發(fā)聲晶體管測試儀電路原理圖

測試儀的操作特性：最少的控制和電流消耗

該測試儀無需任何用戶操作的控件即可運(yùn)行，僅在揚(yáng)聲器激活時(shí)才汲取電流。它由三個(gè)振蕩器組成，每個(gè)振蕩器都包含一個(gè)永久安裝的晶體管和被測晶體管 (TOT)。這些振蕩器通過緩沖或門共同驅(qū)動(dòng)共享揚(yáng)聲器。每個(gè)振蕩器的頻率取決于相應(yīng) RC 網(wǎng)絡(luò)（R5C2、R11C4 或 R15C5）的時(shí)間常數(shù)以及 TOT 的電流放大倍數(shù)。雖然 npn 部分幾乎相同，但電源線卻相反。

區(qū)分緩沖級：確保正確的揚(yáng)聲器連接

緩沖級表現(xiàn)出輕微的變化，以保證揚(yáng)聲器的正確連接。設(shè)計(jì)用于測試 n 溝道 FET 的級基本上源自 npn 級的設(shè)計(jì)。在操作期間，柵極必須保持相對于源極的負(fù)極性。高增益類型對于晶體管 T1、T3 和 Tc 至關(guān)重要，以防止低 f3 的 TOT 被錯(cuò)誤地識(shí)別為無功能。

安全晶體管測試：測試儀設(shè)計(jì)和引腳排列變化

該測試儀經(jīng)過專門設(shè)計(jì)，可促進(jìn)未知晶體管的安全測試，而不會(huì)造成損壞。雙極晶體管的引腳排列可能為 EBC 或 BCE。為了適應(yīng)這種變化，建議使用帶有端子 EBCE 甚至 CEBCE（適用于 npn 和 pnp）的測試引線。待檢查的晶體管連接到不同的端子，直到揚(yáng)聲器激活。這不僅可以識(shí)別引腳排列，還可以識(shí)別 TOT 是 npn 還是 pnp 類型。發(fā)出的音調(diào)的頻率可以作為發(fā)射器和收集器之間正確連接的指示器。不正確的連接會(huì)導(dǎo)致電流增益較低和振蕩器頻率較高，這可以通過互換兩個(gè)連接來糾正。

n 溝道 FET 的對稱性挑戰(zhàn)：連接源極和漏極

n 溝道 FET 的對稱性給區(qū)分源極和漏極帶來了挑戰(zhàn)。當(dāng)揚(yáng)聲器啟動(dòng)時(shí)，表明柵極連接正確，但無法區(qū)分源極和漏極。測試引線具有靈活性，可端接到鱷魚夾或快速釋放的彈簧端子上。