高視半導(dǎo)體納米級(jí)圖形晶圓缺陷檢測(cè)量產(chǎn)設(shè)備出口馬來(lái)西亞客戶

據(jù)第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)戰(zhàn)略聯(lián)盟透露，從2024年元旦開始，蘇州高視半導(dǎo)體生產(chǎn)的納米級(jí)圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備已成功打入馬來(lái)西亞頭部客戶市場(chǎng)。

該公司專注于半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備研發(fā)制造，其旗下全資子公司——蘇州高視半導(dǎo)體技術(shù)有限公司成立于2015年，主營(yíng)AI工業(yè)視覺整體解決方案業(yè)務(wù)，覆蓋半導(dǎo)體、屏幕和新能源行業(yè)檢測(cè)。該分司以機(jī)器視覺和人工智能技術(shù)為驅(qū)動(dòng)，廣泛服務(wù)于半導(dǎo)體晶圓制程各個(gè)環(huán)節(jié)，主要為業(yè)界提供檢測(cè)設(shè)備和解決方案。其主要產(chǎn)品囊括無(wú)圖形晶圓檢測(cè)、圖形晶圓驗(yàn)收檢測(cè)、2D&3D關(guān)鍵尺寸測(cè)量、缺陷精準(zhǔn)分類以及工藝過(guò)程及質(zhì)量管理系統(tǒng)，致力于為半導(dǎo)體晶圓制程提供有效的數(shù)據(jù)分析與工藝指導(dǎo)。

據(jù)悉，成功出口至馬來(lái)西亞的是高視半導(dǎo)體的典型2D&3DAOI檢測(cè)設(shè)備——ExplorerF系列。這款設(shè)備適用于晶圓外觀缺陷檢查&3D凸點(diǎn)測(cè)量、關(guān)鍵尺寸CD測(cè)量，并可根據(jù)需求選配晶圓背面和邊緣檢測(cè)功能。此款設(shè)備定位于6/8/12英寸先進(jìn)封裝IQC、ADI、AEI、OQA等流程檢測(cè)，一應(yīng)俱全地支持FOUP、SMIF、CASSET料盒上料方式。