RF模組使用者在使RF模組進(jìn)入Sleep后測試電流時有時會發(fā)現(xiàn)模組的功耗和規(guī)格書的Sleep狀態(tài)電流值對應(yīng)不上。這種情況都是讓RF模組進(jìn)入Sleep后,MUC和RF模組鏈接的IO的狀態(tài)配置不正確造成的。
那么如何解決呢?本文將對RF模組在Sleep狀態(tài)下如何做到最低功耗進(jìn)行說明。
RF模組sleep時RF模組的IO狀態(tài)
先要獲知RF模組Sleep時,RF模組的IO的狀態(tài)。該信息可從模組規(guī)格書,模組主芯片手冊或者模組主芯片廠家處獲取。下面以SX126X和LLCC68系列模組為例進(jìn)行說明。
SX126X和LLCC68系列模組主芯片在各個狀態(tài)下的各個IO的狀態(tài)如下圖所示:
我們主要關(guān)注Sleep狀態(tài)下的各個IO的狀態(tài),并進(jìn)行如下分類:
1
HIZ PD(高阻態(tài)下拉):包含IO有 DIO3、DIO2、DIO1
模組的這類IO在sleep時MCU的IO配置為輸入下拉即可。
2
HIZ PU(高阻態(tài)上拉):包含IO有 BUSY
模組的這類IO在sleep時MCU的IO配置為輸入上拉即可。
3
HIZ(高阻態(tài)無上拉和下拉):包含IO有 MISO、MOSI、SCK
這類IO當(dāng)模組為Sleep時建議配置MCU的IO為下拉輸入(對應(yīng)MISO)或輸出低(對應(yīng)MOSI、SCK)或 模擬輸入
注意:模組的這類IO對應(yīng)的MCU的IOsleep如果配置為浮空輸入狀態(tài),可能出現(xiàn)MCU內(nèi)部IO的施密特觸發(fā)器在由外部噪聲引起的邏輯電平之間隨機(jī)切換。這增加了總體消耗。這種現(xiàn)象是隨機(jī)的,可能和溫度、PCB走線等都有關(guān)系。
4
IN(輸入無上拉和下拉):包含IO有 NSS
模組的這類IO在sleep時MCU的IO配置為輸出高電平即可。
5
IN PU(輸入上拉):包含IO有 NRESET
模組的這類IO在sleep時MCU的IO配置為輸出高電平即可。
6
模組上有但是主芯片上沒有的CTL1和CTL2
這兩個IO時模組上的高頻開關(guān)上的控制引腳,模組sleep時,請把MUC對應(yīng)的這兩個IO都輸出低電平。
結(jié)論
1、實際應(yīng)用中如果模組的DIO3、DIO2、DIO1 這類IO在sleep時MCU的IO配置為輸入上拉則有可能增加sleep功耗。
2、實際應(yīng)用中如果模組的BUSY 這類IO在sleep時MCU的IO配置為輸入下拉則有可能增加sleep功耗。
3、實際應(yīng)用中如果模組的MISO、MOSI、SCK這類IO在sleep時MCU的IO配置為浮空輸入則有可能增加sleep功耗。
4、實際應(yīng)用中如果模組的NRESET只在模組復(fù)位時有電平變化,在模組進(jìn)出sleep過程中都不要進(jìn)行電平操作。
5、實際應(yīng)用中如果模組的CTL1和CTL2如果不輸出低,則高頻開關(guān)未關(guān)閉,則會增加sleep功耗。
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