OLI測試范圍升級(jí)至-100dB

今天小編來跟大家探討下我司推出的OLI 光纖微裂紋檢測儀。首先理解下OLI的原理，OLI其原理基于白光干涉，可以簡單理解為，設(shè)備出光光源為白光，該光源分為兩路，一路在設(shè)備內(nèi)部作為參考光，一路進(jìn)入待測器件作為信號(hào)光，參考光和信號(hào)光在相同光程的地方會(huì)發(fā)生干涉，且誤差在百微米內(nèi)，這也意味著OLI有著超高的定位精度。OLI讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能。

小編想跟大家聊的重點(diǎn)是OLI測試范圍升級(jí)至-100dB，意味著OLI能探測到光鏈路中任何高于-100dB的光學(xué)信號(hào)，且能對(duì)該位置進(jìn)行精確定位。小編給大家舉幾個(gè)例子，直觀感受-100dB的概念。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，APC接頭回?fù)p值≥-60dB，PC、UPC接頭回?fù)p值≥-50dB；實(shí)際測試中APC接頭法蘭對(duì)接回?fù)p值≥-70dB；光纖和芯片耦合完好回?fù)p值≥-70dB。

圖1. 實(shí)測示意圖

以下是OLI在-100dB測試范圍下檢測多通道FA端面，OLI外接8通道光開關(guān)，開啟多通道測試功能。

圖2. 多通道FA

圖3.8通道測試結(jié)果

OLI應(yīng)用場景

光纖微裂紋檢測

光器件、光模塊測量

硅光芯片測量

PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測

FA光纖陣列鏈路性能檢測

目前，昊衡科技已完成新一代OLI儀器開發(fā)，參數(shù)性能進(jìn)一步提升，儀器測量長度已升級(jí)為1m，回?fù)p測量范圍可低至-100dB，歡迎廣大行業(yè)客戶來電咨詢測試。