SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析

在鉆孔過程中鉆頭會發(fā)生磨損，評估和量化磨損的狀況至關重要，因為鉆頭的狀態(tài)會直接影響加工孔的質量。如何簡單、快速的獲取鉆頭的磨損狀態(tài)？如何精準的定量分析鉆頭的磨損狀態(tài)？蔡司三本精密儀器可以通過同時提供數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。

圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；

圖a、c使用的是蔡司數(shù)字顯微鏡Smartzoom5，圖b、d使用是蔡司EVO掃描電子顯微鏡。

除此之外量化切削刃的磨損狀態(tài)也至關重要。

上圖a是使用蔡司掃描電子顯微鏡（EVO）觀測無涂層鉆頭切削刃的狀態(tài)，圖b是鉆20個孔之后的狀態(tài)。

上圖a是DLC涂層的切削刃未使用的狀態(tài)，圖b在是鉆2000個孔后的狀態(tài)。

SEM掃描電子顯微鏡的五軸電動馬達臺可以方便的移動樣品以便觀察樣品的各個部位，同時獲取高分辨大景深的圖像。