武漢芯源半導(dǎo)體首款車規(guī)級MCU通過AEC-Q100測試考核

近日，武漢芯源半導(dǎo)體正式發(fā)布基于Cortex-M0+內(nèi)核的CW32A030C8T7車規(guī)級MCU，這是武漢芯源半導(dǎo)體首款通過AEC-Q100 (Grade 2)車規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的主流通用型車規(guī)MCU產(chǎn)品。

CW32A030C8T7通過AEC-Q100車規(guī)可靠性測試

作為武漢芯源半導(dǎo)體首款車規(guī)級MCU產(chǎn)品，CW32A030C8T7產(chǎn)品順利通過AEC-Q100（Grade2）車規(guī)級可靠性測試，符合車用電子高可靠性和穩(wěn)定性要求，可用于環(huán)境溫度范圍-40°C~105°C的大部分車載應(yīng)用環(huán)境。

武漢芯源半導(dǎo)體始終將安全可靠性要求放在非常重要的位置，遵循AEC-Q100測試標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行了包括高溫工作壽命試驗(yàn)(HTOL)、早期失效率試驗(yàn)(ELFR)、靜電放電人體模型(HBM)、靜電放電充電裝置模型(CDM)、高溫門領(lǐng)試驗(yàn)(LU-HT)、電磁兼容試驗(yàn)(EMC)等19項(xiàng)測試。同時(shí)加強(qiáng)產(chǎn)品質(zhì)量管控，將質(zhì)量管理滲透到產(chǎn)品的研發(fā)、制造、銷售、技術(shù)服務(wù)等各個(gè)方面，確保產(chǎn)品高可靠度。

圖源丨芯源半導(dǎo)體

CW32A030C8T7車規(guī)MCU產(chǎn)品性能優(yōu)勢特性

1、高性能架構(gòu)設(shè)計(jì)

CW32A030C8T7是基于ARM Cortex-M0+內(nèi)核，采用Prefetch+Cache架構(gòu)，以64MHz為量產(chǎn)測試保證，芯片配置64K字節(jié)FLASH，8K 字節(jié)RAM，128字節(jié)OTP存儲器。芯片采用1.65~5.5V寬電壓供電，工作溫度范圍-40~+105℃。

圖源丨芯源半導(dǎo)體

2、豐富的外設(shè)接口

為實(shí)現(xiàn)多樣化的車身控制和互聯(lián)應(yīng)用，CW32A030C8T7集成了多種通信接口增強(qiáng)連接能力。

-支持多達(dá)三路低功耗UART、兩路I2C、兩路SPI接口；

-16位高級控制定時(shí)器、4組16位通用定時(shí)器，3組16位基本定時(shí)器；

-12位高精度ADC，采樣速率可達(dá)1M SPS。

3、加密安全防護(hù)

增加多級程序加密安全防護(hù)，妥善保護(hù)客戶知識產(chǎn)權(quán)。

4、超強(qiáng)抗干擾能力

HBM ESD、MM ESD、CDM ESD、Latch up@105℃全面達(dá)到JEDEC高等級。

圖源丨芯源半導(dǎo)體

全面、高效的開發(fā)配套支持

CW32A030C8T7車規(guī)MCU配套提供樣品和開發(fā)板，兼容Keil/IAR/GCC等多種主流集成開發(fā)環(huán)境(IDE)，并提供CW-DAPLINK調(diào)試工具和CW-Writer高效率量產(chǎn)工具。開發(fā)套件軟件源碼、硬件參考設(shè)計(jì)、應(yīng)用筆記等技術(shù)文檔配套齊全，已在官網(wǎng)開放下載。武漢芯源半導(dǎo)體提供線上公眾號（武漢芯源半導(dǎo)體、CW32生態(tài)社區(qū)）、芯源CW32 MCU技術(shù)論壇等多個(gè)渠道的技術(shù)交流與支持服務(wù)。

廣泛的車身應(yīng)用，豐富汽車電子智能體驗(yàn)

CW32A030C8T7車規(guī)MCU遵循車規(guī)級設(shè)計(jì)理念和生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，兼具通用高性能、硬件高安全性和車規(guī)級高可靠性等優(yōu)勢特性，滿足車規(guī)級產(chǎn)品對惡劣工作環(huán)境的適應(yīng)性要求，幫助客戶加速方案開發(fā)、縮短產(chǎn)品量產(chǎn)時(shí)程?？蓱?yīng)用于車身控制、車用照明、智能座艙、輔助駕駛及電機(jī)電源等多種電氣化車用場景，為汽車電子領(lǐng)域帶來更豐富的智能體驗(yàn)。

武漢芯源半導(dǎo)體正式進(jìn)入車規(guī)MCU市場

AEC-Q100測試考核是汽車電子委員會(Automotive Electronics Council)制定的規(guī)范，主要針對車載應(yīng)用的芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠性確認(rèn)，以提高車載電子的穩(wěn)定性和標(biāo)準(zhǔn)化。

由于車規(guī)級芯片在可靠性、安全性、使用壽命方面的要求高于消費(fèi)級、工業(yè)級芯片，AEC-Q100測試考核門檻高、測試項(xiàng)目覆蓋廣、標(biāo)準(zhǔn)極為嚴(yán)苛，是芯片產(chǎn)品進(jìn)入汽車領(lǐng)域的重要通行證之一。

CW32A030C8T7車規(guī)MCU能通過AEC-Q100較長周期下嚴(yán)格的可靠性測試和評估，代表該產(chǎn)品能夠在惡劣的汽車環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行，可確保汽車的安全性和可靠性，能夠獲得汽車制造商的認(rèn)可。

審核編輯：劉清