優(yōu)可測帶您走進高精度測量的世界

優(yōu)可測于12月6日，參加了國際電子電路（深圳）HKPCA展覽會；12月13日，參展廈門國際光電博覽會；接著12月16日，參加第三屆中國·福州光電產(chǎn)業(yè)論壇。在展會現(xiàn)場，優(yōu)可測展出多款代表性的精密儀器以及傳感器產(chǎn)品，現(xiàn)場如火如荼，觀眾熱情高漲。下面就讓小優(yōu)博士帶您領略優(yōu)可測精密儀器及傳感器的風采吧！

參展產(chǎn)品優(yōu)可測展出眾多高精密測量儀器以及傳感器：封裝基板3D自動檢測設備EP系列、白光干涉儀AM系列、一鍵式影像測量儀FM系列、3D線激光位移傳感器AR系列、光譜共焦位移傳感器AP系列、薄膜厚度測量儀AF系列和Mapping系列等等，可滿足電子電路和光電行業(yè)的研發(fā)、生產(chǎn)和品控中的多場景的測量需求，如表面粗糙度、3D輪廓、臺階、高度、厚度、平整度、翹曲、平面尺寸等等。參展產(chǎn)品

封裝基板3D自動檢測設備EP系列

白光干涉儀AM系列

一鍵式影像測量儀FM系列

3D線激光傳感器AR系列

光譜共焦位移傳感器AP系列

薄膜厚度測量儀AF系列

薄膜厚度測量儀AF Mapping系列

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展會現(xiàn)場優(yōu)可測十分重視每個展會，充分準備展會的各項工作，布置精美的展臺，展出最具代表性的儀器，致力將新技術、新產(chǎn)品應用受益于更多行業(yè)、更多領域。

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現(xiàn)場部分展品

白光干涉儀AM系列、一鍵式影像測量儀FM系列

白光干涉儀AM系列

光譜共焦位移傳感器AP系列

3D線激光傳感器AR系列

薄膜厚度測量儀AF Mapping系列

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展會現(xiàn)場

銷售工程師為觀眾現(xiàn)場演示儀器及傳感器產(chǎn)品。

來自各行業(yè)的觀眾在優(yōu)可測展臺參觀，各抒己見。銷售工程師為觀眾詳細介紹產(chǎn)品，并展示相應的測量應用案例。講解過后許多觀眾留下了聯(lián)系方式，有意愿對優(yōu)可測產(chǎn)品做更深一步的了解。

行業(yè)案例十二月展會主要圍繞電子電路和光電行業(yè)，優(yōu)可測高精測量儀器及傳感器設備適用于PCB行業(yè)的上、中、下游各個階段，滿足光電產(chǎn)業(yè)中各種產(chǎn)品的測量需求。以下是部分優(yōu)可測產(chǎn)品應用案例：【封裝基板3D自動檢測設備EP系列】測量PCB板的線寬、盲孔、綠油厚度PAD檢測等：

蝕刻后線寬

盲孔

綠油厚度

PAD檢測

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【白光干涉儀AM-7000系列】測量微透鏡矩陣的表面粗糙度、曲率半徑、面形等：

微透鏡矩陣表面粗糙度、曲率半徑、面形PV值

【3D線激光測量儀AR-7000系列】測量PCB板平面度、線路高度等：

PCB板平面度測量

PCB板線路高度測量

【光譜共焦位移傳感器AP-5000系列】測量覆銅板厚度：

【薄膜厚度測量儀AF-3000系列】測量涂層、薄膜厚度：