟

    MOS的導(dǎo)通特性

    優(yōu)化具有至關(guān)重要的影響。以下將詳細(xì)闡述MOS的導(dǎo)通特性,包括其基本結(jié)構(gòu)、導(dǎo)通條件、導(dǎo)通過(guò)程、寄生電容影響、溫度影響以及應(yīng)用領(lǐng)域等方面。
    的頭像 發(fā)表于 09-14 16:09 ?413次閱讀

    電力場(chǎng)效應(yīng)管的保護(hù)措施

    電力場(chǎng)效應(yīng)管(特別是MOSFET)在電力電子系統(tǒng)中扮演著重要角色,但由于其工作環(huán)境的復(fù)雜性和多樣性,必須采取一系列的保護(hù)措施來(lái)確保其安全、穩(wěn)定地運(yùn)行。以下是對(duì)電力場(chǎng)效應(yīng)管保護(hù)措施的詳細(xì)闡述。
    的頭像 發(fā)表于 09-13 16:25 ?346次閱讀

    淺談放大器的米勒效應(yīng)

    高頻應(yīng)用中。本文將從米勒效應(yīng)的基本原理、產(chǎn)生原因、對(duì)放大器性能的影響、設(shè)計(jì)考慮以及實(shí)際應(yīng)用中的應(yīng)對(duì)策略等方面進(jìn)行詳細(xì)闡述。
    的頭像 發(fā)表于 08-16 17:05 ?1599次閱讀

    mos的原理與特點(diǎn)介紹

    MOS是金屬-氧化物-半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管的簡(jiǎn)稱,是一種廣泛應(yīng)用于集成電路中的微型電子元件。 MOS即MOSFET,中文全稱是金屬-氧化物
    的頭像 發(fā)表于 06-09 11:51 ?960次閱讀
    <b class='flag-5'>mos</b><b class='flag-5'>管</b>的原理與特點(diǎn)介紹

    MOS的導(dǎo)通條件 MOS的導(dǎo)通過(guò)程

    MOS的導(dǎo)通與截止由柵源電壓來(lái)控制,對(duì)于增強(qiáng)型MOS來(lái)說(shuō),N溝道的管子加正向電壓即導(dǎo)通,P溝道的管子則加反向電壓。
    的頭像 發(fā)表于 03-14 15:47 ?5324次閱讀
    <b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>的導(dǎo)通條件 <b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>的導(dǎo)<b class='flag-5'>通過(guò)程</b>

    MOS損壞的原因及解決方案

    MOS在控制器電路中的工作狀態(tài):開(kāi)通過(guò)程(由截止到導(dǎo)通的過(guò)渡過(guò)程)、導(dǎo)通狀態(tài)、關(guān)斷過(guò)程(由導(dǎo)通到截止的過(guò)渡過(guò)程)、截止?fàn)顟B(tài)。
    的頭像 發(fā)表于 02-26 11:40 ?4725次閱讀
    <b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>損壞的原因及解決方案

    IGBT開(kāi)通過(guò)程發(fā)生的過(guò)流、短路故障

    ,在IGBT的開(kāi)通過(guò)程中,有時(shí)會(huì)發(fā)生過(guò)流和短路等故障,這給電力電子系統(tǒng)的正常運(yùn)行帶來(lái)了一定的影響。接下來(lái),我們將詳細(xì)介紹這兩種故障的成因和應(yīng)對(duì)措施。 首先,我們來(lái)分析IGBT的過(guò)流故障。IGBT
    的頭像 發(fā)表于 02-18 11:14 ?1857次閱讀

    米勒效應(yīng)的本質(zhì)是什么?

    ,延長(zhǎng)了開(kāi)通時(shí)間,關(guān)斷也是如此,延長(zhǎng)了關(guān)斷時(shí)間,因此米勒效應(yīng)對(duì)場(chǎng)效應(yīng)管或者IGBT的驅(qū)動(dòng)是有害的,因只要減少或者消除米勒
    發(fā)表于 01-11 16:47

    multisim怎么修改場(chǎng)效應(yīng)管MOS的參數(shù)

    、場(chǎng)效應(yīng)管MOS的基本原理 MOS是一種三端器件,由一個(gè)金屬柵極和兩個(gè)摻雜的硅襯底構(gòu)成。它通過(guò)加在柵極上的電壓控制硅襯底上的n型或p型區(qū)域中形成的溝道中的電流。柵極電壓也可以改變溝道的
    的頭像 發(fā)表于 01-04 11:03 ?8945次閱讀

    什么是MOS?MOS的典型應(yīng)用和電路符號(hào)

    MOS是金屬-氧化物-半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管,英文全稱為Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor。它是一種具有特殊功能的半導(dǎo)體器件,其作用是把
    的頭像 發(fā)表于 01-02 18:18 ?6865次閱讀
    什么是<b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>?<b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>的典型應(yīng)用和電路符號(hào)

    n溝道mos和p溝道mos詳解

    場(chǎng)效應(yīng)晶體管(Field Effect Transistor,F(xiàn)ET)是一種利用電場(chǎng)效應(yīng)來(lái)控制電流的半導(dǎo)體器件。根據(jù)導(dǎo)電溝道的類型,場(chǎng)效應(yīng)晶體管可以分為n溝道和p溝道兩種類型。本文將對(duì)n溝道M
    的頭像 發(fā)表于 12-28 15:28 ?1.9w次閱讀
    n溝道<b class='flag-5'>mos</b><b class='flag-5'>管</b>和p溝道<b class='flag-5'>mos</b><b class='flag-5'>管</b>詳解

    影響mos壽命的因素

    MOS(金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)作為一種常見(jiàn)的電子元件,其壽命的長(zhǎng)短對(duì)于電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性都有著重要的影響。而影響MOS壽命的
    的頭像 發(fā)表于 12-22 11:43 ?1706次閱讀

    MOS和場(chǎng)效應(yīng)管有什么關(guān)系?

    MOS和場(chǎng)效應(yīng)管有什么關(guān)系?對(duì)于初學(xué)者來(lái)說(shuō),這兩個(gè)名字常常讓人混淆,MOS管到底是不是場(chǎng)效應(yīng)管
    的頭像 發(fā)表于 11-13 17:23 ?1658次閱讀
    <b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>和場(chǎng)<b class='flag-5'>效應(yīng)</b>管有什么關(guān)系?